半导体参数测试仪半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV(电容-电压)、C-f(电容-频率)以及 C–t(电容-时间)测量),并快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导体参数测试。半导体参数测试仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。
精品推荐
-
半导体参数分析仪
品牌:武汉普赛斯
型号:PMST-4000A
-
数字源表测电阻率四探针法
品牌:武汉普赛斯
型号:S100
-
VCSEL器件窄脉冲LIV测试系统
品牌:武汉普赛斯
型号:PL202
-
半导体分立器件静态测试系统
品牌:武汉普赛斯
型号:PMST-3500V
-
第三代半导体晶圆测试高电压大电流源
品牌:武汉普赛斯
型号:HCPL100型
半导体参数测试仪产品筛选
- 产品品牌
- 不限
-
更多品牌
展开更多选项
半导体参数测试仪产品列表
排列样式:
- >
-
微动摩擦磨损试验机
- 品牌:美国Rtec
- 型号: MFT5000
- 产地:美国
微动摩擦磨损试验机采用电磁激振方式实现台体的微动,并使用Lvdt原件进行微动的位移精度控制项目简述参数说明1、微动摩擦磨损试验机测试系统可用载荷范围:0.1N-5KN,可提供传感器组选项:0.5N-50N,1N-100N,2N-200N,10N-1000N,20N-2000N,50N-5000N金属、陶瓷材料和润滑油宏观力学性能测试可进行球块、销块微动实验,微动实验频率:1-100Hz,振幅:0.1-200μm多种施力模式:恒力模式、线性增量模式、动态加载模式等2、微动摩擦磨损试验机的加载形式通过伺服机械
推荐供应商
半导体参数测试仪同类产品
最新发布半导体参数测试仪
半导体参数测试仪产品资料
- 半导体参数测试仪
- 半导体参数测试仪,半导体参数测试仪