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德国布鲁克 电子显微镜分析仪器 SEM QUANTAX EDS
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: SEM QUANTAX EDS
- 产地:德国
XFlash® 7 - 最新 EDS 探头系列 优化的设计 更好的分析 快速、精准、可靠
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布鲁克
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: 456
- 产地:加拿大
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布鲁克 450 GC
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: 450
- 产地:加拿大
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德国布鲁克 电学特性
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Characterization
- 产地:德国
电学特性FEOL Electrical CharacterizationIn IC device manufacturing electrical characteristics of layers and films must be well controlled. Conventional contact test methods on monitor wafers, like the 4-point probe FSM offers, do no longer meet modern requi
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德国布鲁克 漆膜附着力测试
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Film Adhesion
- 产地:德国
漆膜附着力测试Film adhesion testing of thin films and stacks on substrates for material evaluation3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪FEOL Electrical Characterization 电学特性Thin wafer metrology 晶圆测量学Film Adhesion漆膜附着力测试Film adhesion testingof thin film
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德国布鲁克 晶圆厚度测量系统FSM 413 EC
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: FSM 413 EC
- 产地:德国
非接触式厚度测量,可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的薄晶圆,也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆,可应用于堆叠芯片和微机电系统。
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德国布鲁克 硅片表面形貌测量VIT
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: VIT
- 产地:德国
硅片表面形貌测量VIT系列NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)-Residue Detection-RST-Copper Nail Height-Bump Height and Cu pillar height-Edge trim profile3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪
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布鲁克便携XRF分析仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: CTX
- 产地:德国
便携式XRF分析仪是一种简单、快速、准确的检测仪器,非常适用于在实验室外检测固体、粉末和液体。虽然手持式XRF轻便灵活,适合进行现场检测;
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布鲁克手持式艺术考古分析仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: TRACER 5i
- 产地:德国
TRACER 5i是Bruker公司2016年底新发布的科研型手持式XRF设备,也称便携式XRF。是继原有Tracer家族系列后, Bruker发布的手持式XRF产品。其性能是市售一般手持式XRFwu法比拟的, 在欧美艺术界/考古学/鉴定/修复行业中 受到各大博物馆青睐。
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布鲁克手持式光谱仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: S1 TITAN
- 产地:德国
S1 TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。
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