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美国Hinds 成像型穆勒矩阵测量系统 Mueller_Polarimeter_150XT
品牌:美国Hinds
型号: Mueller_Polarimeter_150XT
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卓立汉光 漫反射率测量系统
品牌:北京卓立汉光
型号:ZLHG-02
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物联网自动风沙监测系统
品牌:北京曙光新航
型号:42
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聚焦光束分析仪 - CinSpot AUT-1204系列
品牌:德国Cinogy
型号:CinSpot AUT-1204
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美国Lake Shore 无液氦超导磁体系统-DryMag
品牌:美国Lake Shore
型号:DryMag
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美国Lake Shore Microscopy显微光学超导磁体系统
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: Microscopy
- 产地:美国
Janis Microscopy显微光学超导磁体系统被设计用于与ST-500型高稳定性显微光学低温恒温器一起使用,实现在7 T磁场及3.5 K~420 K变温环境中的显微光学测量。该系统配备用于样品扫描和聚焦的X-Y-Z平移台,可在低温强磁场下的进行显微拉曼、荧光、磁光克尔等多种光谱测试。
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美国Lake Shore OptiMag湿式超导磁体系统
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: OptiMag
- 产地:美国
标准OptiMag系统(OM系列)配有6-9T磁场、直径为1.25~1.75英寸的样品腔、有效容积为12升的液氦杜瓦以及沿着磁场轴向的底部光学通道。该系统静态低温保持时间约60小时,1 cm直径球形范围内的磁场均匀度为±0.5%或±0.1%。更大的OM系列型号可提供更强的磁场(10T-12T)、更大的样品腔内径、更长的运行时间和更好的均匀度(1cm直径球形范围内的磁场均匀度可达±0.01%-±0.001%)。
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美国Lake Shore 无液氦超导磁体系统-DryMag
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: DryMag
- 产地:美国
Janis DryMag超导磁体在不使用液氦的情况下提供强磁场和低温环境。样品在整个温度范围内由静态氦气热交换气体冷却,可将固体、粉末、液体和形状不规则的样品均匀冷却至1.5 K。铜样品腔和样品座上的加热器和温度计与双通道控温仪一起使用,用于快速和精确的样品温度控制。
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美国Lake Shore SuperVariMag湿式超导磁体系统
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: SuperVariMag
- 产地:美国
Janis的标准SuperVariMag 超导磁体系统可提供6 T-9 T(NbTi超导线圈)和10 T-14 T(Nb3Sn超导线圈)磁场,1-1.5英寸的样品腔,并配有有效容量为20 L的敞口液氦存储罐(位于带蒸汽屏蔽层的绝热杜瓦中)。标准系统除提供垂直磁场外,也提供双线圈或三线圈的分立线圈超导磁体,产生各种强度的横向或旋转矢量磁场。
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新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM
- 品牌:美国Lake Shore
- 型号: M81-SSM
- 产地:美国
新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM 系统为先进测量应用提供了一种简单而直接的方法。M81-SSM消除了多种特定功能仪器安装的复杂性,将直流和交流源的便利性与测量相结合,包括了锁相的灵敏度和测量性能。这种噪声极低的同步信号源和测量系统可确保很小的仪表空间内(每台半机架)具有 1~3 个信号源通道和 1~3 个测量通道的固有同步测量功能,因此可高度适应各种材料和器件研究应用。
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SFA在线矿石品位智能分析系统
- 品牌:美国SFA
- 型号: SFA
- 产地:美国
SpectraFlow在线矿石品位智能测量系统由卤素光源、分光镜、探测器三部分构成,利用近红外光照射样品,通过测量样品对近红外光的吸收,得到近红外光谱,反应样品的基本组分。
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美国Hinds 双折射显微成像系统(abrio替代产品)
- 品牌:美国Hinds
- 型号: MicroImager
- 产地:美国
Hinds Instruments 公司的MicroImager偏振显微/双折射显微成像系统是一款基于穆勒矩阵的偏振显微镜,可以测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合ccd多个像素元形成详细细致分布。结合不同组织的双折射偏振特性,可以用来分析检测生物样品/材料特定。在市场上,CRI公司曾经推出过一款叫Abrio成像系统的基于穆勒矩阵的偏振显微镜,但很可惜的是由于业务调整的原因,Abrio成像系统已经停产。Hinds Instruments 公司的MicroImager偏振显微(
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Gatan SmartEMIC 电子束感应电流测量系统
- 品牌:美国Gatan
- 型号: Gatan SmartEMIC
- 产地:美国
BIC分析系统,可以实时软件控制全自动采集电子束感生电流(EBIC)信号,获得EBIC图像信息,还可以获得IV曲线信息,ZZ可以测试PN结位置,宽度,少子扩散长度,材料或器件的失效点定位,广泛应用于电子半导体领域。
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美国Hinds 150AT应力双折射测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: 150AT
- 产地:美国
产品介绍:150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置,使得测量更有针对性(高精度/大范围相位延迟量),系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力(<1 mm grid spa
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美国Hinds 大型液晶面板高精度应力分布测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: birefringence_measurement_syst
- 产地:美国
产品简介Hinds大型液晶面板高精度应力双折射分布测量系统大尺寸,高精度液晶基板应力分布测量!Hinds Instruments 公司的大尺寸高精应力双折射分布测量系统专用于LED液晶玻璃基板的应力分布测量。产品测量精度极高(0.005 nm),且特制平台扫描,专用于LED液晶面板尺寸(Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5 1150 mm x 1350 mm )液晶基板应力分布测量,大型
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美国Hinds 非球面透镜应力双折射测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: Exicor-OIA
- 产地:美国
产品简介:利用光弹调制器技术,Hinds 公司的应力双折射测量系统可以在深紫外(193nm)波段进行应力双折射探测。针对特定材料制作(氟化钙)和特定形状(非球面透镜)有着du家的技术解决方案。应力双折射测量系统,非球面透镜应力双折射测量,应力椭偏仪,应力椭偏测量Hinds 公司的不规则非球面光学元件应力分布测量系统(应力双折射测量系统)通过对光的调制解调可以测出待测光学元件中的双折射大小和方向,这些数据同时也表示了应力的大小和方向。Hinds 公司这套不规则非球面光学元件应力
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美国Hinds 高精度偏振态(斯托克斯量)测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: Stokes_Polarimeter
- 产地:美国
利用光弹调制器技术,Hinds公司的科研级高精度偏振态量测量系统可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度(Stokes parameter sensitivity: 0.0001)。速度上,也可以从一秒钟10组(40个)斯托克斯量提升到100组(400个斯托克斯量)。波段上,除了可见光波段,该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用斯托克斯测量系统,偏振测量系统,偏振测量仪,椭偏仪,偏振态测量仪利用光弹调制器技术,Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏
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美国Hinds 成像型穆勒矩阵测量系统 Mueller_Polarimeter_150XT
- 品牌:美国Hinds
- 型号: Mueller_Polarimeter_150XT
- 产地:美国
穆勒矩阵测量系统高速高精度穆勒矩阵测量系统150XT 型穆勒矩阵椭偏仪是Hinds公司研发的一款高速高精度穆勒矩阵测量系统,在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款产品对于科研研究,工业测量,光学组件偏振特性测量,制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。整套系统报包含完整软件支持,可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟,圆偏相位延迟(或旋光),线性二向色性偏振衰减,圆二向色性偏振衰减图样。Hinds. Hinds
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开路涡动协方差监测系统(EC150)
- 品牌:美国Campbell Scientific
- 型号: EC150
- 产地:美国
独立的红外CO2/H2O气体分析仪,专为涡动相关通量测量而设计。
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CPEC200闭路涡动相关系统
- 品牌:美国Campbell Scientific
- 型号: CPEC200
- 产地:美国
用于监测大气层-生物圈之间的二氧化碳,能量,水汽以及热量交换。
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IRGASON 开路涡动协方差监测系统
- 品牌:美国Campbell Scientific
- 型号: IRGASON
- 产地:美国
同步测量CO2/H2O,空气温度,大气压力,三维风速和超声空气温度。
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Keysight E4991B 阻抗分析仪
- 品牌:美国是德科技
- 型号: E4991B
- 产地:美国
Keysight E4991B 阻抗分析仪,1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz
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斯坦福SR540光学斩波器
- 品牌:美国SRS
- 型号: SR540
- 产地:美国
斯坦福SR540光学斩波器,价格电议
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STANFORD斯坦福SR570前置放大器
- 品牌:美国SRS
- 型号: SR570
- 产地:美国
美国斯坦福SR570低噪声前置电流放大器 SR570是一款电流增益可达1 pA/V的低噪声电流前置放大器。高增益、宽带宽和许多优点使SR570 成为光子多样性测量和低温测量的理想工具。
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STANFORD斯坦福SR560 前置放大器
- 品牌:美国SRS
- 型号: SR560
- 产地:美国
SRS斯坦福SR560低噪声电压前置放大器 SRS斯坦福SR560低噪声电压前置放大器SR560是一种、低噪音的前置放大器,适用于各种各样的应用,包括低温测量、光学检测和音频工程SR560有一个不同的前端,有4个nV/Hz的输入噪声和一个100 mof的输入阻抗。
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美国STANFORD斯坦福SR530锁相放大器
- 品牌:美国SRS
- 型号: SR530
- 产地:美国
这个最高级的产品是被设计的一个模式封锁行动放大器测量与对使成为可能的全部更大的噪声级的用途的AC信号测量甚而nanovolts。 SR510 (单相)和SR530 (双重阶段)有低噪声电压和当前输入。 他们也有高动态储备、两阶段时间常数和内部振荡器
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美国斯坦福SR650可编程双通道滤波器
- 品牌:美国SRS
- 型号: SR650
- 产地:美国
每个滤波器通道都有一个浮动差分输入,输入阻抗为 1 MΩ,输入噪声为 6 nV/√Hz。每个滤波器通道的模拟接地在后面板 BNC 连接器处可用,以提供完全的接地灵活性。滤波器接地可以连接到仪器的机箱接地或任何其他点。可以选择 AC 和 DC 输入耦合,并且一个反转键允许通过一次按键将信号的相位移动 180°。可以以 10 dB 的增量指定高达 60 dB 的前置放大器增益。一个简单的偏移调整螺钉可让您消除信号中的直流分量。
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STANFORD斯坦福FS725铷钟
- 品牌:美国SRS
- 型号: FS725
- 产地:美国
STANFORD斯坦福FS725铷钟 FS725可以被相位锁定为一个外部的1 pp参考(如GPS)提供地层1的性能。还提供了一个1 pp的输出,它的抖动小于1,并且可以用1 ns分辨率设置。
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铷振荡器STANFORD斯坦福FS725铷钟
- 品牌:美国SRS
- 型号: FS725
- 产地:美国
铷振荡器STANFORD斯坦福FS725铷钟 FS725是校准和研发实验室的理想仪器,或任何需要精密频率标准的应用有两个10 MHz和一个5 MHz的输出,具有异常低的相位噪声(-130 dbc/Hz,10赫兹偏移量)和1秒艾伦方差(<2 10-11)。
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STANFORD/斯坦福SR830锁相放大器
- 品牌:美国SRS
- 型号: SR830
- 产地:美国
STANFORD/斯坦福SR830锁相放大器 SR810锁相放大器只显示幅值。使用数字处理技术(DSP)完全取代了传统的由解调器,滤波器和放大器组成的锁相放大器。
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美国海洋光学 NEOFOX-KIT-PROBE原位氧监测套件(含探头)
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: NEOFOX-KIT-PROBE
- 产地:美国
NEOFOX-KIT-PROBE可帮助您配置原位氧监测系统,为展开准确和高精度氧测量作好一切准备。
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美国海洋光学' NEOFOX-KIT-PATCH非浸入式氧监测套件(含感应片)
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: NEOFOX-KIT-PATCH
- 产地:美国
NEOFOX-KIT-PATCH可帮助您配置非浸入式氧监测系统,为展开准确和高精度氧测量作好一切准备。
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美国海洋光学 显微光谱测量系统-MicroTEQ-B1
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: MicroTEQ-B1
- 产地:美国
MicroTEQ-B1显微光谱测量系统,具备透反射测量功能。系统选用了共焦收光方式,形成了较小的收光面;除此之外,视野+成像+收光+物面的共轭,可使观察和测试同时进行。
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美国海洋光学 显微光谱测量系统-MicroTEQ-A1
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: MicroTEQ-A1
- 产地:美国
MicroTEQ-A1显微光谱测量系统,集成荧光、共焦拉曼测量功能*。通过把光谱测量模块集成到正置或倒置显微镜上,实现显微荧光、共焦拉曼和其他光谱信息的测量。
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美国海洋光学 显微光谱测量系统MicroTeq-R1
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: MicroTeq-R1
- 产地:美国
MicroTEQ-R1 显微光谱测量系统,采用高精度微区光路平台,通过加装于正置显微镜光路中的拉曼光谱模块,实现了共焦拉曼*测量功能。
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美国TSI Qfit呼吸面罩密合度测试仪
- 品牌:美国TSI
- 型号: Qfit
- 产地:美国
QfitTM 呼吸面罩密合度测试仪一款操作简单,清洁的定性密合度测试仪器。QfitTM 呼吸面罩密合度测试仪是获得OSHA(29CFR 1910.134)批准的使用Bitrex 和糖精(Saccharin)的泵驱动雾化器进行面罩密合度定性测试的仪器。
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美国TSI 8038呼吸器密合度测试仪
- 品牌:美国TSI
- 型号: 8038
- 产地:美国
8038呼吸器密合度测试仪可以定量对所有类型的呼吸器密合度进行检验-防毒面具,SCBAs,呼吸器,口罩,包括N95抛弃型口罩。8038呼吸器密合度测试仪,消除了那些需要猜测和繁琐和容易出错的定性的密合度检验方法。当面具需要密合度测试,完全可以信赖密合度试仪所提供的快捷,简单的和符合OSHA 的密合度测试。 呼吸器密合度测试仪套件 包括: 携带箱 AC 适配器 酒精容量(满足大约240 小时的操作) FITPRO 密合度测试软件光盘 连接计算机的
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纳米操作机、纳米机械手、纳米操纵机械臂、纳米操纵仪TNI LF-2000
- 品牌:多伦多纳米操作机
- 型号: LF-2000
- 产地:加拿大
小尺寸:小型化设计,结构紧凑,zui小尺寸可达50x50x17mm 高精度:纳米级微操作 易操作:XYZ直角坐标,支持PC/遥感操作
- 精密测量系统
- 仪器网导购专场为您提供精密测量系统功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选精密测量系统的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。