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Filmetrics - 薄膜后度量测仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F20 系列
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F32 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F32
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原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU
品牌:美国Semiconsoft
型号:MPROBE 50 INSITU
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日本佐竹 厚度分级机 WS600AK/800AK-C
品牌:日本SATAKE
型号: WS600AK/800AK-C
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progage测厚仪 Thwing-Albert
品牌:美国Thwing-Albert
型号:-
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progage测厚仪 Thwing-Albert
- 品牌:美国Thwing-Albert
- 型号: -
- 产地:美国
产品简介品牌Thwing-Albert/美国价格区间面议产地类别进口应用领域印刷包装,纺织皮革,烟草progage 测厚仪 Thwing-Albert 采用advanced的技术,快速accurate地测量片状物体的厚度,如纸张、卷烟纸、水松纸、烟叶等。新型的测量头确保了仪器良好的平行度和稳定的归零,操作和校正更方便,测试更accurate。经过预先选择设置不同的测量速率、测量头压力、直径而适应于特电子厚度仪定的测试标准。详细介绍progage测厚仪 Thwing-Albert型号:ProGag
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Filmetrics - 薄膜后度量测仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 系列
- 产地:美国
产品简介厚度测量产品 F20 系列 - 台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™ 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)可测模层 : 平整,半透明,吸光薄膜。如: SiO2, SiNX,
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F32 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F32
- 产地:美国
F32先进的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本两个位置)。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件,以便于集成到现有的生产装置上。
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Filmetrics - 薄膜后度量测仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 系列
- 产地:美国
产品简介厚度测量产品 F20 系列 - 台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™ 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)可测模层 : 平整,半透明,吸光薄膜。如: SiO2, SiNX,
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手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe 20 HC
- 产地:美国
手持式,大件,弯曲表面膜厚测量——更简单,更可靠!
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在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 70
- 产地:美国
产线生产光学无接触薄膜厚度连续测量
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薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(mapping测量)
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 60
- 产地:美国
薄膜厚度精准定位小点测量
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原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 50 INSITU
- 产地:美国
真空光学无接触薄膜厚度测量
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Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-AR
- 产地:美国
Filmetrics F10-AR 薄膜分析仪操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测Filmetrics F10-AR 使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在,不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。多重光谱比较目标光谱与多重反射光谱比较自动评估反射率,最小/最大位置,并得出明确的读数结论。量化残余颜色残余颜色可以用视觉方法显示出来,也可以用常见的颜色空间系统, CIELAB 和 CIEXYZ。用升级的硬涂层软件测量厚度可升级的 Filmetrics FFT 演算法已经在全世
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progage测厚仪 Thwing-Albert
- 品牌:美国Thwing-Albert
- 型号: -
- 产地:美国
产品简介品牌Thwing-Albert/美国价格区间面议产地类别进口应用领域印刷包装,纺织皮革,烟草progage 测厚仪 Thwing-Albert 采用advanced的技术,快速accurate地测量片状物体的厚度,如纸张、卷烟纸、水松纸、烟叶等。新型的测量头确保了仪器良好的平行度和稳定的归零,操作和校正更方便,测试更accurate。经过预先选择设置不同的测量速率、测量头压力、直径而适应于特电子厚度仪定的测试标准。详细介绍progage测厚仪 Thwing-Albert型号:ProGag
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FG710S红外透射式测厚仪
- 品牌:英国NDC
- 型号: FG710S
- 产地:美国
红外透射式测厚仪NDC Technologies的智能红外测量仪用于塑料、薄膜和片材的厚度测量,有测量精度高、重复性好、高分辨率等特点,广泛用于这类产品的在线检测和控制。这些智能测量数据随时提供给控制系统并由操作员工作站(OWS)显示出来,为操作员和优化工艺提供可靠的流程信息。FG710S和TFG710ER薄膜测量仪通过其ZL的红外设计和光学元件达到**的测量性能。这两种传感器工作稳定可靠,测量不受下列一些过程或环境条件变化的影响: 照明波动 温度 相对湿度 空气质量(灰尘,蒸汽成分等) 气压 探头位移(
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AccuTrak O型扫描架
- 品牌:英国NDC
- 型号: AccuTrak O型
- 产地:美国
AccuTrak O型架扫描架AccuTrak是一种高精度、稳定性强的O型架扫描器,可以应用于红外、激光、同位素、X射线、贝它射线或其它类型测量仪。这种高性能的扫描仪提供快速、准确、可靠的平面测量所需要的严格质量标准。它结合了高扫描速度、精确对准、低维护成本、可维护性和易用性。坚固的箱形梁设计采用了革命性的头托架承载系统,提供长期精确的,可重复的机器方向和交叉方向的测量。这种智能化的iFrame扫描仪wan美的集成到NDC Technologies的TDI(全分布式智能)平面测量平台上。跨越四十年的经验,
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MiniTrak S型扫描架
- 品牌:英国NDC
- 型号: MiniTrak S型
- 产地:美国
MiniTrak S型架扫描架MiniTrak S 型架扫描架支持NDC Technologies的智能iSensors背向散射和反射系列产品。该框架设计非常紧凑和坚固,仅需极小的安装空间,可以被安装在复杂的生产现场,提供关键准确的测量数据。MiniTrak系统S型架采用了智能的iFrame系统,扫描器控制管理模块使传感器和控制操作具有完整性和高测量响应。 MiniTrak系统S型架最多可支持两个反射式智能iSensors测量仪。zui后,紧固的四角安装方式和合理的支撑防止了扫描架或者杂物掉落到片材上,铰
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MiniTrak O型扫描架
- 品牌:英国NDC
- 型号: MiniTrak O型
- 产地:美国
MiniTrak O型架扫描架MiniTrak 系统智能O型架扫描架提供快速、准确、可靠的测量性能,wan美集成到NDC Technologies智能分布式的网络架构上。对于复杂的生产线和多工艺流程的工厂,MiniTrak系统的O型架扫描仪系列可以提供客户所期望的结果。例如,MiniTrak系统O型架扫描器可以与任何NDC Technologies的测量仪和应用软件配套。MiniTrak O型架和S型架扫描器的机械设计是基于相同的箱型架结构,,具有优异的刚性和测量应用性能。直线轴承系统及精密导轨保证扫描架
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Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F3-XXT
- 产地:美国
Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪测量厚度最大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说,当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率来算薄膜的厚度, 会导致干涉频率超过光谱的分辨率。为了克服这个问题, F3-XXT 配备 Filmetrics 自主研发的光谱仪, 材料达到 3 毫米厚度,它可以很好测量。引用特殊的光学配件,使光斑尺寸不到 25 微米,使得即使是较高粗糙度和不均匀性的 材 料 都 可 以 测 量 。几乎所有的半导体和介质材
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薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-RT
- 产地:美国
Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置, F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外, Filmetrics ZG的Autobaseline 设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。分析优点F10-RT 使 Filmetrics 的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击鼠标就能够产生在客户是定波长范围内,得出最大与最小的反射率与穿透率。系统内置边
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Filmetrics 膜厚测量仪 F37
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F37 膜厚测量仪
- 产地:美国
Filmetrics F37 薄膜厚度测量仪Filmetrics膜厚测量仪优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!附带的软件和 USB 连接界面使 F37 易于安装到任何 Windows 平台的 PC,功能强大的软件预配了超过百种材料的光学参数,这有助于多种不同膜层结构的测量,不论是单层、多层堆叠,甚至是单一纯物质,用户能轻易地从
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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F40-UV/F40-UVX/F40/F40-EXR/F40-NIRF40-XT
- 产地:美国
Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
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Filmetrics 膜厚测量仪 膜厚测试仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F50-UV/F50-UVX/F50/F50-EXR/F50-NIRF50-XT
- 产地:美国
Filmetrics F50 光学膜厚测量仪膜厚测量仪 膜厚测试仪选择 Filmetrics 的优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为你演示薄膜测量是多么容易!自动化薄膜厚度绘图系统依靠 F50 先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得最大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测
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Filmetrics 薄膜测厚仪 F54
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54薄膜测厚仪
- 产地:美国
Filmetrics F54 光学膜厚测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪Filmetrics 薄膜测厚仪 F54薄膜测厚仪优势桌面型膜厚测量仪的全球24 小时电话、 Email、在线技术支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易自动化薄膜厚度分布图案系统依靠 F54 先进的光
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Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3-sX
- 产地:美国
Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪Filmetrics F3-sX 光学膜厚测量仪
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加拿大DJH DFM-alpha / Ultra 彩涂膜厚在线测量仪
- 品牌:加拿大DJH Designs
- 型号: DFM-alpha / Ultra
- 产地:加拿大
DFM-ALPHA™ - 世界上首台具有集成闭环控制(CLC™)的在线膜厚测量仪器。ALPHA™可以调整涂层机使产品符合规格。CLCTM持续监测涂层厚度,一旦出现漂移迹象,就会调整辊式涂布机。涂布机的调整是快速、精确的,产品保持在目标上。涂布机的辊速、计量辊的速度、生产线的速度和测量的DFT不断地被传送到先进的DFM-ALPHA算法中。涂布机内与粘度、固体体积和涂布辊渗漏有关的涂料特性是实时得出的,并用于精确调整涂布机。
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加拿大DJH WFM1 在线湿膜厚度测量仪
- 品牌:加拿大DJH Designs
- 型号: WFM1
- 产地:加拿大
DJH 的 WFM1为涂装线的设置带来了全新的功能,可在涂装辊和带材上提供准确的湿膜厚度 (WFT),并在涂装开始前预测带材上的干膜厚度 (DFT)。
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe NIR
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe NIR
- 产地:美国
采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe UVVisSR
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe UVVisSR
- 产地:美国
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe RT
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe RT
- 产地:美国
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)
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美国 Semiconsoft 显微反射膜厚仪MProbe MSP
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe MSP
- 产地:美国
MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe Vis
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe Vis
- 产地:美国
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺
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美国 Semiconsoft 反射膜厚仪MProbe
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe
- 产地:美国
当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。
- 在线测厚仪
- 仪器网导购专场为您提供在线测厚仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选在线测厚仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。