电子探针/X射线微区分析仪电子探针/X射线微区分析仪是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针/X射线微区分析仪可以对试样中微小区域的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描、面扫描分析。还能全自动进行批量定量分析。
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DECTRIS多能、双能混合像素光子计数X射线探测器SANTIS 0804
- 品牌:瑞士Dectris
- 型号: SANTIS 0804
- 产地:瑞士
SANTIS 0804是由DECTRIS设计和制造的混合光子计数(HPC)探测器。无暗电流、无噪声,单光子计数技术和解析X射线能量的能力触发了无与伦比的成像性能。相比传统的探测器,SANTS 0804在低能量和高帧速率的双重模式下提供更的图像质量,同时,双能量和多能量成像可以在一次拍摄中完成。一次X射线获取,可记录两种-四种不同能量的X射线吸收剂量,利用不同材料、或组织及骨骼的吸收剂量的不同的特点,可以从图像中把它们区分出来。 SANTIS 0804有两种配置:高分辨率(HR)和多能量(ME)模式,两种模式均能够提供高帧速率运行。
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