-
爱丁堡稳态/瞬态荧光光谱仪FLS1000
品牌:英国爱丁堡
型号:FLS1000
-
Quantaurus-Tau C11367-32
品牌:日本滨松
型号:C11367-32
-
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 C12132-37
品牌:日本滨松
型号:C12132-37
-
闪光光解系统 闪光光解系统
品牌:日本滨松
型号:闪光光解系统
-
深能级瞬态谱仪
品牌:美国Semetrol
型号:Semetrol DLTS
- 产品品牌
- 不限
-
更多品牌
- >
-
皮秒荧光寿命测量系统 C11200
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11200
- 产地:日本
滨松皮秒荧光寿命测量系统是根据研究人员研究这些材料的要求而开发。条纹相机是一种具有皮秒时间响应的光学时间记录器,可以研究超快时间分辨分光光度学。 条纹相机技术在光子计数区域中具有很高的检测灵敏度。为了同时测量时间和波长,可以在系统中添加光谱仪。条纹相机系统由具有高操作性能的软件控制。
-
条纹相机的纳秒级荧光时间分辨系统 纳秒级系统
- 品牌:日本滨松
- 型号: 纳秒级系统
- 产地:日本
时间分辨吸收光谱分析系统是在极短的时间内进行瞬态吸收光谱测量的装置。该系统使得对溶液、固体、膜等环境中光反应的反应中间体的形成和衰变过程进行分析成为可能。通过利用条纹相机作为探测器,用单发模式进行多波长时间分辨测量,可以同时测量时间分辨吸收光谱和瞬态吸收时间分辨光谱图像,并且可以得到不可逆现象的图像。新开发的高动态范围条纹相机C7700被用作探测器。该系统也可以测量具有高动态范围和高信噪比的分钟瞬态吸收变化 。纳秒系统时间分辨率:7ns 测量时间范围:20ns~1ms
-
条纹相机的皮秒级荧光时间分辨系统 皮秒级系统
- 品牌:日本滨松
- 型号: 皮秒级系统
- 产地:日本
时间分辨吸收光谱分析系统是在极短的时间内进行瞬态吸收光谱测量的装置。该系统使得对溶液、固体、膜等环境中光反应的反应中间体的形成和衰变过程进行分析成为可能。通过利用条纹相机作为探测器,用单发模式进行多波长时间分辨测量,可以同时测量时间分辨吸收光谱和瞬态吸收时间分辨光谱图像,并且可以得到不可逆现象的图像。新开发的高动态范围条纹相机C7700被用作探测器。该系统也可以测量具有高动态范围和高信噪比的分钟瞬态吸收变化。皮秒级系统时间分辨率是90ps,测量时间范围是0.5ns~20ns。
-
闪光光解系统 闪光光解系统
- 品牌:日本滨松
- 型号: 闪光光解系统
- 产地:日本
闪光光解系统可以在很短的纳秒级范围内进行瞬态吸收测量。可以观察到光解、光异构化反应等光反应中的反应中间体在形成和衰变过程中的吸收光谱。由于新开发的软件增加了光学方面的应用,使得纳秒范围内的瞬态吸收光谱测量变得更容易。
-
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 C12132-36
- 品牌:日本滨松
- 型号: C12132-36
- 产地:日本
用于测量光伏材料的光致发光(PL)寿命 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132系列是专门为测量近红外波段的光致发光谱(PL Spectrum)和光致发光寿命(PL Lifetime)而设计的。 适用于测量与太阳能电池转换效率、有机化合物光致发光寿命和单线态氧光致发光谱有关的材料的光致发光寿命和光致发光谱。 C12132-36符合激光类1,可以在激光控制区外使用。
-
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 C12132-37
- 品牌:日本滨松
- 型号: C12132-37
- 产地:日本
用于测量光伏材料的光致发光(PL)寿命紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132系列是专门为测量近红外波段的光致发光谱(PL Spectrum)和光致发光寿命(PL Lifetime)而设计的。 适用于测量与太阳能电池转换效率、有机化合物光致发光寿命和单线态氧光致发光谱有关的材料的光致发光寿命和光致发光谱。 C12132-37符合激光类3B,可以用光纤升级为多点测量。
-
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 C12132-38
- 品牌:日本滨松
- 型号: C12132-38
- 产地:日本
用于测量光伏材料的光致发光(PL)寿命 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132系列是专门为测量近红外波段的光致发光谱(PL Spectrum)和光致发光寿命(PL Lifetime)而设计的。 适用于测量与太阳能电池转换效率、有机化合物光致发光寿命和单线态氧光致发光谱有关的材料的光致发光寿命和光致发光谱。 C12132-38使用外部激光器作为激发光源。可以选择添加PLP-10激光头作为激发光源。
-
Quantaurus-Tau C11367-31
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11367-31
- 产地:日本
Quantaurus-Tau系统是一款紧凑型系统,用于快速而简洁地在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。不同形式的样品材料,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液体样品可以被液氮冷却至-196摄氏度(-77K)。 操作非常简单。只需将样品放置到样品室,然后在测量软件上输入几个测量条件参数就可测量荧光寿命和光致发光(PL)谱。典型测量只需一分钟即可获得测量结果。测量软件具有多种测量和分析功能,包括多组分分析和多样品数据对比等。 C11367-31是标准模型(样品:溶液•薄膜,波长范围:300nm到800nm)。
-
Quantaurus-Tau C11367-32
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11367-32
- 产地:日本
Quantaurus-Tau系统是一款紧凑型系统,用于快速而简洁地在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。不同形式的样品材料,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液体样品可以被液氮冷却至-196摄氏度(-77K)。 操作非常简单。只需将样品放置到样品室,然后在测量软件上输入几个测量条件参数就可测量荧光寿命和光致发光(PL)谱。典型测量只需一分钟即可获得测量结果。测量软件具有多种测量和分析功能,包括多组分分析和多样品数据对比等。 C11367-32是NIR模型(样品:溶液、薄膜,波长范围:380nm到1030nm)。
-
Quantaurus-Tau C11367-34
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11367-34
- 产地:日本
Quantaurus-Tau系统是一款紧凑型系统,用于快速而简洁地在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。不同形式的样品材料,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液体样品可以被液氮冷却至-196摄氏度(-77K)。 操作非常简单。只需将样品放置到样品室,然后在测量软件上输入几个测量条件参数就可测量荧光寿命和光致发光(PL)谱。典型测量只需一分钟即可获得测量结果。测量软件具有多种测量和分析功能,包括多组分分析和多样品数据对比等。 C11367-34是标准模型(样品:固体(薄膜或粉末),波长范围:300nm到800nm)。
-
Quantaurus-Tau C11367-35
- 品牌:日本滨松
- 型号: C11367-35
- 产地:日本
Quantaurus-Tau系统是一款紧凑型系统,用于快速而简洁地在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。不同形式的样品材料,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液体样品可以被液氮冷却至-196摄氏度(-77K)。操作非常简单。只需将样品放置到样品室,然后在测量软件上输入几个测量条件参数就可测量荧光寿命和光致发光(PL)谱。典型测量只需一分钟即可获得测量结果。测量软件具有多种测量和分析功能,包括多组分分析和多样品数据对比等。 C11367-35是NIR模型(样品:固体(薄膜或粉末),波长范围:380nm到1030nm)。
- 瞬态光谱仪
- 仪器网导购专场为您提供瞬态光谱仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选瞬态光谱仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。
- 友情链接
- 钢研纳克ICP质谱仪