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薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline
- 品牌:德国Sentech
- 型号: RT Inline
- 产地:德国
薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作为内部参考测量。利用FTPadv Expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。
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自动扫描薄膜测量仪器SenSol
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SenSol
- 产地:德国
自动扫描薄膜测量仪器SenSol,是SENTECH光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用SenSol,可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性,从而可以显著减少仪器维护后重新开始生产的时间。
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SENperc PV光伏测量仪
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SENperc PV
- 产地:德国
SENperc PV光伏测量仪 是PERC电池制造质量控制的创新解决方案。SENperc PV 测量Al2O3/SiNx堆叠层和用于钝化PERC电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此,可以优化维护时间间隔。
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台式薄膜探针反射仪 FTPadv
- 品牌:德国Sentech
- 型号: FTPadv
- 产地:德国
台式薄膜探针反射仪 FTPadv FTPadv是一种具有成本效益的台式反射膜厚仪解决方案,它具有非常快速的厚度测量。在100毫秒以内进行测量,其精度低于0.3nm,膜厚范围在50 nm -25 µm。为了便于分光反射测量操作,该仪器包括了范围广泛的预定配方。
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反射膜厚仪RM 1000/2000
- 品牌:德国Sentech
- 型号: RM 1000/2000
- 产地:德国
反射膜厚仪RM 1000/2000,具有200nm-930nm的紫外-近红外光谱范围。光学布局为光吞吐量优化,以便即使在粗糙或曲面上也能可靠地测量n和k。精确的高度和倾斜特别适用于精确的单光束反射率测量,且测量非常稳定。
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TQC SP1100 破坏性干膜测厚仪
- 品牌:荷兰TQC仪器
- 型号: TQC SP1100
- 产地:荷兰
TQC SP1100 破坏性干膜测厚仪 SP1100破坏性测厚仪是用铝钛合金制成的精密的破坏性涂层厚度测量仪器,主要用于检查和测量单/多涂层的底材(事实上全部)的涂层厚度,包括:木材,塑料,金属等的涂层厚度测量。也可以用于评估和测量基材和涂层的缺陷。Super-PIG在涂层上切个小切口,借助LED照明显微镜测量网格测量切口,减少计算。独特的旋转系统包含三个不锈钢切刀和一个横切刀。 SP1100破坏性干膜测厚仪产品简介 SP1100破坏性测厚仪是用铝钛合金制成的精密的破坏性涂层厚度测量仪器,主要用于检查和测量单/多涂层的底材(事实上全部)的涂层厚度,包括:木材,塑料,金属等的涂层厚度测量。也可以用于评估和测量基材和涂层的缺陷。Super-PIG在涂层上切个小切口,借助LED照明显微镜测量网格测量切口,减少计算。独特的旋转系统包含三个不锈钢切刀和一个横切刀。 破坏性涂层测厚仪照相机适配器 设备简单而GX,可以通过SP1000 Super-PIG的显微镜制作数码照片。适配器装在显微镜头上,圆锥形的特别设计适合内部的防眩塑料,它适合于各种镜头直径小于42mm的数码相机。 重量: 60g 直径: 48mm 高度: 14mm 破坏性测厚仪供货范围 适配器以及皮套,腰带夹。
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TQC VF2255 / 2256 / 2257 湿膜厚度测量轮
- 品牌:荷兰TQC仪器
- 型号: TQC VF2255 / 2256 / 2257
- 产地:荷兰
TQC VF2255 / 2256 / 2257 湿膜厚度测量轮 TQC湿膜厚度测量轮是一款由不锈钢和铝制成的涂层厚度测量仪器,可用于测量湿膜,涂层,油涂表面的厚度。湿膜厚度测量轮装备了一个滚珠轴承用来降低滚动阻力,可用卷材涂料测量。 产品简介 TQC湿膜厚度测量轮是一款由不锈钢和铝制成的涂层厚度测量仪器,可用于测量湿膜,涂层,油涂表面的厚度。湿膜厚度测量轮装备了一个滚珠轴承用来降低滚动阻力,可用卷材涂料测量。 测量时,具有偏心轮缘的测量轮在涂膜的表面滚动。
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球磨测厚仪
- 品牌:法国TRIBOtechnic
- 型号: QMCHY
- 产地:法国
※ 快速测量硬质涂层(金属镀层)厚度的仪器。 ※ 控制单元自带可编程的微处理器,速度、时间、球型、 X和Y距离可调。 ※ 显微镜:放大倍数100X,自带LED光源,目镜最小刻度为 0.02mm。 ※ 自动厚度校准。 ※ 工作时间范围:1-30min。 ※ 球型:10、15、20、25、30mm。 ※ 球磨速度可控:200-1000tr/min。
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海思创TI 980 TriboIndenter纳米压痕仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: TI 980 TriboIndenter
- 产地:德国
Bruker’s Hysitron TI 980 TriboIndenter 海思创TI 980 TriboIndenter纳米压痕仪是布鲁克先进的纳米力学测试设备,同时具有高的性能、灵活性、可信度、实用性和速度。TI 980纳米压痕仪是布鲁克海思创纳米压痕设备的产品。
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Hysitron TS 77 Select 纳米压痕仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Hysitron TS 77 Select
- 产地:德国
TS 77 Selec产自动台式纳米力学和纳米摩擦测试系统提供了同级别仪器中高的测试性能,功能性和易用性。基千布鲁克zhu 名的Triboscop铲电容式传感器技术,这套新的测试系统支持从纳米到微米尺度的可靠的力学和摩擦学表征。
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薄膜测厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR- Pro UV/NIR-HR
- 产地:希腊
干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。 1 、非接触式
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瑞士Powatec 8寸晶圆紫外固化机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: U-200
- 产地:瑞士
POWATEC 固化系统用于固化最大 8" 的晶圆和框架。LED 产生 365 nm 的波长,最大输出光功率为 750 mW。打开盖子,将晶圆放在左侧传送带上。按下启动按钮。晶圆在 LED 单元上方移动到右侧。固化在大约 20-30 秒后完成,产生 130-180 帧/小时的稳定吞吐量。完全可调的固化时间范围在 15 秒到 3 分钟之间。主要特点:采购成本低=总拥有成本 (COO) 低没有产生有害臭氧零预热时间UV - LED使用寿命长( 10,000小时以上)低强度下降(1
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瑞士Powatec 12寸晶圆贴膜机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: L-300
- 产地:瑞士
POWATEC L-300 手动层压机的独特设计允许一次性将粘性箔或 UV 箔层压到最大 300 毫米的晶圆上。在层压过程中,一个特殊的卡盘通过真空将晶圆固定在适当的位置。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:高达 300 毫米的晶圆尺寸带平面或不带平面的卡盘设计可调胶带张力快速轻松地转换为各种晶圆和箔片紧凑而坚固的桌子设计安装和启动时间短运营成本低UPH,胶带晶圆/小时高达 80 片选项:UV胶带(PTW)保护胶带卷绕机的自动卷绕装置 静
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瑞士Powatec 8寸晶圆贴膜机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: L-200
- 产地:瑞士
POWATEC L-200 手动晶圆贴膜机的独特设计允许一次性将粘性箔或 UV 箔层压到晶圆上。三个气动销使晶圆居中,一个特殊的真空吸盘在层压过程中将晶圆保持在适当的位置。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:最大 8" 晶圆尺寸带平面或不带平面的卡盘设计可调胶带张力快速轻松地转换为各种晶圆和箔片紧凑而坚固的桌子设计安装和启动时间短运营成本低UPH,胶带晶圆/小时高达 80 片选项:胶片框架转换套件 4" - 8"保护胶带卷绕机的自动卷绕装置&nbs
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瑞士Powatec 12寸晶圆贴片机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: P-300
- 产地:瑞士
瑞士POWATEC公司P-300 型晶圆贴片机允许在单程中将薄膜粘合到晶圆/基板和框架上。在安装过程中,晶圆通过真空保持在抗静电玻璃料(碳)上。这种玻璃料在粘附过程中保护晶片表面并吸收任何污垢颗粒。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:将胶带和晶圆一次性安装到框架上,最大 300 毫米可以处理矩形基板、晶圆片以及凸块晶圆可加工厚度达 30 µ 的晶圆快速轻松地转换为不同的晶圆、框架和箔片类型紧凑、坚固的桌面设计安装和启动时间短运营成本低UPH,安装晶
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瑞士Powatec 8寸晶圆贴片机
- 品牌:瑞士POWATEC
- 型号: P-200
- 产地:瑞士
瑞士POWATEC晶圆贴片机 P-200 型允许在单程中将薄膜粘合到晶圆/基板和框架上。在安装过程中,晶圆通过真空保持在抗静电玻璃料(碳)上。这种玻璃料在粘附过程中保护晶片表面并吸收任何污垢颗粒。使用橡胶辊,箔安装无气泡。使用切割装置,薄膜在框架上被切割并被薄膜卷的横向直径分开。主要特点:将胶带和晶圆一次性安装到框架上,最大 8"可以处理矩形基板、晶圆片以及凸块晶圆可加工厚度达 30 µ 的晶圆快速轻松地转换为不同的晶圆、框架和箔片类型紧凑、坚固的桌面设计安装和启动时间短运营成本低符合 IEC 204-1
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德国马尔数显卡尺18ESA轻便型500
- 品牌:德国凯发
- 型号: 500
- 产地:德国
原装,全新进口,德国马尔Mahr数显卡尺18ESA轻便,高精度. 价优:市场的半价。
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德国KAFER数显测厚仪FD50
- 品牌:德国凯发
- 型号: FD50
- 产地:德国
分度值:0.001毫米 量程:10毫米 颈深:50毫米 液晶显示器,字母高度8.5毫米 测量系统:线性电感 锂电池3V,电池寿命3000小时 数字输出:RS232,光耦合/USB 工作温度:5-4050°C ZD误差5UM.
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RR/PTG测厚仪
- 品牌:英国Ray-Ran
- 型号: RR/PTG
- 产地:英国
由Ray-ran公司专门设计的精密测厚仪可快速、准确地测量各种材料的厚度,包括胶卷、纸、板、铝箔、组织和纺织品等。通过 - -个直观的触摸屏界面操作,用户可以自定义批量大小,测量速度快、简单GX。.
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德国Fischer菲希尔 磁性测厚仪 DUALSCOPE FMP20
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: DUALSCOPE F
- 产地:德国
德国菲希尔DUALSCOPE FMP20涂镀层测厚仪由于采用了磁感应和电涡流两种方法,FMP20涂镀层测厚仪且具有自动识别基材的功能,这台通用型仪器可以测量铁/钢上、非磁性金属基材上和非导电基材上众多涂镀层的厚度。DUALSCOPE FMP20涂镀层测厚仪使用带曲率补偿功能的探头(FISCHER)。
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扫描型光学膜厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Scanner
- 产地:希腊
FR-Scanner 扫描型光学膜厚仪主要由以下系统组成:A) 光学光源装置小型低功率混合式光源本系统混合了白炽灯和LED灯,形成光谱范围360nm- 1100nm;该光源系统通过微处理控制,光源平均寿命逾10000小时;集成小型光谱仪,光谱范围360-1020nm,分辨精度 3648像素CCD 和 16位 A/D 分辨精度.集成式反射探针,6组透射光探针(200um),1组反射光探针,探针嵌入光源头,可修整位置,确保探针无弯曲操
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便携式光学膜厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Portable
- 产地:希腊
FR-portable 便携式膜厚仪主要由以下系统组成:Α白炽-LED混合集成式光源系统,通过内嵌式微处理器控制,使用寿命超过20000小时。小型光谱仪,光谱范围370nm –1050nm,分辨精度可达3648像素, 16位级 A/D 分辨精度;配有USB通讯接口;Β) FR-Monitor膜厚测试软件系统,可精确计算如下参数:1)单一或堆积膜层的厚度; 2)静态或动态模式下,单一膜层的折射率;本软件包含了类型丰富的材料折射率数据库,可以有效地协助用户进行线下或者在线测试分析。本系统可支持吸
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ThetaMetrisis薄膜测厚仪
- 品牌:希腊ThetaMetrisis
- 型号: FR-Basic UV/VIS
- 产地:希腊
品牌:西塔名词:膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度,干涉条纹每移动一个条纹间距,光程差就改变一个波长(~10-7米),所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的,其测量精度之高
- 薄膜测厚仪
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