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Alto 2500 高分辨率扫描电镜冷冻传输装置
品牌:美国Gatan
型号:Alto 2500
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【Gatan】 宽束氩离子抛光系统 697 Ilion II
品牌:美国Gatan
型号:697 Ilion II
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德国IDE PAD系列主动隔振台
品牌:德国IDE
型号:PAD系列
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5百万像素彩色数码摄像机为所有应用 Leica DFC425
品牌:徕卡显微系统
型号:Leica DFC425
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徕卡 EM ARTOS 3D 连续超薄切片机
品牌:徕卡显微系统
型号:EM ARTOS 3D
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英国DEBEN KED Centaurus CL探测器
- 品牌:英国DEBEN
- 型号: CL/BSE
- 产地:英国
英国DEBEN KED系列Centaurus Cathodoluminescence(CL Detector)阴极发光探测器Centaurus(半人马座)是闪烁体型背散射电子/阴极发光探测器(阴极荧光探测器)。这一创新产品利用图像对比度(灰度)来研究样品的成分像或形貌像,也可快速更换探针转为阴极发光探测器。波长范围:300-650nm(BSE)、185-850nm(CL)。用户可选:单配CL;单配BSE;两者都配。Deben旗下KED系列扫描电镜专用探测器包括:BSE(背散射电子探测器)、4 quadra
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英国Deben EBIC放大器(感生电流成像)
- 品牌:英国DEBEN
- 型号: EBIC
- 产地:英国
英国DEBEN EBIC放大器Deben旗下KED出品的EBIC,是一款样品电流和电子束感生电流测量放大器,可进行吸收电流测量、吸收电流成像和电子束感生电流成像,可用偏压样品。执行EBIC成像所需的设备是扫描电子显微镜、EBIC放大器和电真空馈通。从电子束注入的电子打破半导体均衡状态,产生电子/空穴对,EBIC信号主要是从嵌入的扩散层(晶体管和二极管)产生,通过放大电子束产生的感生电流或电压,便可由该效应形成SEM监视图像。
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130万CMOS相机
- 品牌:福州鑫图
- 型号: IS130
- 产地:福州
130万像素数字相机 IS130 传感器厂商 镁光(美国) 传感器类型 MT9M111 传感器尺寸 1/3英寸 像素点 3.6微米 X 3.6微米 分辨率 1280H X 1024V
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软X射线分光谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: SXES
- 产地:日本
电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用,产生各种信号,收集不同信号进行分析,可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV,远高于能谱仪(EDS)和波谱仪(WDS)的分辨率;对轻元素的定量分析非常准确,比如B元素的检出极限可达20ppm;还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在ZG的
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SC7620 ‘MINI’ SPUTTER COATER
- 品牌:英国Quorum
- 型号: SC7620
- 产地:英国
Quick Overview The SC7620 is a compact, low cost SEM sputter coater. When combined with the optional carbon attachment SC7640-CF or SC7640-CR it makes the ideal low cost SEM sputtering and carbon coating system p
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台式扫描电镜TM3000/TM3030专用能谱仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Quantax70
- 产地:德国
日立高新台式扫描电子显微镜TM3000/TM3030专用能谱仪Quantax70是一种非常有用的样品表面观察和鉴别分析工具。*日立高新台式扫描电子显微镜TM3000/TM3030专用能谱仪Quantax70带有Quantax70的TM3000/TM3030的典型配置*日立高新台式扫描电子显微镜TM3000/TM3030专用能谱仪Quantax70内置EDX探测器特点硼以上轻元素检测。可进行线扫描,面分布图以及多点分析。无需液氮。可在几分钟内完成快速,轻松分析。可在同一显示器上显示图像和元素数据。规格项目说
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日立TM3000/TM3030专用能谱仪SwiftED3000
- 品牌:牛津仪器
- 型号: SwiftED3000
- 产地:英国
日立高新台式显微镜TM3000/TM3030专用能谱仪SwiftED3000是一种非常有用的样品表面观察和鉴别分析工具。*日立高新台式显微镜TM3000/TM3030专用能谱仪SwiftED3000带有SwiftED3000的TM3000/TM3030的典型配置*日立高新台式显微镜TM3000/TM3030专用能谱仪SwiftED3000内置EDX探测器*带有SwiftED3000的TM3000/TM3030的典型配置*内置EDX探测器特点硼以上轻元素检测。可进行线扫描,面分布图以及多点分析。无需液氮。可
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布鲁克X射线能谱仪EDS QUANTAX
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Bruker EDS QUANTAX
- 产地:德国
QUANTAX EDS 系统拥有**能量分辨率、最大数据处理能力及**几何结构。**能量分辨率可确保轻元素和低能量的高效分析新一代 Slim-line 探测器技术能在低束流下实现更高的计数率超高数据处理能力实现最快速测量可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一软件中敢为人先! X射线显微分析是一种在电子显微镜中经常用到的测量固体样品、薄膜、微粒化学成分的分析技术。该技术应用一种能量色散X射线光谱仪(EDS)能同时探测和分析低至Be的所有元素。该技术从一个微米级的样品区域获得元素信息,提供低至0.1
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日立高新磁控溅射器MC1000
- 品牌:日立
- 型号: MC1000
- 产地:日本
日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了电磁管电极,能够最大限度地减轻对样品的损坏,并在样品表面涂覆一层均匀粒子。适用于高分辨率的扫描式电子显微镜。日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000的最大样品直径:60 mm日立高新磁控溅射器(Hitachi Ion Sputter )MC1000的最大样品高度:20 mm特点:采用LCD触摸屏,可以更加简便地设定加工条件可处理较厚或较大的样品(选配件)记忆功能可存储常用加工条件规格:
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Horiba X-Max 硅漂移探测器
- 品牌:日本堀场
- 型号: X-Max N
- 产地:英国
X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积最大的探测器,分析速度至少是普通探测器的两倍。总览探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,80 mm2,50 mm2,20 mm2无论晶体面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好并符合标准ISO15632:2012无论晶体尺寸如何,能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致,确保相同条件下,计数率的增加只源于晶体尺寸的增加强大的低能端分析,所有晶体面积的能谱仪均保证由
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Alicona MeX 3D 扫描电镜图像软件
- 品牌:北京裕隆
- 型号: MeX
- 产地:奥地利
MeX 所想即所见! 让您的扫描电镜变成精密的3D测量仪器MeX是一套独立软件,可以轻松地将扫描电镜变成一台精密的表面测量仪器。它可以自动将扫描电镜2维图像信息合成为3D图像信息,形成高度精确、稳定且丰富的3D数据库,用于可追溯的图像测量。无论高倍还是低倍的扫描电镜图像,都可以获得精确的测量结果。 软件自动安装,操作便捷。模块化设计,方便灵活。用户可根据实际需要,采购单项功能模块加以组合。分析模块可测量轮廓,粗糙度,面积,体积和“Z”高度,所有测量功能都可追溯、校准,并且符合ISO分析模块可
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阴极发光仪
- 品牌:
- 型号: CL8200 MK5
- 产地:英国
仪器简介:阴极发光仪可用于石英、方解石、白云石以及钻石等固体样品结构和组成的确定,同时,不会对样品造成任何破坏。阴极发光仪具有换样快速方便,设计简单紧凑,以及易于和岩相学专用显微镜联机的优点。此外,样品室对样品大小的要求范围宽,而且对于适合低温产生阴极光的样品控温能力强。 从80年代开始,阴极发光技术不仅应用在传统的地球科学和行星学领域,而且开创了玻璃、陶瓷、半导体和合成材料等行业的研究和应用;此外,阴极发光技术在法医学、考古学、材料科学领域等新的方向具有发展前途,阴极发光仪与EDS检测器的联
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2KV PCB可焊高压电源模块(15PPM低温漂/5mV超低纹波/极性接反保护/PMT电源/质谱
- 品牌:西安威思曼
- 型号: MCP
- 产地:
【型 号】 MCP
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DE-64直接电子探测相机
- 品牌:美国Direct Electron
- 型号: DE-64
- 产地:美国
DE-64常用技术指标 适用的加速电压范围80 keV 1.25 MeV像素点大小6.5 μm像素阵列尺寸8192 × 8192 | 67.1 megapixels成像面积53 × 53 mm单电子信噪比(与加速电压有关) >50:1 @ 300 keV芯片设计>3T的CDS像素设计 | 芯片打薄 | 抗辐照设计连续帧率多达30fps,无bin的完整图像子阵列可>500 fps(取决于尺寸大小)数据采集模式 积分模式 | 电子计数模式 (可自由选择)第二芯片集成另外一个2k × 2k
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加速电极高压发生器
- 品牌:西安威思曼
- 型号: MRL
- 产地:
【型 号】 MRL
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2KV PCB可焊高压电源模块(15PPM低温漂/5mV超低纹波/极性接反保护/PMT电源/质谱
- 品牌:西安威思曼
- 型号: MCP
- 产地:
【型 号】 MCP
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加拿大Dragonfly三维图像分析软件_可选AI深度学习解决方案
- 品牌:加拿大Dragonfly
- 型号: Dragonfly
- 产地:加拿大
加拿大Dragonfly三维图像分析软件Comet Technologies Canada(原ORS)公司出品的Dragonfly软件能够将复杂的微结构快速转化为全面的研究结果,是当今zhui具挑战性的科学和工业2D/3D/4D成像研究的zhui佳定量分析平台,广泛应用于材料科学、生命科学和地球科学领域。越来越多的科研与工业领域开始借助三维影像设备诸如聚离子束电镜 FIB-SEM切片三维重构、X-Ray CT(包括 MicroCT/NanoCT)、磁共振MRI、连续切片显微镜 Serial Section
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JIB-4700F 双束加工观察系统
- 品牌:日本电子
- 型号: JIB-4700F
- 产地:日本
随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化,形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足这些需求,JEOL推出新一代双束加工观察系统JIB-4700F。 该设备的SEM镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、GB模式和in-lens检测器系统,在1kV低加速电压下,实现了1.6nm的保证分辨率,与zuida能获得300nA探针电流的浸没式肖特基电子枪组合,可以进行高分辨率观察和高速分析。
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JIB-4000Plus聚焦离子束加工观察系统
- 品牌:日本电子
- 型号: JIB-4000Plus
- 产地:日本
JIB-4000PLUS 聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。 被加速的镓离子束经聚焦照射样品后,能对样品表面进行SIM观察 、研磨、及碳和钨等沉积。还可以为TEM制备薄膜样品,为观察样品内部制备截面样品。 该设备能配置3D观察功能、自动TEM样品制备功能,能对应多种制样需求。
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微分干涉差分(DIC)显微镜模块
- 品牌:美国Navitar
- 型号: DIC
- 产地:美国
Navitar提供两种微分干涉差分(DIC)显微镜模块:DIC组装Nikon高分辨率模块(1-63726)、DIC组装模块(1-63102)两种模块都可用于ZOOM6000和12倍变焦的任何超同轴版本上(变焦或不变焦)。模块与物体侧NA一起使用,范围从0.05至0.50,在0.15至0.4具有**性能。在以上范围工作的镜头附件用于宏观的应用。为入射光设计的任何无限校正的物镜将用于微观的应用。DIC与反射光一起使用时,通常可以解释为表面几何真正的三维表示。它在标本内升起和降下的区域之间提供了明确的区分。
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布鲁克扫描电镜用微区计算机断层摄影 Micro-CT
- 品牌:
- 型号: Bruker Micro-CT
- 产地:德国
SEM Micro-CT 可对样品的微观结构进行二维与三维成像。以二维和三维方式无损呈现样品内部形貌信息无需样品制备分辨率可达 400 nm 像素大小直观且易于使用的三维渲染和可视化软件敢为人先!扫描电镜中真正的3D显微观察技术不管您的扫描电镜是什么型号,将micro-CT安装在SEM上后,均能为您提供真正的3D显微观察技术。在扫描电镜常见的表面形貌观察之外,micro-CTduyi无二的为您揭示样品内部三维结构信息,操作简易且对样品完全无损。关键特征一览无损观测样品的内部三维结构信息,且无需任何其它的样
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布鲁克平插式能谱仪 QUANTAX FlatQUAD
- 品牌:
- 型号: Bruker QUANTAX FlatQUAD
- 产地:德国
革命性的平插式能谱仪 QUANTAX FlatQUADX射线探测的最GX率与灵敏度作为全球第一家商用电制冷能谱仪的厂家,布鲁克对传统斜插型能谱做出革命性的创新,推出了平插式能谱仪FlatQUAD,该款能谱的探头水平放置于电镜极靴的正下方,探头组件由四个独立的硅漂移芯片组成,它们环形排列于中心孔四周,入射电子束从该中心孔穿过。这一设计使得平插式能谱仪在保留高能量分辨率的同时具有超高的计数率和空间分辨率。特别适用于以下领域在低束流和极低束流下(<10 pA) ,分析束流敏感样品,如生物或半导体样品;分析
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BS/JEBG/EBG 系列电子枪
- 品牌:日本电子
- 型号: BS/JEBG/EBG
- 产地:日本
用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。
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BS/JST系列电子枪/电源
- 品牌:日本电子
- 型号: BS/JST系列
- 产地:日本
和偏转型电子枪结合使用,用作电子束蒸镀的高压电源。BS-720xxICE系列电源多功能、高性能、采用按钮操作。
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JEBG系列大功率电子枪/电源
- 品牌:日本电子
- 型号: JEBG
- 产地:日本
JEBG系列大功率电子枪是在真空中蒸发或熔解金属及氧化物的大功率电子束发生源,能在不断输送中的宽幅塑料和大面积玻璃基板上高速率地连续镀膜,此外在电子束熔炼时,可用于高熔点金属锭的生产及提纯。
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BS-80020CPPS等离子体源
- 品牌:日本电子
- 型号: BS-80020CPPS
- 产地:日本
BS-80020CPPS是用于辅助低温(100℃以下等)下塑料基板和胶片成膜的等离子体源。
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RF-120系列高频电源
- 品牌:日本电子
- 型号: RF-120
- 产地:日本
是溅射、刻蚀、CVD、离子镀等薄膜制备/加工使用的、用于生成等离子体的13.56MHz高频电源(RF电源)。
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TP 系列 高频感应等离子体发生器
- 品牌:日本电子
- 型号: TP
- 产地:日本
通过高频感应加热产生大约1万度的热等离子体,经过物理/化学反应过程,能合成纳米颗粒及厚膜(镀膜)。
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JMS-S3000 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JMS-S3000
- 产地:日本
JMS-S3000采用日本电子独自研发的SpiralTOF模式离子光学系统,它创新的技术在学术界已广为人知,其超高的质量分辨率和质量准确度,遥遥领xian于传统的装置。
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JMS-T200GC 气相色谱-飞行时间质谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JMS-T200GC
- 产地:日本
第4代AccuTOF GC 系列产品性能进一步改进, 升级为AccuTOF GCx! 将在更广泛的领域为您提供分析解决方案。
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JMS-T100LP 液相色谱-飞行时间质谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JMS-T100LP
- 产地:日本
AccuTOF LC 系列的第3代产品AccuTOF LC-plus 4G,设计简洁,经久耐用,是全能型的大气压离子化高分辨率飞行时间质谱仪。它除了采用LC/MS 离子源中zui广为使用的电喷雾离子源外,还配有JEOL 独有的电离技术DART (Direct Analysis in Real Time) 和冷喷雾离子源 (ColdSpray),能在各个领域提供分析解决方案。
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JMS-700 MStation高性能双聚焦磁质谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JMS-700 MStation
- 产地:日本
JMS-700高分辨质谱仪全部采用电脑控制,离子源和各种参数具有自动调谐功能,不仅是常规测试,利用高分辨测试等所有模式都能容易地获得高质量的分析结果。
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JMS-800D Dioxin(二恶英)分析用高分辨质谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JMS-800D Dioxin
- 产地:日本
MS-800D UltraFOCUS™ 是进行超低浓度分析的**选择,采用高分辨选择离子监测模式(HRSIM)适合二恶英及相关化合物如:二恶英、多氯联苯(PCB's)、多溴联苯醚(PBDE'S) 或滥用药物的分析。
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JMS-MT3010HRGA INFITOF 飞行时间质谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JMS-MT3010HRGA INFITOF
- 产地:日本
JMS-MT3010HRGA采用zuixin的Multi-Turn技术,在只有20cm见方的质量分析器内,离子的zui长飞行距离高达200m。
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AOI微距镜头
- 品牌:韩国prooptics
- 型号: AOI
- 产地:韩国
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AOI远心镜头
- 品牌:韩国prooptics
- 型号: AOI
- 产地:韩国
- 电镜附件
- 仪器网导购专场为您提供电镜附件功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选电镜附件的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。