半导体参数测试仪半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV(电容-电压)、C-f(电容-频率)以及 C–t(电容-时间)测量),并快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导体参数测试。半导体参数测试仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。
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对标2602b脉冲电流源PL系列
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型号:PL201/202
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半导体功率循环数据采集卡
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半导体参数测试系统CV+IV特性扫描仪
品牌:武汉普赛斯
型号:SPA6100
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霍尔效应测试系统(HET)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: HET
- 产地:武汉
霍尔效应测试系统依据范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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便携式泽贝克系数测试仪(PTM)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: PTM
- 产地:武汉
可快速测试Seebeck系数,对样品无特殊要求,测量方法稳定可靠
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薄膜热电参数测试系统(MRS)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: MRS
- 产地:武汉
薄膜热电参数测试系统是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量,测温范围达到81K~700K,采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
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热电参数测试系统(Namicro)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: Namicro
- 产地:武汉
热电参数测试系统采用动态法(具有ZL技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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