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电子探针/X射线微区分析仪

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电子探针/X射线微区分析仪

电子探针/X射线微区分析仪概述

电子探针/X射线微区分析仪是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针/X射线微区分析仪可以对试样中微小区域(微米级)的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描(得到层成分分布信息)、面扫描分析(得到成分面分布图像)。还能全自动进行批量定量分析。由于电子探针技术具有操作迅速简便(相对复杂的化学分析方法而言)、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点,故在冶金、地质、电子材料、生物、医学、考古以及其它领域中得到日益广泛地应用,是矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。
多维气相色谱系统MDGC/GCMS系列

多维气相色谱系统MDGC/GCMS系列

品牌:日本岛津-GL
型号:MDGC/GCMS系列
CAMECA 场发射电子探针 SXFiveFE

CAMECA 场发射电子探针 SXFiveFE

品牌:Cameca
型号:SXFiveFE
日立EA8000锂离子电池燃料电池用X射线异物分析仪

日立EA8000锂离子电池燃料电池用X射线异物分析仪

品牌:日本日立
型号:EA-Hybrid
台式小分子单晶X射线分析仪

台式小分子单晶X射线分析仪

品牌:日本理学
型号:XtaLABmini
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电子探针/X射线微区分析仪解决方案

电子探针/X射线微区分析仪产品列表
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多维气相色谱系统MDGC/GCMS系列

多维气相色谱系统MDGC/GCMS系列

  • 品牌: 日本岛津-GL
  • 型号: MDGC/GCMS系列
  • 产地:日本
  • MDGC/GCMS-2010采用全新设计的Multi-Deans Switching切割技术,能够实现常规单柱分析难以达到的高分析性能,同时具有优异的重现性。适用于复杂基质中特定成分的分析,如石油产品、香味分析和光学异构体的分析等。具有操作直观、维护简便的特点。

日立EA8000锂离子电池燃料电池用X射线异物分析仪

日立EA8000锂离子电池燃料电池用X射线异物分析仪

  • 品牌: 日立
  • 型号: EA-Hybrid
  • 产地:日本
  • 【EA-Hybrid的主要特征】1.  可在几分钟内对250×200mm大小的样品检测出20μm大小的金属异物例如要检测250×200mm(约B5尺寸)大小的电池电极板中20μm大小的金属异物,以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。SIINT通过新型X射线透视方法的开发,成功缩短了时间。检测速度成功达到了以往的100倍以上,可在3~10分钟内完成。2.电极板的微小金属异物也可进行元素分析 对样品中检测出的金属异物可自动使用X射线荧光法进行元素分析。以往,对于电极板中可能存在的20μm左右的微小金属异物,只能分析存在于样品表面的异物。这是由于存在于内部时,异物产生的X射线荧光被基材所吸收,信号强度非常微弱。「EA-Hybrid」采用独自研发的高能量X射线光学系统,可对电极・有机薄膜内部所含的20μm大小的微小金属异物进行元素分析。3. 一体化的操作,提高作业效率与以往的技术相比,金属异物的检测速度、元素分析速度大幅提高,并且把显微镜等都组合在一台仪器内,各个系统联动可全自动输出测量结果。因此,操作人员只需放置好样品,即可获得测量结果,大大提升了作业效率。【EA-Hybrid的主要规格】被测样品尺寸宽250×深200mm异物检测时间3~10分钟左右(250×200mm全面摄像、20μm大小异物的检测时间)异物元素分析时间1~4分钟左右 每检测出1个(根据异物尺寸及元素的不同,有时会发生变化)装置X射线发生系统冷却用水仪器自身尺寸1340(宽)×1000(深)×1550(高)mm

日本电子 JXA-8230电子探针显微分析仪

日本电子 JXA-8230电子探针显微分析仪

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JXA-8230
  • 产地:日本
  • 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。EPMA快速启动点击任何一点,就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。用户菜单(User recipes)能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件,菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。EDS 的性能数字化脉冲处理器全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)无风扇SDD (选配)产品规格检测元素范围 WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~UX射线检测范围 WDS检测的波长范围: 0.087~9.3nm,EDS EDS检测的能量范围: 20keV分光谱仪数量 WDS: 1~5道可选、EDS: 1台最大样品尺寸 100mm × 100mm × 50mm(H)加速电压 0.2~30kV(以0.1 kV为步长)束流电流范围 10-12 ~ 10-5 A束流电流稳定度 5%/h, ±0.3%/12h(W)二次电子分辨率 6nm(W), 5nm(LaB6)*2(W.D. 11mm, 30kV)扫描倍率 ×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)扫描图像分辨率 最大 5,120× 3,840彩色显示器 EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024*1: 需安装用于Be分析的选配分光晶体。*2: LaB6 为选配。

DECTRIS多能、双能混合像素光子计数X射线探测器SANTIS 0804

DECTRIS多能、双能混合像素光子计数X射线探测器SANTIS 0804

  • 品牌: 瑞士Dectris
  • 型号: SANTIS 0804
  • 产地:瑞士
  • SANTIS 0804是由DECTRIS设计和制造的混合光子计数(HPC)探测器。无暗电流、无噪声,单光子计数技术和解析X射线能量的能力触发了无与伦比的成像性能。相比传统的探测器,SANTS 0804在低能量和高帧速率的双重模式下提供更优秀的图像质量,同时,双能量和多能量成像可以在一次拍摄中完成。一次X射线获取,可记录两种-四种不同能量的X射线吸收剂量,利用不同材料、或组织及骨骼的吸收剂量的不同的特点,可以从图像中把它们区分出来。 SANTIS 0804有两种配置:高分辨率(HR)和多能量(ME)模式,两种模式均能够提供高帧速率运行。

台式小分子单晶X射线分析仪

台式小分子单晶X射线分析仪

  • 品牌: 日本理学
  • 型号: XtaLABmini
  • 产地:日本
  • 技术参数: 1. X射线发生器:Mo靶,高频技术,600W 2. 光学系统:SHINE 3. χ:固定在54 4. Φ :-360,沿样品中心轴自由旋转 5. ω :2θ±90 (-60~120 ) 6. 2θ:固定30 7. 70倍CCD摄像头观察样品 8. 照相距离:50mm 9. 探测器:CCD 10. 探测面积:Φ75mm 11. 像素尺寸:73.2μm/146.4μm 12. 像素点数:1024x1024/512x512 13. 读取时间:2.24sec/0.56sec 14. 暗电流:0.1electorns/pixel/sec 15. 选件,可以提供低温装置主要特点: XtaLABmini是专门为晶体学家、课题组开发的仪器。实现小型化,充分发辉理学的技术优势,是世界上最小的单晶衍射装置。自动测试、自动分析。即使没有相关经验,也可以使用本仪器实现自动快速收集数据及分析工作。数据符合Acta投稿要求。使用新型CCD探测器,读取数据时间大幅度降低,通常2~3小时可以完成晶体的数据采集。有极高的性能价格比,保养简便,使用成本低。

CAMECA 场发射电子探针 SXFiveFE

CAMECA 场发射电子探针 SXFiveFE

  • 品牌: 法国Cameca
  • 型号: SXFiveFE
  • 产地:法国
  • 供应商:法国cameca公司

    Cameca EPMA历史悠久 电子探针微区分析(EPMA)的历史和CAMECA紧紧相连。作为在1950年代开创此技术的先驱,CAMECA公司研发、推广并支持了若干代EPMA仪器。今天,全世界有超过700台CAMECA的电子探针在运行,在地球化学、矿物学、地质年代学、物理及核冶金、材料科学(包括水泥、玻璃、陶瓷、超导体)、生物化学、微电子学等领域实现高精度的定性与定量化学微区分析。 超级的分析性能 通过提供更高、更稳定的束电流,以及比其他现有仪器(如SEM-EDS)更好的信号峰背景比,基于WDS的CAMECA电子探针是唯一实现主量和痕量元素精确定量分析的仪器。 现在,场发射源的引入,优化了低电压和高电流,在微区定量分析中,可实现最小的激活体积和尽可能高的空间分辨率。 拥有场发射源的超级分析平台 SXFive和SXFiveFE的新特色 场发射源或W/LaB6源 新电子光学系统提供了更高的分辨率 优化的真空系统提供更优的检出能力,对于轻元素有重要意义 环形的法拉第杯带来增强的可靠性 自动化程度更高,更大产率 从W/LaB6源升级为场发射源可在现场完成 SXFive和SXFiveFE带来了CAMECA早期的电子探针显微分析仪所有优势,同时提供了独一无二的场发射电子束和CAMECA业界领先的高灵敏度和高分辨率的谱仪的结合。这种独一无二的组合代表了在微区分析上的重大突破。 这些特色,以及可靠性的改善,和重新设计的电子束,集大成于一个多功能显微分析仪,可提供无与伦比的显微定量和超高空间分辨率的X射线成像能力。 满足您需求的两种仪器配置: SXFive 配置多功能W/LaB6源 SXFive配置有多功能电子枪,可使用高功率(最高30KV)的钨灯丝或一个LaB6阴极可得到更好的横向分辨率。归功于电子枪中高达10-6Pa的真空度,这款仪器可以在W和LaB6灯丝之间在数小时内方便快捷地进行切换。 在10kv,100nA的实验条件下,使用SXFive的LaB6阴极,可得到0.5um的分析分辨率,使在微小的区域内测量含量小于0.01%的痕量元素成为可能,并能得到良好的统计精度。 SXFive可升级为SXFive FE SXFive FE 配置场发射源 对于要求超高分辨率的应用,CAMECA开发了场发射源: 提高了横向分辨率 对于痕量元素的分析应用,保持高电流。 归功于其场发射源,SXFive FE在中等加速电压下允许使用小尺寸探头,从而保证高横向分辨率。在10KV,100nA条件下,可获得150nm直径的电子束,确保高质量的微量和痕量元素分析。和常规EPMA一样,高能量和高束电流也可被选择,用于进行定量分析。 最好的WDS 波长色散光谱被认为是高精度定量分析的方法,基于CAMECA的独特设计,SXFive和SXFiveFE的谱仪具有业内最高的分辨率,因此具有高信号峰背景比,从而提供了高灵敏度。绝对的谱峰位置由依附于系统的光学编码器提供,只需要单峰便可对整个谱仪范围进行校准。 根据应用的不同,最多可装5个WDS谱仪(另加一个EDS谱仪)可配置在仪器上。所有的谱仪有一个160mm的罗兰圆,电子束分离窗和差分抽气保证了谱仪和衍射晶体不受试样舱样品带来的任何污染。 由于CAMECA波谱仪的独特设计,15秒内即可扫描完整个谱仪。 安装在一个400的角度,WDS谱仪是线性的和全聚焦的。谱仪的机件优化为最少的移动部件(非轮带驱动机械),从而保证了首屈一指的重复性和可靠性。 经过在工厂的预校准,CAMECA波谱不需要日常的维护和重新调谐。 高强度的晶体 CAMECA提供各种类型的晶体,覆盖元素周期表上从Be开始的元素。 大晶体、宽的波谱仪范围、高信号峰背景比实现快速的WDS分析 现在,为实现超高灵敏度的B和N分析的特殊的大晶体已由CAMECA开发出来,并可配置在SXFive和SXFiveFE上;对于轻元素(Be到F),可选用多层晶体。 CAMECA的谱仪可垂直,也可倾斜安装在仪器上。 倾斜安装(CAMECA的独有设计)特别适用于表面粗糙的标本分析或映射;也非常适合于峰移研究。 WDS和EDS同时数据采集 SXFive可以配置一个能谱用于快速矿产/相鉴别,或配置波谱仪用于定量和成像模式。 如果配置EDS/WDS可实现高通量产率,如用EDS测得主量元素,用WDS测得痕量元素。

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