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小而轻的便携式X射线残余应力分析仪
品牌:日本帕路斯
型号:μ-X360s
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赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye 5000N
品牌:韩国赛可
型号:X-eye 5000N
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赛可SEC 在线式X-RAY检测设备 6300AXI
品牌:韩国赛可
型号:6300AXI
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新一代X射线单晶定向系统-s-Laue
品牌:日本帕路斯
型号:s-Laue
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小而轻的便携式X射线残余应力分析仪
- 品牌:日本帕路斯
- 型号: μ-X360s
- 产地:日本
更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量。 更精确:一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合,结果更精确。 更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。 更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。 更强大:具备区域应力测量功能,晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能。
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新一代X射线单晶定向系统-s-Laue
- 品牌:日本帕路斯
- 型号: s-Laue
- 产地:日本
s-Laue是日本Pulstec公司近期发布的一款基于圆形全二维面探测器技术的新一代X射线单晶定向系统。该设备配备六轴样品台,具有功率小(30KV/1.5mA,因此辐射小)、操作简单、测试效率高(典型测试时间为60秒)等特点,可提供台式、便携式(即将发布,敬请期待)两种类型设备,既可满足实验室对小样品进行单晶定向的需求,也可以用于大型零件的现场晶体定向。
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赛可SEC 在线式X-RAY检测设备 6300AXI
- 品牌:韩国赛可
- 型号: 6300AXI
- 产地:韩国
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赛可(SEC)X-RAY检测设备X-eye 5000N
- 品牌:韩国赛可
- 型号: X-eye 5000N
- 产地:韩国
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X射线应力分析仪
- 品牌:日本理学
- 型号: MSF-3M/PSF-3M
- 产地:日本
仪器简介: 理学X射线应力分析仪MSF-3M/PSF-3M,可以方便测量材料中的残留应力,是材料评价的好帮手。 技术参数 1. X射线发生器最大功率为300W, 30Kv10mA 2. Cr靶X光管 3. 测角仪2θ测量角范围:140~170 4. 包括实验室使用状态MSF-3M,以及便携式状态
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X射线残余应力分析仪U-X360S
- 品牌:日本帕路斯
- 型号: U-X360S
- 产地:日本
2012年日本Pulstec公司开发出世界首款基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力测试仪——μ-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。由于其技术之先进、测试数据可重复性之高、使用之便携,设备一经推出便备受业界青睐! 近期,日本Pulstec公司成功克服技术难点,发布了新的产品型号:μ-X360s,将全二维面探测器技术的产品设计和功能完善再次升级!
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快速X射线应力分析仪
- 品牌:日本理学
- 型号: PSPC-MSF3M
- 产地:日本
仪器简介: 理学快速X射线应力分析仪PSPC-MSF3M,可以高速方便测量材料中的残留应力,并且可以测量微区应力,是材料评价的好帮手。 主要特点: 1. 使用位敏探测器,大大提高测量速度。 2. 通过准直器,可以测量微区应力。 3. 非破坏性检测,该系统应用X光的衍射方法,可以实现非破坏性的检测金属内部的残余应力。 4. 测量残余应力值方便,使用Window
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快速X射线应力分析仪PSPC-MSF3M
- 品牌:日本理学
- 型号: PSPC-MSF3M
- 产地:日本
仪器简介: 理学快速X射线应力分析仪PSPC-MSF3M,可以高速方便测量材料中的残留应力,并且可以测量微区应力,是材料评价的好帮手。 主要特点: 1. 使用位敏探测器,大大提高测量速度。 2. 通过准直器,可以测量微区应力。 3. 非破坏性检测,该系统应用X光的衍射方法,可以实现非破坏性的检测金属内部的残余应力。 4. 测量残余应力值方便,使用Windows软件控制探测头,并且收集X射线衍射的强度数据。通过对数据的处 理,轻松取得金属残余应力值。 5. 利用Ψo角度修正方式和Ψ角度修正方式,即使
- X射线应力仪
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