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电子探针EPMA-1720系列

电子探针EPMA-1720系列

  • 品牌: 日本岛津-GL
  • 型号: EPMA-1720系列
  • 产地:日本
  • 电子探针简介:电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线,对特征性X射线进行分光和强度测定,得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器(WDS),与能量色散型X 射线分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特点。因此,EPMA与扫描型电子显微镜(SEM)配置EDS 检测器比较,可以进行更高精度和更高灵敏度的分析。技术特点:岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术,可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台,可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能,电子束的设定简单易行。集多年分析经验于一体的控制?分析软件,实现了从数据采集到数据解析及报告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作环境。对于初学者,装备了从SEM 观察到定性分析?成图分析的简易可行的简单模式。数据浏览程序可以方便地进行数据的批次管理。

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日本电子 JXA-8230电子探针显微分析仪

日本电子 JXA-8230电子探针显微分析仪

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JXA-8230
  • 产地:日本
  • 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。EPMA快速启动点击任何一点,就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。用户菜单(User recipes)能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件,菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。EDS 的性能数字化脉冲处理器全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)无风扇SDD (选配)产品规格检测元素范围 WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~UX射线检测范围 WDS检测的波长范围: 0.087~9.3nm,EDS EDS检测的能量范围: 20keV分光谱仪数量 WDS: 1~5道可选、EDS: 1台最大样品尺寸 100mm × 100mm × 50mm(H)加速电压 0.2~30kV(以0.1 kV为步长)束流电流范围 10-12 ~ 10-5 A束流电流稳定度 5%/h, ±0.3%/12h(W)二次电子分辨率 6nm(W), 5nm(LaB6)*2(W.D. 11mm, 30kV)扫描倍率 ×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)扫描图像分辨率 最大 5,120× 3,840彩色显示器 EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024*1: 需安装用于Be分析的选配分光晶体。*2: LaB6 为选配。

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CAMECA 场发射电子探针 SXFiveFE

CAMECA 场发射电子探针 SXFiveFE

  • 品牌:
  • 型号: SXFiveFE
  • 产地:法国
  • Cameca EPMA历史悠久 电子探针微区分析(EPMA)的历史和CAMECA紧紧相连。作为在1950年代开创此技术的先驱,CAMECA公司研发、推广并支持了若干代EPMA仪器。今天,全世界有超过700台CAMECA的电子探针在运行,在地球化学、矿物学、地质年代学、物理及核冶金、材料科学(包括水泥、玻璃、陶瓷、超导体)、生物化学、微电子学等领域实现高精度的定性与定量化学微区分析。 超级的分析性能 通过提供更高、更稳定的束电流,以及比其他现有仪器(如SEM-EDS)更好的信号峰背景比,基于WDS的CAMECA电子探针是唯一实现主量和痕量元素精确定量分析的仪器。 现在,场发射源的引入,优化了低电压和高电流,在微区定量分析中,可实现最小的激活体积和尽可能高的空间分辨率。 拥有场发射源的超级分析平台 SXFive和SXFiveFE的新特色 场发射源或W/LaB6源 新电子光学系统提供了更高的分辨率 优化的真空系统提供更优的检出能力,对于轻元素有重要意义 环形的法拉第杯带来增强的可靠性 自动化程度更高,更大产率 从W/LaB6源升级为场发射源可在现场完成 SXFive和SXFiveFE带来了CAMECA早期的电子探针显微分析仪所有优势,同时提供了独一无二的场发射电子束和CAMECA业界领先的高灵敏度和高分辨率的谱仪的结合。这种独一无二的组合代表了在微区分析上的重大突破。 这些特色,以及可靠性的改善,和重新设计的电子束,集大成于一个多功能显微分析仪,可提供无与伦比的显微定量和超高空间分辨率的X射线成像能力。 满足您需求的两种仪器配置: SXFive 配置多功能W/LaB6源 SXFive配置有多功能电子枪,可使用高功率(最高30KV)的钨灯丝或一个LaB6阴极可得到更好的横向分辨率。归功于电子枪中高达10-6Pa的真空度,这款仪器可以在W和LaB6灯丝之间在数小时内方便快捷地进行切换。 在10kv,100nA的实验条件下,使用SXFive的LaB6阴极,可得到0.5um的分析分辨率,使在微小的区域内测量含量小于0.01%的痕量元素成为可能,并能得到良好的统计精度。 SXFive可升级为SXFive FE SXFive FE 配置场发射源 对于要求超高分辨率的应用,CAMECA开发了场发射源: 提高了横向分辨率 对于痕量元素的分析应用,保持高电流。 归功于其场发射源,SXFive FE在中等加速电压下允许使用小尺寸探头,从而保证高横向分辨率。在10KV,100nA条件下,可获得150nm直径的电子束,确保高质量的微量和痕量元素分析。和常规EPMA一样,高能量和高束电流也可被选择,用于进行定量分析。 最好的WDS 波长色散光谱被认为是高精度定量分析的方法,基于CAMECA的独特设计,SXFive和SXFiveFE的谱仪具有业内最高的分辨率,因此具有高信号峰背景比,从而提供了高灵敏度。绝对的谱峰位置由依附于系统的光学编码器提供,只需要单峰便可对整个谱仪范围进行校准。 根据应用的不同,最多可装5个WDS谱仪(另加一个EDS谱仪)可配置在仪器上。所有的谱仪有一个160mm的罗兰圆,电子束分离窗和差分抽气保证了谱仪和衍射晶体不受试样舱样品带来的任何污染。 由于CAMECA波谱仪的独特设计,15秒内即可扫描完整个谱仪。 安装在一个400的角度,WDS谱仪是线性的和全聚焦的。谱仪的机件优化为最少的移动部件(非轮带驱动机械),从而保证了首屈一指的重复性和可靠性。 经过在工厂的预校准,CAMECA波谱不需要日常的维护和重新调谐。 高强度的晶体 CAMECA提供各种类型的晶体,覆盖元素周期表上从Be开始的元素。 大晶体、宽的波谱仪范围、高信号峰背景比实现快速的WDS分析 现在,为实现超高灵敏度的B和N分析的特殊的大晶体已由CAMECA开发出来,并可配置在SXFive和SXFiveFE上;对于轻元素(Be到F),可选用多层晶体。 CAMECA的谱仪可垂直,也可倾斜安装在仪器上。 倾斜安装(CAMECA的独有设计)特别适用于表面粗糙的标本分析或映射;也非常适合于峰移研究。 WDS和EDS同时数据采集 SXFive可以配置一个能谱用于快速矿产/相鉴别,或配置波谱仪用于定量和成像模式。 如果配置EDS/WDS可实现高通量产率,如用EDS测得主量元素,用WDS测得痕量元素。

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岛津场发射电子探针EPMA-8050G

岛津场发射电子探针EPMA-8050G

  • 品牌: 日本岛津-GL
  • 型号: EPMA-8050G
  • 产地:日本
  • 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合“The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极致。当之无愧的 “The Grand EPMA” ,最高水准的EPMA诞生![性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV),分析条件下No.1的二次电子分辨率。(加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA(加速电压30kV)的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式,自动指引直至生成报告。◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术1 高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大,输出更高。即可以保持其高亮度,还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。2  EPMA专用电子光学系统电子光学系统,聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧,交叉点不是靠聚光透镜形成,而是由安装在与物镜光阑相同位置上,具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的(日本专利:第4595778号)。简单的透镜结构,既能获得大束流,同时全部电流条件下设定最合适的打开角度,将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3 超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔(orifice)间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小,以控制流入中间室的气体,使电子枪室始终保持着超高真空,确保发射体稳定工作。4 高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。[应用举例]1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。(加速电压:10kV;照射电流:20nA)Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像(COMPO)的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨(红色虚线圈出)。同时可确认Cu颗粒的存在(黄色虚线圈出)。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:生物体组织中的金属元素以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂(Pt)元素图像,通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂(铂络合物)导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合,阻碍DNA的分裂(复制)以杀灭癌细胞,我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据

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