电子探针/X射线微区分析仪电子探针/X射线微区分析仪是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针/X射线微区分析仪可以对试样中微小区域的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描、面扫描分析。还能全自动进行批量定量分析。
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日立EA8000锂离子电池燃料电池用X射线异物分析仪
- 品牌:日立
- 型号: EA-Hybrid
- 产地:日本
【EA-Hybrid的主要特征】1. 可在几分钟内对250×200mm大小的样品检测出20μm大小的金属异物例如要检测250×200mm(约B5尺寸)大小的电池电极板中20μm大小的金属异物,以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。SIINT通过新型X射线透视方法的开发,成功缩短了时间。检测速度成功达到了以往的100倍以上,可在3~10分钟内完成。2.电极板的微小金属异物也可进行元素分析 对样品中检测出的金属异物可自动使用X射线荧光法进行元素分析。以往,对于电极板中可能存在的20μm左右的微小金
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福建理工大学公开招标显微镜及真空系统、半导体分析仪,探针台、辐射发光光谱仪,阻尼光学平台、磁力搅拌器,项目编号:[350001]ZYT[GK]2023052
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