二次离子质谱仪二次离子质谱仪是用来检测材料的一种仪器,即是利用离子束把待分析的材料从表面溅射出来,然后再检测出离子组分并进行质量分析,二次离子质谱仪是对微粒进行同位素分析的有力工具,是利用质谱法分析初级离子入射靶面后,溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。
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PHI第7代TOF-SIMS ・全新外观,时尚设计,设备占地面积减少,更低功耗 ・全新设计的全自动样品台,可实现可靠、高通量-的样品处理和真空停放 ・配置新型铋源LMIG团簇离子枪,具有更高的空间分辨率 获得专利的平行成像MS/MS质谱仪 ・无论样品表面平整还是粗糙,PHI的第7代三重聚焦质量分析器均能胜任 ・并行成像MS/MS将TOF-SIMS谱峰识别从“我认为”变为“我知道!” ・可对丰度低于20 ppm的质谱峰进行无损和高灵敏度串联质谱分析 获得专利的一键双束中和技术 ・全新的脉冲低能电子和低能Ar+离子双束中和技术,可在正、负离子模式下实现可靠且真正的一键中和 可靠的自动化和远程操作 ・高度可配置的序列分析系统,可用于自动无人值守分析,以获得最大的分析效率 ・可完全远程操作和高级远程诊断
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