半导体参数测试仪半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV(电容-电压)、C-f(电容-频率)以及 C–t(电容-时间)测量),并快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导体参数测试。半导体参数测试仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。
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美国Mactronix硅片倒片机(半导体FAB专用)
- 品牌:美国Mactronix
- 型号: MCL-x50
- 产地:美国
仪器简介: Mactronix公司世界较大的wafer transfer(倒片机)生产产家,他生产的倒片机,分选机,广泛被大的半导体厂家所使用,特别是欧美地区的大FAB里处处都有使用,国内的FAB里从国外进来的生产线上也有很多,使用十几年以上非常普遍,目前国内通过美国赛伦科技公司(北京上海都有办事处)全权负责销售与售后服务。使用客户有,如:台积电,中芯,康可电子等等FAB里都有购买使用。 具体资料请来电或邮件索取。
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