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其它测厚仪

赛默飞世尔
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其它测厚仪概述

测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。常见的测厚仪有激光测厚仪、纸张测厚仪、X射线测厚仪、薄膜测厚仪、超声波测厚仪等,其他测厚仪有红外线测厚仪。红外线测厚仪是利用成对红外线探头组成红外线发射和接收系统,当被测物通过这组探头时,由于被测物吸收红外线而使发射端发出来的红外线在经过被测物发生衰减这一特性以确定被测物的厚度,然后利用计算机作为主处理器,进行信号在线采集处理、数字图像显示、报警等功能。
红外线测厚仪|防锈油|钝化膜|耐指纹|硅钢

红外线测厚仪|防锈油|钝化膜|耐指纹|硅钢

品牌:仓纺
型号:RX-210测厚仪
美国菲希尔 FISCHERSCOPE® X-RAY 4000

美国菲希尔 FISCHERSCOPE® X-RAY 4000

品牌:菲希尔/Fischer
型号:FISCHERSCOPE? X-RAY 4000
Filmetrics 光学膜厚测量仪

Filmetrics 光学膜厚测量仪

品牌:美国Filmetrics
型号:F60-UV F60-UVX F60F60-EXR F60-NIR F60-XT
THI系列高精度测厚仪

THI系列高精度测厚仪

品牌:济南思克
型号:THI-1801
高精度实验室专用测厚仪

高精度实验室专用测厚仪

品牌:济南思克
型号:1801
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不限 生产商授权代理商一般经销商
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药用玻璃瓶壁厚底厚测量仪

药用玻璃瓶壁厚底厚测量仪

  • 品牌: 济南三泉中石
  • 型号: CHY-B
  • 产地:济南
  • 药用玻璃瓶壁厚底厚测量仪CHY-B2是济南三泉中石实验仪器有限公司专门为玻璃厂、玻璃包装厂生产的精密实验室专用检测仪器。

氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)

氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: Gas permeability tester1801
  • 产地:
  • 济南思克GB1038氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)品牌:【SYSTESTER】济南思克测试技术有限公司适用范围:气体透过率测定仪主要用于包装材料气体透过量测定工作原理:压差法测试原理型号:GTR-7001气体透过率测试仪(又称:薄膜透气仪,透氧仪,气体渗透仪,压差法透气仪,等压法透气仪,氧气透过率测试仪等,气体透过量测定义,气体透过率检测仪,氧气渗透仪,济南思克,OTR透氧仪)济南思克GB1038氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)采用真空法测试原理,用于各种食品包装材料、包装材料、高阻隔材料、金属薄片等气体透过率、气体透过系数的测定。可测试样:塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、方便面包装、铝箔、输液袋、人造皮肤;(红外法)(电解法)水蒸气透过率测试仪气囊、生物降解膜、电池隔膜、分离膜、橡胶、轮胎、烟包铝箔纸、PP片材、PET片材、PVC片材、PVDC片材等。试验气体:氧气、二氧化碳、氮气、空气、氦气、氢气、真空压差法气体透过率测定仪@包装材料济南思克GB1038氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)济南思克GB1038氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)丁烷、氨气等。 GTR系列 气体透过率检测仪【济南思克】技术指标:测试范围:0.01~190,000 cm3/m2?24h?0.1MPa(标准配置)分 辨 率:0.001 cm3/m2?24h?0.1MPa试样件数:1~3 件,各自独立真空分辨率:0.1 Pa控温范围:5℃~95℃ 控温精度:±0.1℃ 试样厚度:≤5mm 试样尺寸:150 mm × 94mm 测试面积:50 cm2试验气体:氧气、氮气、二氧化碳、氦气等气体(气源用户自备)试验压力范围:-0.1 MPa~+0.1 MPa(标准)接口尺寸:Ф8 mm 外形尺寸:730 mm(L)×510mm(B)×350 mm(H)济南思克GB1038氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)产品特点:真空法测试原理,完全符合国标、国际标准要求自主研发技术,拥有自主知识产权三腔独立测试,可出具独立、组合结果计算机控制,试验全自动,一键式操作高精度进口传感器,保证了结果精度、重复性进口管路系统,更适合极高阻隔材料测试进口控制器件,系统运行可靠,寿命更长进口操作件,追求用户体验进口温度、湿度传感器,准确指示试验条件一次试验可得到气体透过率、透过系数等参数宽范围三腔水浴控温技术,可满足不同条件试验系统内置24位精度Δ-Σ AD转换器,高速高精度数据采集,使结果精度高,范围宽嵌入式系统内核,系统长期稳定性好、重复性好嵌入式系统灵活、强大的扩展能力,可满足各种测试要求多种试验模式可选择,可满足各种标准、非标、快速测试试验过程曲线显示,直观、客观、清晰、透明支持真空度校准、标准膜校准等模式;方便快捷、使用成本极低廉标准通信接口,数据标准化传递可支持DSM实验室数据管理系统,能实现数据统一管理,方便数据共享 (选购)标准配置:主机、高性能服务器、专业软件、数据扩展卡、通信电缆、恒温控制器、氧气精密减压阀、取样器、取样刀、真空密封脂、真空泵(进口)、快速定量滤纸SYSTESTER思克,为您提供精品-检测仪器、科学-检测服务、安全-数据托管 ,包材指标检测、包装性能检测、济南思克GB1038氧气渗透测试仪(压差法气体透过率测试仪)器械包装检测、食品包装指标检测、食品包装性能检测、气调包装及印刷残留检测、有机迁移检测…包装检测仪器,首选思克测试!思克将回报您更多意想不到的操作体验和服务。思克测试,诚信企业! SYSTESTER思克,More than your think!执行标准:GB/T 1038-2000、ISO 15105-1、ISO 2556、ASTM D1434、JIS 7126-1、YBB 00082003其他相关:系列一:透氧仪,透气仪, 透湿仪,透水仪,水蒸气透过率测试仪,气体透过率测试仪,气体渗透仪,7001GTR透气仪系列二:包装拉力试验机、摩擦系数仪、动静摩擦系数仪、表面滑爽性测试仪、热封试验仪、热封强度测试仪、落镖冲击试验仪、密封试验仪、高精度薄膜测厚仪、扭矩仪、包装性能测试仪、卡式瓶滑动性测试仪、安瓿折断力测试仪、胶塞穿刺力测试仪、电化铝专用剥离试验仪、离型纸剥离仪、泄漏强度测试仪、薄膜穿刺测试仪、弹性模量测试仪、气相色谱仪、溶剂残留测试仪等优质包装性能测试仪!

BEVS1701 湿膜片

BEVS1701 湿膜片

  • 品牌: 广州BEVS
  • 型号: BEVS1701
  • 产地:
  • 产品概述:测量在平滑表面上涂料、瓷、清漆、胶粘剂或其它材料的湿厚度。用高级不锈钢制成,用相应的溶剂易清洗且不易损坏。技术参数:l外形为五边形l2种规格符合标准:ASTM-BS-ISO订购信息:BEVS1701/29020-350μm湿膜片BEVS1701/60025-2700μm湿膜片

GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪

GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪

  • 品牌: 济南兰光
  • 型号: CHY-CB测厚仪
  • 产地:
  • GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。了解详情请致电:济南兰光0531-85068566或登录www.labthink.com查询。GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪主要技术特征:1、专业CHY-CB采用接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的误差支持自动和手动两种测量模式,方便用户自主选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性2、高端采用了Labthink最新研发的嵌入式计算机系统平台,其技术优势和用户体验远超传统的单片机技术。一体化系统设计,采用嵌入式开发技术将专业的检测设备与控制软件合二为一专用控制系统从根本上杜绝了由计算机病毒、误操作等引起的系统软件故障,保证了设备运行的可靠性与数据的安全性系统搭配标准显示器、鼠标、键盘,采用Windows操作界面,方便用户进行试验操作及数据展示系统内嵌4个USB接口和2个网口,方便系统的外部接入和数据传输3、智能搭配了Labthink最新的操作软件,具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能;同时,在局域网的环境中,还支持Lystem实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告。传感器标定智能提示,让用户放心使用软件内嵌电子帮助文档,方便用户随时查阅系统支持中英文切换,方便不同语言的用户使用用户多级权限管理,方便实验室管理人员规范设备使用采用嵌入式数据库存储技术,保存每次试验的详细信息,并提供方便、多样的查询功能,用户可按曲线或数据列表等方式查看历史试验数据系统支持试验结果比对,用户在试验开始之前设置标准数值和误差范围,试验完成后系统自动判断各个试验结果是否在标准误差范围之内,并直观的告知用户试样是否合格标定数据恢复功能,有效解决了由误操作带来的不利影响,最大限度地保证了系统工作的安全性;系统可按用户指定的方式对关键信息数据进行修复,如各传感器的标定数据恢复操作通过搭配LystemTM实验室数据共享系统,试验数据与设备信息仅需简单设置与操作即可上报,轻松实现实验室测试数据的集中化和系统化管理GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪执行标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪技术指标:测试范围:0~2mm(标准);0~6mm,12mm(可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制电源:AC 220V 50Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重:37 kgGB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪仪器配置:标准配置:主机、显示器、键盘、鼠标、标准量块选购件:测量头、配重砝码、打印机(需兼容标准PCL3打印命令语言)、Lystem实验室数据共享系统

ITO薄膜测厚仪

ITO薄膜测厚仪

  • 品牌: 济南兰光
  • 型号: 兰光CHY-CA
  • 产地:
  • ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的ITO薄膜测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。ITO薄膜测厚仪技术特征:测试范围:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)分辨率:0.1μm测量速度:10 次/min (可调)测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距:0~1000 mm进样速度:0.1~99.9 mm/s以上【ITO薄膜测厚仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!

双向拉伸聚丙烯薄膜厚度测试仪(CHY-CA)

双向拉伸聚丙烯薄膜厚度测试仪(CHY-CA)

  • 品牌: 济南兰光
  • 型号: CHY-CA测厚仪
  • 产地:
  • 双向拉伸聚丙烯薄膜厚度测试仪(CHY-CA测厚仪)采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。了解详情请致电:济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询双向拉伸聚丙烯薄膜厚度测试仪技术特征:严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持Lystem实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告 执行标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817双向拉伸聚丙烯薄膜厚度测试仪技术特征:测试范围:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)分辨率:0.1μm测量速度:10 次/min (可调)测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距:0~1000 mm进样速度:0.1~99.9 mm/s电源:AC 220V 50Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重:32kg仪器配置:标准配置:主机、标准量块一件选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

聚酰亚胺薄膜厚度测试仪(CHY-CA)

聚酰亚胺薄膜厚度测试仪(CHY-CA)

  • 品牌: 济南兰光
  • 型号: 兰光-CHY-CA
  • 产地:
  • PI膜(聚酰亚胺薄膜)的厚度一般在十几到几十微米之间,对该薄膜厚度的要求很高。PI膜多被应用于电子线路印刷方面,这类材料的价格普遍比较高,企业对PI膜厚度的控制检测也是重要检测项目之一。 Labthink兰光研发生产的CHY-CA型聚酰亚胺薄膜厚度测试仪,可用于聚酰亚胺薄膜厚度的检测,测试分辩率高达0.1微米,完全满足聚酰亚胺薄膜对厚度高精度测试的要求。CHY-CA型测厚仪除了具备高精度、高效率等特点外,还采用测量样品自动前进驱动系统,大大提高了测试效率,充分满足用户连续高效测试的要求,并配有专业软件支持,操作方便、人机交互友好。1、结构组成 CHY-CA型测厚仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量,并输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;打印输出系统的功能是统计结果的输出,打印试验结果。2、功能原理 CHY-CA测厚仪采用目前世界测量领域最先进的技术成果,确保测量结果的高精确性,多次测量结果的高度一致性;且操作调试极其方便,几近于自动化操作,最大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响;并具有手动、自动两种测量模式,对于手动模式测量,可打印输出测量结果,对于自动模式测量,可按照预先设置好的次数自动测试,并对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。 如欲了解更详细信息,欢迎致电济南兰光机电技术有限公司0531-85068566垂询。

农用薄膜厚度测试仪

农用薄膜厚度测试仪

  • 品牌: 济南兰光
  • 型号: 测厚仪CHY-CA
  • 产地:
  • 农用薄膜厚度测试仪采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3-2002(纸和纸板厚度的测定)、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。农用薄膜厚度测试仪技术指标测量范围:0~2mm;0~6mm,12mm(可选)分 辨 率:0.1μm测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距:0~1000mm进样速度:0.1~99.9mm/s以上农用薄膜厚度测试仪信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!参考链接:1、塑料薄膜测厚仪:http://xn--3mRy0Xx6H6uE5w4AogF.com2、测厚仪生产厂家-济南兰光:http://www.labthink.cn3、测厚仪:http://www.labthink.cn/cn/product-index-cehou.html

薄膜厚度测量仪_薄膜测厚仪(CHY-CA自动进样)

薄膜厚度测量仪_薄膜测厚仪(CHY-CA自动进样)

  • 品牌: 济南兰光
  • 型号: CHY-CA高精度测厚仪
  • 产地:
  • 薄膜厚度测量仪_薄膜测厚仪(CHY-CA自动进样)PARAM博每 CHY-CA薄膜测厚仪 济南兰光机电技术有限公司 服务热线:0531-85068566 公司传真:0531-85062108薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜厚度测量仪特  征 微电脑控制、液晶显示 菜单式界面、PVC操作面板 接触式测量 测头自动升降 自动进样 手动、自动双重测量模式 数据实时显示、自动统计 显示最大值、最小值、平均值和统计偏差 可设进样步距、测量点数、进样速度等参数 标准接触面积、测量压力(非标可选) 显示最大值、最小值、平均值和统计偏差 标准量块标定 RS232接口 网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输薄膜厚度测量仪技术指标 测量范围:0~2mm      0~6mm;12mm(可选) 分 辨 率:0.1μm 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)      注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 进样步距:0~1000mm 进样速度:0.1~99.9mm/s 电  源:AC 220V 50Hz 外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H) 净  重:32kg薄膜厚度测量仪标  准 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817薄膜厚度测量仪配  置 标准配置:主机、标准量块一件 选 购 件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

太阳能电池硅片测厚仪

太阳能电池硅片测厚仪

  • 品牌: 济南兰光
  • 型号: PARAM博每CHY-CA
  • 产地:
  • 太阳能电池硅片测厚仪(CHY-CA测厚仪)适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。太阳能电池硅片测厚仪特  征微电脑控制、液晶显示菜单式界面、PVC操作面板接触式测量测头自动升降自动进样手动、自动双重测量模式数据实时显示、自动统计显示最大值、最小值、平均值和统计偏差可设进样步距、测量点数、进样速度等参数标准接触面积、测量压力(非标可选)显示最大值、最小值、平均值和统计偏差标准量块标定RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输太阳能电池硅片测厚仪技术指标测量范围:0~2mm;0~6mm,12mm(可选)分 辨 率:0.1μm测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距:0~1000mm进样速度:0.1~99.9mm/s电  源:AC 220V 50Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)净  重:32kg太阳能电池硅片测厚仪标  准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817太阳能电池硅片测厚仪配  置标准配置:主机、标准量块一件选 购 件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

FISCHERSCOPE®  X-RAY XULM 240

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM 240

  • 品牌:
  • 型号: FISCHERSCOPE? X-RAY XULM 240
  • 产地:德国
  • 特点§ 用途广泛的镀层厚度测量仪§ 通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和较厚的镀层进行同样效果的测量. § 配有的微聚焦管,可以测量100 μm大小的微小测量点§ 比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率§ 从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品。§ 底部C型开槽的大容量测量舱典型应用领域§ 测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层§ 电子行业中接插件和触点上的镀层§ 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS § 电镀镀层,如大规模生产零件(螺栓和螺母)上的防腐蚀保护层Zn/Fe,ZnNi/Fe § 珠宝和钟表工业§ 测量电镀液中金属成分含量

桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70

桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: Filmetrics F70
  • 产地:美国
  • 桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70测量厚度上限可达 15 毫米可透光材料对可透光材料来说,色差共焦测量( CTM)是一种非接触式的测量方式,最多可同时测量两层。这种测量方式,较不受待测样品表面粗糙度、均匀性、或曲率的影响。CTM 厚度测量基本上是藉由探测膜层上下界面的距离进而获得厚度值。透过专业透镜聚焦不同波长的光,而聚焦在待测样品上下界面的光反射回探测器后,就会在光谱图中看到二处信号波峰,进而推算出波峰之间的距离,即为待测薄膜的厚度值(本法利用不同波段,光颜色差异来探测膜层厚度,故取名色差共焦测量)。具有 USB 接口与 Windows 相容软件的系统可以再几分钟设定完成,而测量结果在几秒钟即可完成。相关应用任何表面涂层,甚至药片、木材与纸张玻璃与塑胶板材,管材、容器光学镜片桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70

Filmetrics F64-C 光学膜厚测量仪

Filmetrics F64-C 光学膜厚测量仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: F64-c膜厚测量仪
  • 产地:美国
  • 膜厚测量测试仪 光学膜厚测量仪Filmetrics F64-C晶片生产中自动化测量薄膜厚度分布图案系统依靠 F64 先进的光谱反射系统,可以很简单快速地获得产品薄膜厚度及 n 和 k 值的分布图。利用图形识别软件控制高精度移动平台,自动寻找测试点,并以每个点约 1.5 秒快速生成厚度。机动化的转台能够最多配置四个物镜,方便选择多个不同尺寸的光斑。 针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。可测样品膜层基本上所有光滑的、透明半透明的或低吸收系数的膜层都可以测量。可测样品包括:氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC光刻胶 聚合物 聚亚酰胺多晶硅 非晶硅 硅F64-cF64-cF64-cF64-cmetrics F64-C

Filmetrics 光学膜厚测量仪

Filmetrics 光学膜厚测量仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: F60-UV F60-UVX F60F60-EXR F60-NIR F60-XT
  • 产地:美国
  • 美国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k, 采用 r-θ 极坐标移动平台,可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度, 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC光刻胶 聚合物 聚亚酰胺多晶硅 非晶硅 硅免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪

Filmetrics F20 光学膜厚测量仪

Filmetrics F20 光学膜厚测量仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: F20-UV/F20-UVX/F20/F20-EXR/F20-NIR
  • 产地:美国
  • Filmetrics F20 光学膜厚测量仪选择 Filmetrics 的优势桌面型薄膜厚度测量的全球领导者24 小时电话, Email,在线支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易最具性价比的先进薄膜厚度测量系统使用 F20 高级频谱反射测量系统,我们能轻松的实现对膜层厚度和光学常数(n 和 k 值)的测量。通过对膜层顶部、底部反射光谱进行分析,数秒内我们即可得到膜层的厚度、折射率和消光系数。通过内置的独立软件和 USB 接口,能够很容易的把 F20 安装在任何的 Windows 电脑平台上。健全的软件材料库(100 多种材料),极大的满足了对各种不同膜层结构测量的需要,包括对单层、多层或独立膜层的测量。透过测量样品的光学常数或导入已存在的资讯,能够在材料库内快速的增加新材料。可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。这包括几乎所有的电介质与半导体材料,例如:氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC光刻胶 聚合物 聚酰亚胺多晶硅 非晶硅 硅

Filmetrics F3-CS 光学膜厚测量仪

Filmetrics F3-CS 光学膜厚测量仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: F3-CS/F3-CS-UV/F3-CS-NIR/F3-CS-XT
  • 产地:美国
  • Filmetrics F3-CS 薄膜厚度测量仪Filmetrics设计F3-CS,主要针对于微小视野及微小样品测量设计。从产线的操作人员到技术人员都可以在短时间内测试比如聚对二甲苯和真空镀膜类膜层。我们的专利自动基准校正功能缩短了测量前期搭建和机械化校准。在免提模式下,仅仅需要设定薄膜上下层信息就可以测量。系统可以测试数以百计的类型的膜层,不论是透明或不透明的基地材料。快速厚度测量选配FILMeasure厚度测试软件升级,当设定好样品信息后就可以很容易的测试膜层厚度。包括通常的介质材料和半导体层(包括C、N和HT)。厚度数据结果在短时间内就可以在测试结果中显示。针对更高级的用户,F3-CS也可以升级至测试反射率。F3-CS在Windows XP到64-bit Windows 8系统中都可以运行,并且一个USB线就可实现电源供应及通讯连接功能Filmetrics的优势桌面型薄膜厚度测量的全球领导者24小时电话,Email,在线支持直观的分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易

Filmetrics F3 光学膜厚测量仪

Filmetrics F3 光学膜厚测量仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: F3/F3-UV/F3-NIR/F3-XT/F3-XXT
  • 产地:美国
  • Filmetrics F3 薄膜厚度测量仪经济适用的反射率测试系统F3系统是专门为采集反射率光谱曲线设计的,并且可选配至厚度和指数测试功能,基本通用型拥有40000个小时适用寿命的光源及自动波长校准,大大提高了测试准确度。快速厚度测试升级厚度测试软件许可后,厚度值将在测试数据结果中直观的显示。软件中存入了常用的介质材料及半导体层的光学常数。指数测试功能(n 和 k)对于更高级用户来说, 指数测试软件升级能在短时间内提供折射率和消光系数。Filmetrics的优势桌面型薄膜厚度测量的全球领导者24小时电话,Email,在线支持直观的分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易相关应用半导体制造 光刻胶 氧化物 氮化物光学镀层 硬涂层 抗反射层 滤光器液晶显示器 盒厚 聚酰亚胺 ITO生物医学 聚对二甲苯 生物膜 消化纤维

Filmetrics F10-HC 光学膜厚测量仪

Filmetrics F10-HC 光学膜厚测量仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: Filmetrics F10-HC Thin-Film Analyzer
  • 产地:美国
  • Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪最具有价格优势的先进薄膜测量系统以 F20 平台为基础所发展的 F10-HC 薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上 F10-HC软件特有的先模拟演 算法的专利设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层 等)。前所未的简易操作界面现在,具有新样板模式功能的 F10-HC 将更容易使用,这个功能允许使用者汇入样品的影像(请参考下页),并直接在影像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是否有效,并将测量的结果显示在汇入的影像上让使用者分析。不需要手动基准校正F10-HC 现在能执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间,这个创新的方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量 。通自动设置积分时间完成自动校正, 这明可以让使用者立即的执行样本的测量而不再需要频繁的执行校正程序。背面反射干扰背面反射干扰对厚度测量而言是一个光学技术的挑战,具有F10-HC 系统的独特接触式探头能将背面反射干扰的影响最小化,使用者能以较高 的精准度来测量涂层厚度Filmetrics 优势? 嵌入式在线诊断? 免费离线分析软件? 精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!

Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

  • 品牌: 美国Filmetrics
  • 型号: F40/F40-UV/F40-ERX/F40-NIR/F40-UVX
  • 产地:美国
  • Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪

深圳禾苗供应镀层测厚仪,X射线光谱仪

深圳禾苗供应镀层测厚仪,X射线光谱仪

  • 品牌: 深圳禾苗
  • 型号: E3
  • 产地:深圳
  • E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

深圳禾苗供应镀层测厚仪,X射线光谱仪

深圳禾苗供应镀层测厚仪,X射线光谱仪

  • 品牌: 深圳禾苗
  • 型号: E3
  • 产地:深圳
  • E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

自产木柄钨钢刀片百格刀GYX-5123

自产木柄钨钢刀片百格刀GYX-5123

  • 品牌: 番禺高焱祥
  • 型号: GYX-5123
  • 产地:广州
  • 刀片采用钨钢制成,不仅可用于一般有机涂层的划格法附著力测定,更可用于铝、铁等金属基体上的有机涂层划格法附着力测定。

厂家直销GYX-515(原QFH) 百格刀 涂层 漆膜 划格器 附着力测试仪

厂家直销GYX-515(原QFH) 百格刀 涂层 漆膜 划格器 附着力测试仪

  • 品牌: 番禺高焱祥
  • 型号: GYX-515
  • 产地:广州
  • 该仪器以一定规格的工具,将图层做格阵图形切割并穿透,划格完成的图形按六级分类,评定涂层从底材分离的附著效果。

德光DC-1000C超声波测厚仪

德光DC-1000C超声波测厚仪

  • 品牌: 北京德光
  • 型号: DC-1000C
  • 产地:北京
  • DC-1000C超声波测厚仪 型号:DC-1000C品牌:德光产地:中国测量范围:用于测量硬质材质的厚度,如:钢铁、不锈钢、铝、铜等金属材料,及塑料、塑胶、陶瓷、玻璃等非金属;功能特点:1.具有B系列测厚仪的所有功能,增加以下新功能:2.开机探头自动零位校准,可手动二次校准,最大限度地消除测量偏差。3. 全新高精度探头设计,自动识别多种探头。 4.预置9种常用材料声速值,方便选用。5.大屏幕高清晰带背光液晶显示6.测量范围扩大至0.65mm – 400mm (不同探头决定不同测量范围)7.手动/自动增益调节 技术参数:点阵液晶+背光 : 128X64自动校零 手动二次校准 测量范围 0.8-300mm  中文菜单 示值精度 0.1mm声速调整 声速测量 公英制转换自定义声速 低电压显示 自动关机 最小值测量   外形尺寸 115x64x27mm重量 220g可选探头探头型号---频率-------测量范围 mm----直径 ----测量温度 D5008:-----5.0 MHz----0.8 - 300------8-------- 60℃D5113:-----5.0 MHz----2.0 - 200-----13 ------- 350℃D7006:-----7.5MHz-----0.7 - 50 ------6---------60℃D7004:-----10.0MHz----0.65 - 20 ---- 4-------- 60℃D2012:-----2.0MHz-----2.0-400.0-----12-------- 60℃标准配置 主机 :DC-1000C超声波测厚仪一台 探头 :D5008耦合剂:75mg耦合剂(瓶) 电池: (7号2节) 随机文件:一份仪器箱:一只 

德光DC-2000C超声波测厚仪

德光DC-2000C超声波测厚仪

  • 品牌: 北京德光
  • 型号: DC-2000C
  • 产地:北京
  • DC-2000C超声波测厚仪 型号:DC-2000C品牌:德光产地:中国测量范围:用于测量硬质材质的厚度,如:钢铁、不锈钢、铝、铜等金属材料,及塑料、塑胶、陶瓷、玻璃等非金属;功能特点:1.具有B系列测厚仪的所有功能,增加以下新功能:2.开机探头自动零位校准,可手动二次校准,更大限度地消除测量偏差。3. 全新高精度探头设计,自动识别多种探头。 4.预置9种常用材料声速值,方便选用。5.大屏幕高清晰带背光液晶显示6.测量范围扩大至0.65mm – 400mm (不同探头决定不同测量范围)7.手动/自动增益调节 技术参数:点阵液晶+背光 : 128X64自动校零 手动二次校准 测量范围 0.8-300mm  中文菜单 示值精度 0.01mm声速调整 声速测量 公英制转换自定义声速 低电压显示 自动关机 最小值测量   外形尺寸 115x64x27mm重量 220g可选探头探头型号---频率-------测量范围 mm----直径 ----测量温度 D5008:-----5.0 MHz----0.8 - 300------8-------- 60℃D5113:-----5.0 MHz----2.0 - 200-----13 ------- 350℃D7006:-----7.5MHz-----0.7 - 50 ------6---------60℃D7004:-----10.0MHz----0.65 - 20 ---- 4-------- 60℃D2012:-----2.0MHz-----2.0-400.0-----12-------- 60℃标准配置 主机 :DC-2000C超声波测厚仪一台 探头 :D5008耦合剂:75mg耦合剂(瓶) 电池: (7号2节) 随机文件:一份仪器箱:一只 

德光DC-2000B超声波测厚仪

德光DC-2000B超声波测厚仪

  • 品牌: 北京德光
  • 型号: DC-2000B
  • 产地:北京
  • DC-2000B超声波测厚仪 型号:DC-2000B品牌:德光产地:中国功能:用于测量硬质材料的厚度,如:钢铁、不锈钢、铝、铜等金属材料,及塑料、塑胶、陶瓷、玻璃等非金属材料厚度;适用范围:各类钢板,钢管厚度测量,及塑料桶,玻璃瓶,铝板,铝管等厚度测量,仪器型号:DC-2000B 技术参数 显示方法∶128X32 LCD 中文点阵液晶显示(带背光) 显示位数:四位 测量范围:0.7-250mm 示值精度:0.01mm 声速范围:1000-9999m/s 测量周期:2次/秒 自动关机时间:90秒 电源:二节七号(AAA)电池,可连续工作不少于72小时 使用温度:-10°C - 40°C 存储温度:-20°C - 70°C 外形尺寸:108x61x25mm 重量:230g (含电池) 仪器标准配置 主机:DC-2000B超声波测厚仪 一台 探头:PT-12 , PT-06 耦合剂:一瓶 电池:AAA Size 二节 随机资料:一份 仪器箱:一个DC-2000B超声波测厚仪适用于钢材测厚,管材测厚,塑料瓶测厚,塑胶测厚,玻璃瓶测厚,玻璃钢测厚,陶瓷测厚,铜板测厚,铝板测厚,及各类金属非金属硬质材料厚度测量。  

瓶口边厚仪BHY-01

瓶口边厚仪BHY-01

  • 品牌: 济南三泉中石
  • 型号: BHY-01
  • 产地:济南
  • 济南三泉中石实验仪器有限公司依据国家药包材标准研发生产了瓶口边厚仪BHY-01,该仪器配合专用位移测头,采取边转动边前推的测量法,可完成于西林瓶、口服液瓶、输液瓶等玻璃制品等瓶口边厚尺寸不同的药用玻璃瓶。

涂层测厚仪

涂层测厚仪

深圳禾苗供应镀层测厚仪,X射线光谱仪,光谱仪

深圳禾苗供应镀层测厚仪,X射线光谱仪,光谱仪

  • 品牌: 深圳禾苗
  • 型号: E3
  • 产地:深圳
  • E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

全自动高精度测厚仪思克专利

全自动高精度测厚仪思克专利

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 全自动高精度测厚仪思克专利适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

THI高精度薄膜测厚仪价格

THI高精度薄膜测厚仪价格

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 济南思克测试技术有限公司:品牌【SYSTESTER】型号:THI-1801测厚仪(又称THI高精度薄膜测厚仪价格,纸张测厚仪,芯片测厚仪等)检测范围:0~2mm(常规)0~6mm;12mm(可选)执行标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353为您提供THI高精度薄膜测厚仪价格分 辨 率:0.1μm产品信息,如您想了解更多关于THI高精度薄膜测厚仪价格价格、型号、参数及厂家信息 THI-1801测厚仪THI高精度薄膜测厚仪价格技术指标:测量范围:0~2mm(常规)0~6mm;12mm(可选)分 辨 率:0.1μm 测量速度:15次/min(可调)测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张) 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 THI高精度薄膜测厚仪价格产品特点:32位嵌入式系统控制技术专li技术,扁平化设计,直观,操作方便触摸屏操作所有操作均可在一个平面内完成,无须进入退出操作TFT真彩色液晶显示接触式厚度测量测试过程自动化完成手动、自动双重测量模式可采用标准厚度计量工具标定、检验符合多种标准规定,标准接触面积、测量压力(可定制)内嵌zui大值、zui小值、平均值、标准差等数据统计分析功能量程可调(可根据要求定制)配置微型打印机,可自动打印试验数据配置标准RS232通信口,利用专业计算机软件可zui大限度地挖掘试验数据价值 可支持以太网通信,方便数据联网(选购) 可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购) 相关检测:透湿透氧分析仪:薄膜透氧仪、透湿分析仪、薄膜透气分析仪、等压法氧气透过率检测定、杯式法水蒸气透过率测试仪、电解法水蒸气透过率分析仪、红外法水蒸气透过率测试仪、混和气体透过率测试仪、多种气体透过率测试仪、阻隔性测试仪、膜分离测试分析仪包装检测仪:电子拉力试验机、软包装拉力试验机、摩擦系数仪、动静摩擦系数仪、表面滑爽性测试仪、热封试验仪、热封强度测试仪、落镖冲击试验仪、密封试验仪、高精度THI高精度薄膜测厚仪价格、扭矩仪、医yao包装性能测试仪、卡式瓶滑动性测试仪、安瓿折断力测试仪、胶塞穿刺力测试仪、电化铝专用剥离试验仪、离型纸剥离仪、泄漏强度测试仪、薄膜穿刺测试仪、弹性模量测试仪、气相色谱仪、溶剂残留测试仪等优质包装性能测试仪!   

高精度高精度锂电池极片测厚仪

高精度高精度锂电池极片测厚仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 高精度锂电池极片测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

高精度薄膜全自动测厚仪(操作简单)

高精度薄膜全自动测厚仪(操作简单)

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 薄膜全自动测厚仪(操作简单) 适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

烟用接装纸厚度测试仪

烟用接装纸厚度测试仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 烟用接装纸厚度测试仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

测厚仪/薄膜专用高精度测厚仪

测厚仪/薄膜专用高精度测厚仪

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 测厚仪/薄膜专用高精度测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

优质高精度测厚仪THI系列

优质高精度测厚仪THI系列

  • 品牌: 济南思克
  • 型号: 1801
  • 产地:济南
  • 优质高精度测厚仪THI系列适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

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