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二次离子质谱探针
品牌:英国Hiden Analytical
型号:EQS
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飞行时间二次离子质谱
品牌:英国Kore
型号:TOF-SIMS
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CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
品牌:法国Cameca
型号:AKONIS
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Bruker SIMS Toxtyper® 质谱仪
品牌:德国布鲁克
型号: Toxtyper®
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The J105 SIMS飞行时间二次离子质谱仪
品牌:Ionoptika
型号:The J105 SIMS
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: FIB-SEM-TOF-SIMS
- 产地:其它
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zui重要的一环,而元素分析是其中zui重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,例如因灵敏度不足、空间分辨率较差,无法进行轻元素、微量元素的分析,无法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能满足现阶段应用的需求。TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信
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PHI X-tool 飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:美国PHI
- 型号: PHI X-tool
- 产地:美国
一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片 只一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面,被质量分析器探测出来 对于无机材料, 原子离子百分含量> 10%
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The J105 SIMS飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:Ionoptika
- 型号: The J105 SIMS
- 产地:美国
度和优异的成像和质谱性能。J105将创新设计和优异科学与各方面的功能列表相结合,重新定义了ToF SIMS的功能。
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Bruker SIMS Toxtyper® 质谱仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Toxtyper®
- 产地:德国
ESI-ITMSToxtyper®Toxtyper® 是一款功能强大的一键式解决方案,可快速进行毒理学筛查,用户界面简单直观。简化药物筛查强大的 UHPLC-MSn 分析毒理学筛查市面上速度最快的自动化药物筛查快速基于市场上最快速的 LC-MSn 技术提供自动化药物检测解决方案。简单专为非 MS 专家设计的用户界面, 一键式样品提交和分析,仅需简单的用户培训。高置信度化合物鉴定基于 MS、MS2 和 MS3 谱图,加上保留时间的信息,可提供高置信度的结果。高重现性数据依赖型的 MSn 数据采集方式保证了结
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飞行时间二次离子质谱仪PHI nanoTOF3
- 品牌:日本Ulvac-Phi
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:日本
PHI第7代TOF-SIMS ・全新外观,时尚设计,设备占地面积减少,更低功耗 ・全新设计的全自动样品台,可实现可靠、高通量-的样品处理和真空停放 ・配置新型铋源LMIG团簇离子枪,具有更高的空间分辨率 获得专利的平行成像MS/MS质谱仪 ・无论样品表面平整还是粗糙,PHI的第7代三重聚焦质量分析器均能胜任 ・并行成像MS/MS将TOF-SIMS谱峰识别从“我认为”变为“我知道!” ・可对丰度低于20 ppm的质谱峰进行无损和高灵敏度串联质谱分析 获得专利的一键双束中和技术 ・全新的脉冲低能电子和低能Ar+离子双束中和技术,可在正、负离子模式下实现可靠且真正的一键中和 可靠的自动化和远程操作 ・高度可配置的序列分析系统,可用于自动无人值守分析,以获得最大的分析效率 ・可完全远程操作和高级远程诊断
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CAMECA全自动在线二次离子质谱仪AKONIS
- 品牌:法国Cameca
- 型号: AKONIS
- 产地:法国
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测,填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平,确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。除传统的通过表征实验室为半导体行业提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550(四极杆 SIMS)系列外,AKONIS作为其 补充,可实现仪器设置和采集例程的完全自动化,从而可在分析灵敏度不受影响
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TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨镓离子FIB-SEM
- 品牌:捷克泰思肯
- 型号: TESCAN SOLARIS
- 产地:捷克
TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有超高的分辨率,特别是在低电压下;镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力,为获得更好的图像衬度和表面灵敏度翻开了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage™ 型 FIB 镜筒保证了出色的低电压离子束分辨率和微加工性能,可以满足制备小于 20 nm 的、最佳质量的半导体器件超薄 TEM 样品的需要。此外,高达 100 nA 的大离子束流可以对生物样品和材料进行指定位置的、大体积 FIB-SEM 逐层扫描,图像也具有出色的衬度。
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飞行时间二次离子质谱
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素,分子等结构信息。
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飞行时间二次离子质谱仪
- 品牌:英国Kore
- 型号: TOF-SIMS
- 产地:英国
※ 广泛应用于导体、半导体和绝缘体等领域。 ※ 用于纳米级表面成分定性或定量分析,实现二次离子图像 与二次电子图像分析。配置离子刻蚀枪,可进行材料深度 分布分析。 ※ 并行探测所有离子,包括有机和无机分析碎片。 ※ 宽范围的质量探测范围(实际测量中>1000m/z原子 量)。 ※ 极高的空间分辨率。 ※ 超高灵敏度1E+9 atoms/cm 。 ※ 导体、半导体和绝缘体表面均可测试。
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德国IONTOF TOF-SIMS系统
- 品牌:德国IONTOF
- 型号: M6
- 产地:德国
1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (< 50 nm) 2 质量分辨率 > 30,000 3 独特的延迟提取模式可同时实现高传输,高横向质量 4 广域的动态范围和检测限 5 用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS 6 先进智能的 SurfaceLab 7 软件,包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包 7 新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统,可长期无人值守运行
- Analysis of optical fibers by TOF-SIMS on TESCAN LYRA3 FIB-SEM
- PHI TRIFT V nano SIMS飞行时间二次离子质谱仪产品样册
- ISO 12103-1 A1 Ultrafine Test Dust A1粉
- 羊免疫球蛋白M(IgM)说明书
- High Spatial Resolution Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry for the Masses
- M6型TOFSIMS系统中文彩页
- PHI naoTOF3
- Insulator analysis using combined FIB-SEM instrument with TOF-SIMS
- CIS系列
- 赛默飞 ITQ系列GC-MS四极式离子阱
- Thermo Scientific Sentinel Pro 环境质谱仪 VOCs监测应用
- 多维脂质组学方法:HILIC联合离子淌度实现飞行时间质谱法
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