半导体参数测试仪半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV(电容-电压)、C-f(电容-频率)以及 C–t(电容-时间)测量),并快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导体参数测试。半导体参数测试仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。
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自动特性图示仪
- 品牌:美国RTI
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产品简介什么是Curve Tracing?"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案,从使用powered curve tracing测试小型芯片的开路/短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片。RTI's MT Century Curve Tracer RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比
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