其它测厚仪测厚仪(thickness gauge )是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。常见的测厚仪有激光测厚仪、纸张测厚仪、X射线测厚仪、薄膜测厚仪、超声波测厚仪等,其他测厚仪有红外线测厚仪。红外线测厚仪是利用成对红外线探头组成红外线发射和接收系统,当被测物通过这组探头时,由于被测物吸收红外线而使发射端发出来的红外线在经过被测物发生衰减这一特性以确定被测物的厚度,然后利用计算机作为主处理器,进行信号在线采集处理、数字图像显示、报警等功能。
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No.507 漆膜测厚仪
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No.507 漆膜测厚仪 测试标准:JIS-(K5400)、K5600-1-7、ISO-2808 产品介绍: 该设备是用于测定涂料漆膜厚的回转式漆膜测厚仪。设备共有3个测量环,中间的环比外侧的环略小且偏心。旋转中间的偏心环,当偏心环与漆膜表面相互接触时读取刻度值。 资料来源:http://www.shijiawanlian.com/507.htm
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