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上海PIG多用途干膜检测仪破坏性测厚仪
品牌:上海沪粤明
型号:PIG
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TH110A 里氏硬度计
品牌:上海沪粤明
型号:TH110A
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CH-1-S塑料薄膜薄片手式测厚仪
品牌:上海六菱
型号:CH-1-S
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CH-12.7-ATSX1/100台式数显橡胶测厚仪
品牌:上海六菱
型号:CH-12.7-ATSX
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上海普申HCC-18磁性测厚仪国产指针测厚仪
品牌:上海普申
型号:HCC-18
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NR2100油膜测厚仪
- 品牌:日本仓纺
- 型号: NR2100
- 产地:日本
Kurabo NR2100是Kurabo公司的老款RX210的升级版,主要用于各种有机涂层,如钝化膜,防锈油,耐指纹涂层的重量或厚度检测。Kurabo NR2100手提红外测厚仪的应用场合:◇ 钢板上防锈油、钝化膜、耐等有机油膜厚度和重量;◇ 铝罐材料等树脂涂布量的测量;◇ 彩色钢板的底漆及背面涂布的涂布量测量;◇ Kurabo NR2100 手提红外测厚仪可对DOS油膜超薄厚度精确测量。
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红外线测厚仪|防锈油|钝化膜|耐指纹|硅钢
- 品牌:日本仓纺
- 型号: RX-210测厚仪
- 产地:日本
仪器简介: 钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量 耐指纹、润滑性钢板等有机皮膜涂布量的测量 铝罐等有机皮膜涂布量的测量 彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量 其他金属上有机皮膜涂布量的测量技术参数:测量范围: 0.1~10μm(根据材质及基材)反复再现性 0.01μm以下(根据材质及基材)测量方法 红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)主要特点:非常适合管理钢板和铝板上的防锈油,滚轧润滑油等的涂油量及有机皮膜涂布量(有机附着量)。 本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。 如果把红外线照射到被测物上,就会
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普创BTG-02玻璃瓶壁厚仪
- 品牌:山东普创
- 型号: BTG-02
- 产地:济南
玻璃瓶壁厚仪 底厚测厚仪产品特点玻璃瓶壁厚仪 底厚测厚仪是PET饮料瓶、罐头瓶、玻璃瓶、铝罐等包装容器理想测量仪器;适用于纹路复杂的包装容器壁厚、底厚的精确测量。具有方便、耐用、精度高、价格低廉等优势。广泛应用于玻璃瓶、塑料瓶生产企业及医药、保健品、化妆品、饮料、酒类生产企业。玻璃瓶壁厚仪 底厚测厚仪产品特征●适用于玻璃瓶、矿泉水瓶等纹路复杂的试样●瓶底、瓶壁厚度测试一机完成●超标准高精度表头●机械式设计简单耐用●大、小试样灵活可测●液晶数字显示玻璃瓶壁厚仪 底厚测厚仪产品技术参数●测量范围:0-12.7
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上海普申G6自动型磁性测厚仪涂层测厚仪
- 品牌:上海普申
- 型号: G6
- 产地:嘉定区
型号:G6 自动型 产品名称:磁性涂层测厚仪 测量范围:0~100 μm; 测量精度: 1μm或5%; 最小测量区直径:20 mm; 最小曲率半径: 凸面半径≥5 mm 凹面半径 ≥25 mm; 最小基体厚度:≥0.5 mm; 型号:F6 自动型; 测量范围:0~1000 μm; 测量精度: 3μm或5%; 最小测量区直径:Φ30 mm; 最小
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FISCHERSCOPE® X-RAY XULM 240
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: FISCHERSCOPE? X-RAY XULM 240
- 产地:德国
特点§ 用途广泛的镀层厚度测量仪§ 通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和较厚的镀层进行同样效果的测量. § 配有的微聚焦管,可以测量100 μm大小的微小测量点§ 比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率§ 从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品。§ 底部C型开槽的大容量测量舱典型应用领域§ 测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层§ 电子行业中接插件和触点上的镀层§ 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/AB
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美国 麦克罗其它测厚仪
- 品牌:美国Micro-Metrics
- 型号: MOG-204
- 产地:美国
麦克罗(Micro)OG204是一款漆膜检测仪器,适用于常规的电磁测量技术不能工作的情况。主要测量木头、混凝土、玻璃、塑料和其他非金属基材上的涂层。 麦克罗(Micro)OG204可直接测量塑料、玻璃陶瓷、木材、水泥、陶瓷和软金属基材上涂料、镀层薄膜的厚度;评估底材表面状况和涂层的附着力; 鉴定电磁性测厚仪的准确度;评估工件抛光、清洗情况。
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Filmetrics F10-HC 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F10-HC Thin-Film Analyzer
- 产地:美国
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪有价格优势的先进薄膜测量系统以 F20 平台为基础所发展的 F10-HC 薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上 F10-HC软件特有的先模拟演 算法的ZG设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层 等)。前所未的简易操作界面现在,具有新样板模式功能的 F10-HC 将更容易使用,这个功能允许使用者汇入样品的影像(请参考下页),并直接在影像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是否有效,并将测量的结果显示在
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Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F40/F40-UV/F40-ERX/F40-NIR/F40-UVX
- 产地:美国
Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪Filmetrics F40 光学膜厚测量仪
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Filmetrics F3 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3/F3-UV/F3-NIR/F3-XT/F3-XXT
- 产地:美国
Filmetrics F3 薄膜厚度测量仪经济适用的反射率测试系统F3系统是专门为采集反射率光谱曲线设计的,并且可选配至厚度和指数测试功能,基本通用型拥有40000个小时适用寿命的光源及自动波长校准,大大提高了测试准确度。快速厚度测试升级厚度测试软件许可后,厚度值将在测试数据结果中直观的显示。软件中存入了常用的介质材料及半导体层的光学常数。指数测试功能(n 和 k)对于更高级用户来说, 指数测试软件升级能在短时间内提供折射率和消光系数。Filmetrics的优势桌面型薄膜厚度测量的全球24小时电话,Ema
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Filmetrics F3-CS 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3-CS/F3-CS-UV/F3-CS-NIR/F3-CS-XT
- 产地:美国
Filmetrics F3-CS 薄膜厚度测量仪Filmetrics设计F3-CS,主要针对于微小视野及微小样品测量设计。从产线的操作人员到技术人员都可以在短时间内测试比如聚对二甲苯和真空镀膜类膜层。我们的ZG自动基准校正功能缩短了测量前期搭建和机械化校准。在免提模式下,仅仅需要设定薄膜上下层信息就可以测量。系统可以测试数以百计的类型的膜层,不论是透明或不透明的基地材料。快速厚度测量选配FILMeasure厚度测试软件升级,当设定好样品信息后就可以很容易的测试膜层厚度。包括通常的介质材料和半导体层(包括C
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Filmetrics F20 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20-UV/F20-UVX/F20/F20-EXR/F20-NIR
- 产地:美国
Filmetrics F20 光学膜厚测量仪选择 Filmetrics 的优势桌面型薄膜厚度测量的全球24 小时电话, Email,在线支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易性价比的先进薄膜厚度测量系统使用 F20 高级频谱反射测量系统,我们能轻松的实现对膜层厚度和光学常数(n 和 k 值)的测量。
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Filmetrics 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F60-UV F60-UVX F60F60-EXR F60-NIR F60-XT
- 产地:美国
美国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k, 采用 r-θ 极坐标移动平台,可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度, 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的
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Filmetrics F64-C 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F64-c膜厚测量仪
- 产地:美国
膜厚测量测试仪 光学膜厚测量仪Filmetrics F64-C晶片生产中自动化测量薄膜厚度分布图案系统依靠 F64 先进的光谱反射系统,可以很简单快速地获得产品薄膜厚度及 n 和 k 值的分布图。利用图形识别软件控制高精度移动平台,自动寻找测试点,并以每个点约 1.5 秒快速生成厚度。机动化的转台能够最多配置四个物镜,方便选择多个不同尺寸的光斑。 针对不同的晶圆尺寸,盒对盒系统可以很容易的自动转换,匹配当前盒子的尺寸。可测样品膜层基本上所有光滑的、透明半透明的或低吸收系数的膜层都可以测量。可测样品包括:氧
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桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F70
- 产地:美国
桌面式膜厚测量仪 Filmetrics F70测量厚度上限可达 15 毫米可透光材料对可透光材料来说,色差共焦测量( CTM)是一种非接触式的测量方式,最多可同时测量两层。这种测量方式,较不受待测样品表面粗糙度、均匀性、或曲率的影响。CTM 厚度测量基本上是藉由探测膜层上下界面的距离进而获得厚度值。透过专业透镜聚焦不同波长的光,而聚焦在待测样品上下界面的光反射回探测器后,就会在光谱图中看到二处信号波峰,进而推算出波峰之间的距离,即为待测薄膜的厚度值(本法利用不同波段,光颜色差异来探测膜层厚度,故取名色差共
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BEVS1701 湿膜片
- 品牌:广州BEVS
- 型号: BEVS1701
- 产地:
产品概述:测量在平滑表面上涂料、瓷、清漆、胶粘剂或其它材料的湿厚度。用高级不锈钢制成,用相应的溶剂易清洗且不易损坏。技术参数:l外形为五边形l2种规格符合标准:ASTM-BS-ISO订购信息:BEVS1701/29020-350μm湿膜片BEVS1701/60025-2700μm湿膜片
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深圳禾苗供应镀层测厚仪,X射线光谱仪,光谱仪
- 品牌:深圳禾苗
- 型号: E3
- 产地:深圳
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。
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Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: Filmetrics F80-C
- 产地:美国
Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪F80-C膜厚测量仪使生产晶片的测量变得简单实惠工艺工程师希望薄膜厚度测量是快速容易的,现在高精度的厚度成像技术让 Filmetrics 可以快速建立配方,并且拥有行业领xian的测试速度,而且价格仅仅是同行业测量设备的小部分。 F80 可以应用在化学机械抛光、化学气相沉积、蚀刻等工艺中,这是晶片追索工艺工程师所期待的。新技术= 低成本与传统的测量工具不同, F80 不需要高精度的移动硬件去找寻微小的测试 pads,相反的,它可以快速的测量每个 pad 附近数以千
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数显橡塑手提式测厚仪/电子测厚仪/高精度测厚仪
- 品牌:江苏明珠
- 型号: MZ-4031B
- 产地:扬州
MZ-4031B 数显橡塑手提式测厚仪适用于测量电缆厚度及硫化橡胶制品的厚度
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金属覆盖层厚度测试仪
- 品牌:上海泊睿
- 型号: BR-UL-MCT
- 产地:
BR-UL-MCT Metallic Coating Thickness Test SystemImplementation of standards: UL 1703-20015, ASTM B499-2009, ISO 2178-1995The test for corrosive atmosphere Test, include salt spray test and moist carbon dioxide / sulphur dioxide, measure the thicknees of c
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美国费希尔 FISCHERSCOPE® XDAL®
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: FISCHERSCOPE? XDAL?
- 产地:美国
特点§ 配备了半导体探测器,由于有更好的信噪比,能更精确地进行元素分析和薄镀层测量§ 使用微聚焦管可以测量较小的测量点,但因为其信号量较低,不适合测量十分细小的结构 § 底部C型开槽的大容量测量舱§ 有弹出功能的快速、可编程XY平台典型应用领域§ 镀层和合金的材料分析(还适用于薄镀层和低含量成分)§ 来料检验,生产监控§ 研究和开发§ 电子工业§ 接插件和触点§ 黄金、珠宝和钟表工业§ 可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层§ 痕量元素分析§ 在有“高可靠性”要求的应用中确定
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美国菲希尔 FISCHERSCOPE® XDL XDLM
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: FISCHERSCOPE? XDL XDLM
- 产地:美国
特点§ 坚固耐用的镀层厚度测量设备,甚至可在较大的距离测量(DCM功能,范围0-80 mm)工作§ 固定光圈和固定滤光镜§ 用于1mm起大小的测量点§ 底部C型开槽的大容量测量舱§ 可编程的台式设备,用于自动测量§ 标准X射线管,比例计数器典型应用领域§ 测量大规模生产的电镀零件§ 防腐镀层和装饰性镀层,如镍/铜上的铬§ 电镀工业中电镀液的分析§ 黄金、珠宝和钟表工业
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美国菲希尔 FISCHERSCOPE® XDV-SDD
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: FISCHERSCOPE? XDV-SDD
- 产地:美国
特点§ 高级型号仪器,具有常见的所有功能§ 射线激发量的灵活性最大,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变§ 通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率)的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低§ 极低的检测下限和出色的测量重复度§ 带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量设备§ 大容量便于操作的测量舱典型应用领域§ 测量极薄的镀层,例如应用于电子和半导体行业中§ 痕量分析,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测§ 进行高精度的黄金和贵金属分析§ 光伏产业
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美国菲希尔 FISCHERSCOPE® X-RAY 4000
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: FISCHERSCOPE? X-RAY 4000
- 产地:美国
特点§ 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量§ 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度§ 操作简单,设置时间短§ X射线探测器可以为比例计数管,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器§ 有定位装置,用于测量多个位置进行测量§ 根据客户需要专门设计§ 自动校准§ 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线§ 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中典型应用领域§ 电镀条带,例如接触点、冲压带§ 测量热镀锌钢带§ 太阳能薄膜电池(光伏产业§ 薄膜和条带上的金属涂镀层§ 电子工业及其
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美国菲希尔 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN220 250
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: FISCHERSCOPE? X-RAY XAN220 250
- 产地:美国
特点§ 优化珠宝、钱币和贵金属的无损分析§ 固定光圈和固定滤光镜,特别适用于贵金属分析§ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD) 的型号还适用于更复杂的多元素分析§ 由下至上的测量方向可以最简便地实现样品定位典型应用领域§ 珠宝和钟表行业中的黄金和贵重金属分析§ 牙科合金分析
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英国牛津 X-MET7000 系列手持式X射线荧光光谱仪
- 品牌:牛津仪器
- 型号: X-MET7000 系列手持式X射线荧光光谱仪
- 产地:英国
X-MET7000 系列手持式X射线荧光光谱仪,操作灵活简单,是各个行业元素分析的理想工具。基于行业认可的能量色散X射线荧光(EDXRF)技术,X-MET7000 系列性能强大、可靠性高,只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。这款X射线荧光分析仪 X-MET7000 系列集众多优势于一体:“一键”分析:操作简单,只需简单培训市面上最大的彩色触摸屏,采用图标操作的用户界面:在任何天气条件下都能呈现**可视度长达10-12小时的电池量,充电一次可以使用一整天简单强大的安全数据下载系统,灵活的报告导出格式,
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英国牛津 X-StrataX射线荧光(XRF)镀层厚度测量仪
- 品牌:牛津仪器
- 型号: X-StrataX射线荧光(XRF)镀层厚度测量仪
- 产地:英国
利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。镀层测厚仪X-Strata系列提供:无损分析:无需样品制备经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益操作简单,只需要简单的培训分析只需三步骤杰出的分析准确性和精确性在镀层测厚领域拥有超过20年的丰
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No.507 漆膜测厚仪
- 品牌:日本安田精机
- 型号: No.507
- 产地:日本
No.507 漆膜测厚仪 测试标准:JIS-(K5400)、K5600-1-7、ISO-2808 产品介绍: 该设备是用于测定涂料漆膜厚的回转式漆膜测厚仪。设备共有3个测量环,中间的环比外侧的环略小且偏心。旋转中间的偏心环,当偏心环与漆膜表面相互接触时读取刻度值。 资料来源:http://www.shijiawanlian.com/507.htm
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轮轨湿膜测厚仪
- 品牌:上海魅宇
- 型号: QUL
- 产地:
QUL轮轨湿膜测厚仪是由上海魅宇仪器设备有限公司所提供,如果你想进一步详细了解QUL湿膜测厚仪的价格、规格、工艺、性能、操作,请电话联系上海魅宇仪器设备有限公司。此产品保修期为一年。保修期内维修所产生的费用,除了有明确规定不属于保修范围的以外,其它包括元件费、工时费、差旅费及运输费等一切费用,均由我公司承担。我公司产品出厂时都会做严格检查或试机,所以出现质量问题的概率非常小。我公司坚持从细节做起,严把质量关,努力做到精益求精。一、 QUL轮轨湿膜测厚仪用途及概述: 该仪器按照国际标准ISO2808-19
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六角梳规湿膜测厚仪
- 品牌:上海魅宇
- 型号: 112
- 产地:
六角梳规湿膜测厚仪是由上海魅宇仪器设备有限公司所提供,如果你想进一步详细了解六角梳规湿膜测厚仪的价格、规格、工艺、性能、操作,请电话联系上海魅宇仪器设备有限公司。此产品保修期为一年。保修期内维修所产生的费用,除了有明确规定不属于保修范围的以外,其它包括元件费、工时费、差旅费及运输费等一切费用,均由我公司承担。我公司产品出厂时都会做严格检查或试机,所以出现质量问题的概率非常小。我公司坚持从细节做起,严把质量关,努力做到精益求精。六角梳规湿膜测厚仪简介: 湿膜测厚仪是测量色漆、清漆等各种涂料在施工时涂层厚度
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进口德国油膜测厚仪
- 品牌:上海孚光精仪
- 型号: FP-FILM
- 产地:德国
油膜测厚仪,涂层测厚仪由服务商-孚光精仪进口销售!油膜测厚仪,涂层测厚仪由ZG领xian的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售!孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询!油膜测厚仪德国原装进口手持式油膜厚度测量仪,油膜测厚仪,油膜厚度测量系统,厚膜测厚系统涂层测厚仪广泛用于德国大众汽车公司, 钢铁制造和机械制造企业油膜测厚仪油膜厚度测量范围:0.2---6g/m^2 (约等于微米)这款油膜测厚仪德国原装进口的,便携,方便使用,非常成功地用于油膜厚度的测量,机械部件的上油、油润控制,非常广泛地
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厚度计
- 品牌:瑞典ELASTOCON
- 型号: EV 01
- 产地:瑞典
厚度计 可连接电脑 EV 01厚度计,按照 ISO 23529用于厚度测定,按照 ISO 815用于压缩形变测定 技术特点: 数字计改良用于橡胶,塑料或纺织品压力的测量,包括10mm量块,起重索,测量底座和砝码用于厚度测量。 结构稳定,可较好地调节高度。 接口套件, EV 01.04用于连接电脑,包括线和脚踏开关。(可选) 软件 EC 02 用于厚度测量和电脑测试压缩形变。 程序可将结果存储在磁盘中 ,并可与趋势图及统计
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长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪
- 品牌:广东爱思达
- 型号: CB11
- 产地:
广东正业生产的长臂板厚测量仪,专用于PCB板行业的,用于检测覆铜层压板和多层板压层后的厚度测量,以及其它板材厚度的测量。 长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪用途: 主要用于覆铜层压板和多层板压层后的厚度测量,以及其它板材厚度的测量。 长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪特点: ●喉深大,能对大型板材中间部位的厚度进行测量 ●板厚测量范围大,测量精度高 ●能进行mm/inch公制、英制单位切换 ●测量数
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橡塑台式测厚仪/塑料试片厚度/橡胶材料厚度计
- 品牌:江苏明珠
- 型号: MZ-4030
- 产地:扬州
本仪器适用于测量橡胶、塑料等材料试片及制品的厚度。
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CDE DualMap 薄膜厚度测量仪
- 品牌:
- 型号: DualMap 薄膜厚度测量
- 产地:美国
CDE DualMap 薄膜厚度测量及电阻率绘图测量集成系统CDE DualMap 薄膜厚度测量CDE DualMap 薄膜厚度测量CDE DualMap 薄膜厚度测量CDE DualMap 薄膜膜厚度测量仪CDE DualMap 薄厚度测量仪式CDE DualMap 薄膜厚度测量仪
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云飞YH-1叶片厚度测定仪
- 品牌:郑州云飞
- 型号: YH-1
- 产地:
技术参数:测量范围:0-6mm分 辨 率:0.01mm精 度:0.015mm接触面积:Φ10mm读取装置:指针式
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BYK-Gardner湿膜测厚仪
- 品牌:德国BYK
- 型号: PG-3501
- 产地:德国
BYK-Gardner湿膜测厚仪 对于新涂装的涂料进行湿膜厚度的测量是非常重要的。一方面,湿膜厚度影响产品的涂装质量。另一方面,过厚的涂装件会很昂贵。按照不同 的施工方法,建议使用湿膜测厚仪测量湿膜厚度。BYK-Gardner提供梳子状或阶梯状的湿膜测厚仪。 BYK-Gardner湿膜测厚仪-梳子状 该梳子测厚仪是齿状的,在六个面的两端都有支撑基点,每个面均有不同长度的齿。 六角型的测厚仪由耐腐蚀的
- 其它测厚仪
- 仪器网导购专场为您提供其它测厚仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选其它测厚仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。