- 产品品牌
- 不限
-
更多品牌
- >
-
C12562 纳米膜厚测量仪系列
- 品牌:日本滨松
- 型号: C12562
- 产地:日本
C12562 纳米膜厚测量仪系列C12562型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。光学膜厚测量仪系列可以测量薄至10nm的薄膜,而可测范围达到10nm到1100μm,因此可用来测量多种目标。此外,该测量仪可达到100Hz的高速测量,因此可进行快速移动的产品线进行测量。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性可测量10nm薄膜缩短测量周期(频率高达100Hz)增强型外部触发(适合高速测量)涵盖宽波长范围(
-
C11627-01 纳米膜厚测量仪系列
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11627-01
- 产地:日本
C11627-01 纳米膜厚测量仪系列C11627-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。因其将光源、分光光度计和数据分析单元集成为一个单元,所以其配置紧凑,仅由一个主单元和光纤组成。此仪器设计紧凑,节省空间,适合安装进用户的系统中,可进行多种目标的测量。此外,该仪器为无参照物测量,因此省略了烦人的参照物测量,可长时间稳定地进行高速、高准确度测量。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性无参照物工作
-
C11011-01W 微米膜厚测量仪
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11011-01W
- 产地:日本
C11011-01W 微米膜厚测量仪C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,选配的映射系统可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性利用红外光度测定进行非透明样品测量测量速度高达60 Hz测量带图纹晶圆和带保护膜的晶圆长工作距离映射功能可外部控制参数型号C11011-0
-
C11295 多点纳米膜厚测量仪
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11295
- 产地:日本
C11295 多点纳米膜厚测量仪C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C11295可进行实时多点测量,也可以在膜厚测量中同时测量反射率(透射率)、目标颜色以及暂时变化。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性多达15点同时测量无参照物工作通过光强波动校正功能实现长时间稳定测量提醒及警报功能(通过或失败)反射(透射)和光谱测量高速、
-
扁平准分子灯EX-mini L12530-01
- 品牌:日本滨松
- 型号: L12530-01
- 产地:日本
本产品的便携性使其可以在任何地方进行简单而高精度的测试和评估。其与EX-400&EX-86U准分子灯具备同样的工作表现,并专为R&D在线操作设计而成。因此,可直接将EX-mini中获得的评估结果用于在线操作任务中。
-
扁平准分子灯EX-86U L13129
- 品牌:日本滨松
- 型号: L13129
- 产地:日本
带有内部电源的“一体机”式设计实现了紧凑、质量轻的结构,从而不需要选择特定空间,免去了安装上的麻烦,可以轻松地在生产现场进行设置。在线使用中的高通用性使得EX-86U十分容易装配入现有的线路、重新部署的生产线等。
-
扁平准分子灯EX-400 L11751-01
- 品牌:日本滨松
- 型号: L11751-01
- 产地:日本
使用扁平长灯和RF(射频)放电可在大面积上均匀照射并减少闪烁,从而提供稳定的输出。 与电晕放电法,等离子体法,甚至其他准分子灯相比,EX-400可确保高精度,高质量的修改,清洁和粘合。
-
孔洞检测单元 C12570 series
- 品牌:日本滨松
- 型号: C12570 series
- 产地:日本
C12570系列是孔洞检测装置,用于检测层压薄膜和金属箔中的孔洞。 由于采用非接触式光学检测,被检测的样品不会暴露在液体或特殊环境的压力中(例如电场、磁场和电解质溶液)。 C12570系列采用高灵敏度的光电倍增管,可以高精度地检测微小的孔洞。
-
孔洞检测单元 C11740
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11740
- 产地:日本
C11740是一种孔洞检测装置,专门用于检测罐中的孔洞,内部包含一个高灵敏度光学传感器(光电倍增管),可以高速,高精度地检测微小的孔洞。可测量参数包括一个大面积光敏区域和一个强光保护电路,该保护电路非常适合孔洞检测。 C11740外部控制输入/输出装置可以让操作者轻松地对在线检测和其他检测进行设置。
-
微米膜厚测量仪 C11011-01
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11011-01
- 产地:日本
C11011-01型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapping工作台联用可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制。 C11011-01可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2200 μm 和 10 μm 到 900 μm.
-
微米膜厚测量仪 C11011-01W
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11011-01W
- 产地:日本
C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与Mapping工作台联用可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制。C11011-01W测量玻璃膜厚范围分别为25 μm 到 2900 μm 和10 μm 到1200 μm。
-
多点纳米膜厚测量仪 C11295
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11295
- 产地:日本
C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C11295可进行实时多点测量,也可以在膜厚测量中同时测量反射率(透射率)、目标颜色以及暂时变化。
-
光学NanoGauge C13027-12
- 品牌:日本滨松
- 型号: C13027-12
- 产地:日本
C13027型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。C13207不仅支持PLC连接,而且其设计尺寸比其他型号更紧凑,便于设备安装。Optical Gauge系列不仅能够测量10纳米以下极薄薄膜的厚度,而且还具有超宽测量范围,可以覆盖从10纳米到100微米的各种薄膜厚度。 Optical Gauge系列可以进行高达200 Hz的快速测量,因此非常适合高速生产线测量。
-
光学NanoGauge C12562-04
- 品牌:日本滨松
- 型号: C12562-04
- 产地:日本
C12562型光学纳米膜厚测量系统是一款小型紧凑、节省空间、安装方便的非接触式薄膜厚测量系统。在半导体工业中,硅通孔技术的普及使得硅厚度测量变得必不可少;在薄膜生产工业中,越来越高的产品需求使得粘合层薄膜的制作朝着越来越薄的方向发展。因此,这些工业领域需要更高精度、测量范围可以覆盖1μm到300μm的厚度测量系统。C12562可以对厚度范围从0.5μm到300μm的薄膜进行精确测量,包括薄膜镀层厚度和薄膜衬底厚度以及总厚度。C12562可以进行高达100 Hz的快速测量,因此非常适合高速生产线测量。
-
光学NanoGauge C10178-02
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10178-02
- 产地:日本
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。滨松的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器,测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率,反射率,透射/吸收率等参数。 C10178-02支持UV(200 nm至950 nm)。
-
光学NanoGauge C10178-03J
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10178-03J
- 产地:日本
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。C13027使用多通道光谱仪PMA作为检测器,测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率,反射率,透射/吸收率等参数。 C10178-03J支持NIR(900 nm至1650 nm)。
-
光学NanoGauge C10178-03E
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10178-03E
- 产地:日本
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器,测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率,反射率,透射/吸收率等参数。 C10178-03E支持NIR(900 nm至1650 nm) (AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz)
-
微米膜厚测量仪 C11011-21
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11011-21
- 产地:日本
C11011-21型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品在线测量。此外,选配的作图系统可以用于测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制。C11011-21可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2200 μm 和10 μm 到 900 μm,可测层数zui多为10层。
-
微米膜厚测量仪 C11011-21W
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11011-21W
- 产地:日本
C11011-21W型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapping工作台联用可以用于测量指定样品的厚度分布。C11011-21W应用广泛,比如用于产品制造过程监控或质量控制。 C11011-21W可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2900 μm 和10 μm 到 1200 μm,可测层数zui多为10层。
-
C10178-01 纳米膜厚测量仪系列
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10178-01
- 产地:日本
C10178-01 纳米膜厚测量仪系列C10178-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。通过光谱相干,可快速、高灵敏度、高准确度地测量膜厚。由于使用我公司的光子多通道分析仪(PMA)为探测器,在测量多种滤光片、镀膜等的膜厚的同时,还可以测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等多种项目。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性高速、高准确度实时测量映射功能不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可
-
C11665-01 微米膜厚测量仪
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11665-01
- 产地:日本
C11665-01 微米膜厚测量仪C11665-01型光学微米测厚仪是一款非接触薄膜测厚仪器,它将光源、探测器和数据分析模块集成到一个箱体里,实现了紧凑型设计。在半导体行业,TSV技术的广泛应用使得基底测厚成为至关重要的方面,与此同时半导体薄膜工业正将连接层制作的越来越薄。这些领域的进步需要1 μm到300 μm范围内高准确度的膜厚测量。C11665-01可对多种类型的材料(硅基底,薄膜等等)进行测厚,测量范围为0.5 μm 到 700 μm,这也是半导体和薄膜制造领域经常使用应用的厚度。欢迎您登陆滨松Z
-
光学NanoGauge C10323-02
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10323-02
- 产地:日本
C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体,测量小面积可减少散射光,从而实现测量。 C10323-02的电源电压为AC100 V至AC120 V。
-
光学NanoGauge C10323-02E
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10323-02E
- 产地:日本
C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体,测量小面积可减少散射光,从而实现测量。 C10323-02E的电源电压为AC100 V至AC120 V。
-
膜厚测量仪FE-3
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE-3
- 产地:日本
对于具有波长依赖性的多层膜,可以实现高精度测量!
-
反射式膜厚测量仪FE-3000
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE-3000
- 产地:日本
可WM对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析
-
膜厚测量仪FE-300
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE-300
- 产地:日本
小型・低价格!简单操作”非接触”膜厚量测仪FE-300!
-
椭圆偏振光测量仪FE5000
- 品牌:日本大塚
- 型号: FE5000
- 产地:日本
通过自动多角度椭圆偏振光测量仪实现高速的薄膜膜厚测量和高精度的光学常数解析
-
TECLOCK指针式膜厚计DM-264
- 品牌:日本得乐
- 型号: DM-264
- 产地:日本
TECLOCK指针式膜厚计DM-264常用于检测一些薄膜的厚度,测量值极ng准有效,测量效果稳定。
-
TECLOCK指针式厚度计DM-210
- 品牌:日本得乐
- 型号: DM-210
- 产地:日本
TECLOCK指针式厚度计DM-210测量范围可以从5mm到230mm(继足使用)。对应的作业大幅度扩张。
- 薄膜测厚仪
- 仪器网导购专场为您提供薄膜测厚仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选薄膜测厚仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。