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薄膜测厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR- Pro UV/NIR-HR
- 产地:希腊
干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。 1 、非接触式
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扫描型光学膜厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Scanner
- 产地:希腊
FR-Scanner 扫描型光学膜厚仪主要由以下系统组成:A) 光学光源装置小型低功率混合式光源本系统混合了白炽灯和LED灯,形成光谱范围360nm- 1100nm;该光源系统通过微处理控制,光源平均寿命逾10000小时;集成小型光谱仪,光谱范围360-1020nm,分辨精度 3648像素CCD 和 16位 A/D 分辨精度.集成式反射探针,6组透射光探针(200um),1组反射光探针,探针嵌入光源头,可修整位置,确保探针无弯曲操
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便携式光学膜厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Portable
- 产地:希腊
FR-portable 便携式膜厚仪主要由以下系统组成:Α白炽-LED混合集成式光源系统,通过内嵌式微处理器控制,使用寿命超过20000小时。小型光谱仪,光谱范围370nm –1050nm,分辨精度可达3648像素, 16位级 A/D 分辨精度;配有USB通讯接口;Β) FR-Monitor膜厚测试软件系统,可精确计算如下参数:1)单一或堆积膜层的厚度; 2)静态或动态模式下,单一膜层的折射率;本软件包含了类型丰富的材料折射率数据库,可以有效地协助用户进行线下或者在线测试分析。本系统可支持吸
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ThetaMetrisis薄膜测厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Basic UV/VIS
- 产地:希腊
品牌:西塔名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高
- 薄膜测厚仪
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