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F20 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20
- 产地:美国
测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器,需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率,F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好,通过USB与电脑连接,测量数据结果不到一分钟就能得到。
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Filmetrics 薄膜厚度测量系统F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
- 产地:美国
只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 。
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F10-AR 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F10-AR
- 产地:美国
F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。 F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训,就可以进行厚度测量。
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F50 光学膜厚测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F50
- 产地:美国
自动化薄膜厚度绘图系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘,样品直径可达450毫米。(耐用的平台在我们的量产系统能够执行数百万次的量测!)測绘圖案可以是极座標、矩形或线性的,您也可以创造自己的测绘方法,并且不受测量点数量的限制。內建数十种预定义的测绘圖案。
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F54 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54
- 产地:美国
动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54光谱测量系统,可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
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F20 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20
- 产地:美国
测量厚度从1nm到10mm的先进膜厚测量系统如果您正在寻找一款仪器,需要测量厚度、测量光学常数或者仅需要测量材料的反射率和穿透率,F20您值得拥有。仅仅几分钟内就可以安装好,通过USB与电脑连接,测量数据结果不到一分钟就能得到。
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F3-sX
- 产地:美国
F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测zuida厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀,F3-sX系列配置10微米的测试光斑直径因而可以快速容易的测量其他膜厚测试仪器不能测量的材料膜层。而且仅在几分之一秒内完成。
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F60-t 薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F60-t
- 产地:美国
依靠 F60光学膜厚测量仪的光谱测量系统,可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。采用 r-θ 极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。在约 45 秒的时间就可以扫描完标准 49 点分布图。
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F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54-XY-300
- 产地:美国
借助F54-XYT-300的光谱反射系统,可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
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F54-XY-200薄膜厚度测量仪
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F54-XY-200
- 产地:美国
借助F54-XY-200光谱反射系统,可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
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Filmetrics 膜厚仪 薄膜厚度测量仪 F20 F30 F40 F50 F60
- 品牌:美国Filmetrics
- 型号: F20 F30 F40 F50 F60
- 产地:美国
美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上zui具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间,测量精度高达1 埃,测量稳定性高达 0.7 埃,测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括:生物医学(Biomedical), 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs)等。
- 薄膜测厚仪
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