电子探针/X射线微区分析仪电子探针/X射线微区分析仪是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器,可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针/X射线微区分析仪可以对试样中微小区域的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描、面扫描分析。还能全自动进行批量定量分析。
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台式小分子单晶X射线分析仪
- 品牌:日本理学
- 型号: XtaLABmini
- 产地:日本
技术参数: 1. X射线发生器:Mo靶,高频技术,600W 2. 光学系统:SHINE 3. χ:固定在54 4. Φ :-360,沿样品中心轴自由旋转 5. ω :2θ±90 (-60~120 ) 6. 2θ:固定30 7. 70倍CCD摄像头观察样品 8. 照相距离:50mm 9. 探测器:CCD 10. 探测面积:Φ75mm 11. 像素尺寸:73.2μm/146.4μm 12. 像素点数:1024x1024/512x512 13. 读取时间:2.24sec/0.56sec 14. 暗电流:0.1e
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