-
二次离子质谱工作站
品牌:英国Hiden Analytical
型号:SIMS
-
二次离子质谱探针
品牌:英国Hiden Analytical
型号:EQS
-
飞行时间二次离子质谱
品牌:英国Kore
型号:TOF-SIMS
-
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
品牌:捷克泰思肯
型号:FIB-SEM-TOF-SIMS
-
CIS系列封闭离子源式质谱仪
品牌:美国SRS
型号:CIS系列
- 产品品牌
- 不限
-
收起品牌
- >
-
美国PHI 高性能飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:美国PHI
- 型号: 02
- 产地:美国
TOF-SIMS 中,根据分子结构反映的质谱,能更详细的对 化学结构进行分析。
-
PHI X-tool 飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:美国PHI
- 型号: PHI X-tool
- 产地:美国
一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片 只一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面,被质量分析器探测出来 对于无机材料, 原子离子百分含量> 10%
-
The J105 SIMS飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:Ionoptika
- 型号: The J105 SIMS
- 产地:美国
度和优异的成像和质谱性能。J105将创新设计和优异科学与各方面的功能列表相结合,重新定义了ToF SIMS的功能。
-
CIS系列封闭离子源式质谱仪
- 品牌:美国SRS
- 型号: CIS系列
- 产地:美国
CIS系列封闭离子源式质谱仪 • 100,200 和300amu 系统 • 1 ppm 的检测
-
Bruker SIMS Toxtyper® 质谱仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Toxtyper®
- 产地:德国
ESI-ITMSToxtyper®Toxtyper® 是一款功能强大的一键式解决方案,可快速进行毒理学筛查,用户界面简单直观。简化药物筛查强大的 UHPLC-MSn 分析毒理学筛查市面上速度最快的自动化药物筛查快速基于市场上最快速的 LC-MSn 技术提供自动化药物检测解决方案。简单专为非 MS 专家设计的用户界面, 一键式样品提交和分析,仅需简单的用户培训。高置信度化合物鉴定基于 MS、MS2 和 MS3 谱图,加上保留时间的信息,可提供高置信度的结果。高重现性数据依赖型的 MSn 数据采集方式保证了结
-
飞行时间二次离子质谱仪PHI nanoTOF3
- 品牌:日本Ulvac-Phi
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:日本
PHI第7代TOF-SIMS ・全新外观,时尚设计,设备占地面积减少,更低功耗 ・全新设计的全自动样品台,可实现可靠、高通量-的样品处理和真空停放 ・配置新型铋源LMIG团簇离子枪,具有更高的空间分辨率 获得专利的平行成像MS/MS质谱仪 ・无论样品表面平整还是粗糙,PHI的第7代三重聚焦质量分析器均能胜任 ・并行成像MS/MS将TOF-SIMS谱峰识别从“我认为”变为“我知道!” ・可对丰度低于20 ppm的质谱峰进行无损和高灵敏度串联质谱分析 获得专利的一键双束中和技术 ・全新的脉冲低能电子和低能Ar+离子双束中和技术,可在正、负离子模式下实现可靠且真正的一键中和 可靠的自动化和远程操作 ・高度可配置的序列分析系统,可用于自动无人值守分析,以获得最大的分析效率 ・可完全远程操作和高级远程诊断
-
CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
- 品牌:法国Cameca
- 型号: AKONIS
- 产地:法国
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测,填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平,确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。除传统的通过表征实验室为半导体行业提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550(四极杆 SIMS)系列外,AKONIS作为其 补充,可实现仪器设置和采集例程的完全自动化,从而可在分析灵敏度不受影响
-
TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN SOLARIS
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有超高的分辨率,特别是在低电压下;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,为获得更好的图像衬度和表面灵敏度翻开了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage™ 型 FIB 镜筒保证了出色的低电压离子束分辨率和微加工性能,可以满足制备小于 20 nm 的、最佳质量的半导体器件超薄 TEM 样品的需要。此外,高达 100 nA 的大离子束流可以对生物样品和材料进行指定位置的、大体积 FIB-SEM 逐层扫描,图像也具有出色的衬度。
-
飞行时间二次离子质谱
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。
-
飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
※ 广泛应用于导体、半导体和绝缘体等领域。 ※ 用于纳米级表面成分定性或定量分析,实现二次离子图像 与二次电子图像分析。配置离子刻蚀枪,可进行材料深度 分布分析。 ※ 并行探测所有离子,包括有机和无机分析碎片。 ※ 宽范围的质量探测范围(实际测量中>1000m/z原子 量)。 ※ 极高的空间分辨率。 ※ 超高灵敏度1E+9 atoms/cm 。 ※ 导体、半导体和绝缘体表面均可测试。
-
CAMECA 二次离子质谱仪
- 品牌:法国Cameca
- 型号: IMS 7f
- 产地:法国
CAMECA 二次离子质谱仪(IMS 7f)的主要优势在于其极高的灵敏度、高空间分辨率(亚微米级横向分辨率,纳米级深度分辨率)以及同位素分辨本领。因其 ppb 水平检测极限以及高分析速度和可靠性,IMS 7F 成为遍布全球的众多独立分析实验室的主力军。 CAMECA的SIMS技术**世界。无与伦比的性能得益于其独有的基于磁扇区原理的仪器设计。 灵敏度:CAMECA IMS 7f 工作是的有效离子产率(useful yields- second
-
CAMECA 大型二次离子质谱仪
- 品牌:法国Cameca
- 型号: IMS 1280-HR
- 产地:法国
IMS 1280-HR是大型磁质谱二次离子质谱仪,具有超高灵敏度,针对地质科学与环境领域广泛的分析需求而专门设计的。在地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以及小粒子分析等方面的分析展现了无与伦比的性能。 K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection) Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection) Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (m
-
MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:英国SAI
- 型号: MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪
- 产地:英国
MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪在探测未知样品、研究较小区域的表面特征、从有机样品中获取更多信息方面。性能卓越探测未知样品飞行时间质谱(ToF)的引入使得MiniSIMS的性能跃升到一个新的水平。MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪对未知样品的测定与测量已知组分一样容易,这使得该仪器非常适合研究性应用。在失效分析中,比如污染鉴定,发现的额外细节有助于准确的查明问题的确切原因。创新的设计使得该仪器使用简便、结构紧凑。不仅处理功能强大,仪器操作也进一步简化,在实际分析中,基本不需要操作
-
SAI MiniSIMS alpha二次离子质谱仪
- 品牌:英国SAI
- 型号: MiniSIMS alpha
- 产地:英国
MiniSIMS alpha二次离子质谱仪是MiniSIMS系列的入门级仪器。这种高样品量的仪器是开发样品特定性质的理想选择。不论是按照已知标准进行质量控制,还是研究/工艺优化中多种样品的比较分析,该仪器都非常高效。这种情况下,预设分析条件意味着不同的操作者可以获得相同数据。通常情况下,每个样品的分析时间最短5分钟。MiniSIMS alpha二次离子质谱仪可以配置辅助电子探针来分析绝缘性样品。MiniSIMS alpha二次离子质谱仪与MiniSIMS所有性能一样,辅助电子探针可以自动操作,使用方便。宽
-
二次离子飞行时间质谱
- 品牌:英国Kore
- 型号: SurfaceSeer
- 产地:英国
SurfaceSeer :具有高通量分析功能的飞行时间二次离子质谱仪,用于研究样品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出独特的仪器,第一次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在最短的分析时间内生成化学图像,突破常规实验室仪器的极限!SurfaceSeer分析仪采用功能强大的二次离子质谱SIMS技术,结构紧凑,仅需一个标准电源,可放置于任何场所使用。SurfaceSeer应用广泛,是一台高性价比的实验室型材料表面分析仪器。SurfaceSeer相对
-
德国IONTOF TOF-SIMS系统
- 品牌:德国IONTOF
- 型号: M6
- 产地:德国
1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (< 50 nm) 2 质量分辨率 > 30,000 3 独特的延迟提取模式可同时实现高传输,高横向质量 4 广域的动态范围和检测限 5 用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS 6 先进智能的 SurfaceLab 7 软件,包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包 7 新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统,可长期无人值守运行
- M6型TOFSIMS系统中文彩页
- Analysis of optical fibers by TOF-SIMS on TESCAN LYRA3 FIB-SEM
- 二次离子质谱仪IMS 7f的介绍
- 赛默飞 ITQ系列GC-MS四极式离子阱
- 利用XPS和二次离子质谱仪(SIMS)进行材料表面表征
- PHI TRIFT V nano SIMS飞行时间二次离子质谱仪产品样册
- 大型二次离子质谱仪 IMS1280 资料
- Elemental Analysis of Diatom Cell walls using a FIB-SEM-TOF-SIMS
- Nanoscale chemical mapping of Li-ion battery cathode material by FIB-SEM and TOF-SIMS
- 大型二次离子质谱仪 IMS1280-HR 资料
- 二次离子质谱仪
- 仪器网导购专场为您提供二次离子质谱仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选二次离子质谱仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。