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对标2602b脉冲电流源PL系列
品牌:武汉普赛斯
型号:PL201/202
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激光器LIV测试仪器
品牌:武汉普赛斯
型号:PL201/202
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半导体功率循环数据采集卡
品牌:武汉普赛斯
型号:A400
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直流3A国产SMU
品牌:武汉普赛斯
型号:sxxb系列
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半导体参数测试系统CV+IV特性扫描仪
品牌:武汉普赛斯
型号:SPA6100
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半导体参数分析仪
- 品牌:北京博达微
- 型号: FS-Pro
- 产地:香港
产品简介:FS-Pro系列是业界的人工智能驱动的一体化半导体参数测试系统,单台设备具备IV, CV 与 1/f noise 测试能力,内建的AI算法加速技术全面提升测试效率。业界低频噪声测试黄金系统9812DX和 FS-Pro 的融合使两个产品不但功能更加完整,性能也都有大幅提升。FS-Pro可广泛应用于半导体典型器件、LED材料、二维器件、金属材料、新型先进材料与器件测试。FS-Pro可支持达上百个通道。内置测量软件提供数百个预定义的测试模板和功能,实现
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8000V/6000A功率器件测试设备
- 品牌:武汉普赛斯
- 型号: PMST-8000V
- 产地:武汉
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU)的第三代半导体功率器件静态参数测试方案,为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段,实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。如果您对8000V/6000A功率器件测试设备感兴趣,欢迎随时联系我们
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TEK Keithley半导体参数分析仪 4200A-SCS
- 品牌:美国泰克
- 型号: 4200A-SCS
- 产地:美国
美国泰克TEK Keithley半导体参数分析仪 4200A-SCS ,加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。
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泰克半导体参数分析仪 Keithley 4200A-SCS
- 品牌:美国泰克
- 型号: Keithley 4200A-SCS
- 产地:美国
· 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语 · 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试 · 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
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塞贝克系数/电阻测量系统ZEM
- 品牌:日本Advance Riko
- 型号: ZEM-3
- 产地:日本
♦ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器; ♦ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;
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激光单粒子效应SEE测试仪
- 品牌:美国Allied Scientific
- 型号: SEE
- 产地:美国
单粒子效应对应用于航天以及核工业的芯片往往造成极大危害,相对于传统的粒子加速器而言,利用脉冲激光进行检测可以极大地提GX率,降低成本。以下型号型号激光SEE测试仪已经被应用于美国波音公司和NASA。
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自动特性图示仪
- 品牌:美国RTI
- 型号: MT Century Curve Trace
- 产地:美国
产品简介什么是Curve Tracing?"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案,从使用powered curve tracing测试小型芯片的开路/短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片。RTI's MT Century Curve Tracer RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比
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Heller - 回流焊系统/垂直式固化炉
- 品牌:美国Heller INDUSTRIES
- 型号: Model 755
- 产地:美国
美国Heller Industries回流焊炉/垂直式固化炉Heller Industries 成立于一九六零年,并在八十年代首chuang对流式回流焊接设备。 多年来,Heller和其客户携手并进,致力于设备的创新和完善,以迎合更先进的制程需求。 立足创新与变革,Heller稳居全球回流焊领域的地位,为全球的电子制造商和装配厂提供各种解决方案。Mark III 系列 - SMT 回流焊炉 Mark III 系列回流焊炉的出现,带来更低的使用成本。Heller回流焊炉在加热和冷却方面的发展,可以为您节省高
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半导体参数分析仪
- 品牌:北京博达微
- 型号: FS-Pro
- 产地:香港
产品简介:FS-Pro系列是业界的人工智能驱动的一体化半导体参数测试系统,单台设备具备IV, CV 与 1/f noise 测试能力,内建的AI算法加速技术全面提升测试效率。业界低频噪声测试黄金系统9812DX和 FS-Pro 的融合使两个产品不但功能更加完整,性能也都有大幅提升。FS-Pro可广泛应用于半导体典型器件、LED材料、二维器件、金属材料、新型先进材料与器件测试。FS-Pro可支持达上百个通道。内置测量软件提供数百个预定义的测试模板和功能,实现
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WEP PN深度测试仪/扩散浓度ECV)
- 品牌:德国WEP
- 型号: CVP21
- 产地:德国
ECV/结深测试仪/扩散浓度分选仪 德国WEP公司的ECV(型号为CVP21)在太阳能光伏行业的应用非常普及,市场占有率甚至达95%以上,是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一,知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备:CVP21(见图) 1. ECV又名扩散浓度测试仪,结深测试仪等,即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布(见图); 2. 相比其他方法如SRP,SIMS等,ECV具有测量使用方便,价格低的优点;WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片,这也
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美国Mactronix硅片倒片机(半导体FAB专用)
- 品牌:美国Mactronix
- 型号: MCL-x50
- 产地:美国
仪器简介: Mactronix公司世界较大的wafer transfer(倒片机)生产产家,他生产的倒片机,分选机,广泛被大的半导体厂家所使用,特别是欧美地区的大FAB里处处都有使用,国内的FAB里从国外进来的生产线上也有很多,使用十几年以上非常普遍,目前国内通过美国赛伦科技公司(北京上海都有办事处)全权负责销售与售后服务。使用客户有,如:台积电,中芯,康可电子等等FAB里都有购买使用。 具体资料请来电或邮件索取。
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美国MTI 测量硅片几何参数(TTV/BOW/WARP/FLATNESS)
- 品牌:美国MTI Instruments
- 型号: MTI 200SA/300/300SA
- 产地:美国
公司简介: 美国MTI公司为半导体行业硅片几何参数测量技术-电容探头领域的佼佼者,与昔日的ADE齐名:为世界半导体业硅片几何参数测量的标准测试设备;为纳斯达克上市企业。仪器简介: 主要参数: 1. Diameter: 150mm,200mm,300mm 2. Material: All semiconducting,and semi-insulating matrrials 3.Surfaces: As-Cut, Lapped, Etched,Polished,Patterne
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FSM128非接触薄膜应力测试
- 品牌:美国FSM
- 型号: FSM128/FSM413/FSM127
- 产地:美国
美国FSM应力仪-----应力测试专家,为行业应力仪!Semi-Auto(半自动) Fully-Auto(全自动)* 自动切换的双光路波长:650纳米和780纳米* 测量方式:直径方向的扫描,可提供形貌图* 扫描范围:对于200mm的硅晶圆为194mm* 3-D形貌图:测量台有旋转功能,可通过控制软件中的参数输入来旋转测量台,以完成形貌图的测量(至少需要测量6个方向的扫描)* 测量的硅晶圆尺寸: 200mm* 应力测量的范围:1X107 dynes/cm2 至 4X1010 dynes/cm2(对于典型
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Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪
- 品牌:美国Sinton Instruments
- 型号: BCT400
- 产地:美国
少子寿命测量仪BCT-400BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。作为最易于使用的测量工具--BLS,只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话,请选择BCT-400。
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霍尔效应测试系统(HET)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: HET
- 产地:武汉
霍尔效应测试系统依据范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。
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Agilent/安捷伦4155C半导体参数分析仪
- 品牌:安捷伦
- 型号: 4155C
- 产地:美国
Agilent/安捷伦4155C半导体参数分析仪 安捷伦4155C半导体参数分析仪是一款经济GX、适用于先进器件表征的实验室用台式解决方案。41501B Expander 可将仪器的测量范围扩展至 1A/200V,并为4155C添加低噪声接地单元和双脉冲发生器。
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便携式泽贝克系数测试仪(PTM)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: PTM
- 产地:武汉
可快速测试Seebeck系数,对样品无特殊要求,测量方法稳定可靠
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薄膜热电参数测试系统(MRS)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: MRS
- 产地:武汉
薄膜热电参数测试系统是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量,测温范围达到81K~700K,采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
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热电参数测试系统(Namicro)
- 品牌:武汉嘉仪通
- 型号: Namicro
- 产地:武汉
热电参数测试系统采用动态法(具有ZL技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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功率循环测试系统
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: ENG1220 IGBT
- 产地:西安
ENG1220型IGBT功率循环测试设备的测试方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9:2007及GB4023-83等相关标准。 IGBT功率循环测试设备,是IGBT测试的重要检测设备,该设备具有如下特点: 1.该测试系统是一套动态综合的测试系统,测试参数多,设备测试数据精度高。 2.该测试系统是一套大电流测试设备,设备的电气性能要求高。 3.该测试系统具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点。 4.该系统的测试程序由计算机控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。 5.该测试系统采用内控和外控两种方式。便于工作人员操作。 6.该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。 7.该测试系统是IGBT模块成品可靠性检验测试中不可缺少的专用测试设备。
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微动摩擦磨损试验机
- 品牌:美国Rtec
- 型号: MFT5000
- 产地:美国
微动摩擦磨损试验机采用电磁激振方式实现台体的微动,并使用Lvdt原件进行微动的位移精度控制项目简述参数说明1、微动摩擦磨损试验机测试系统可用载荷范围:0.1N-5KN,可提供传感器组选项:0.5N-50N,1N-100N,2N-200N,10N-1000N,20N-2000N,50N-5000N金属、陶瓷材料和润滑油宏观力学性能测试可进行球块、销块微动实验,微动实验频率:1-100Hz,振幅:0.1-200μm多种施力模式:恒力模式、线性增量模式、动态加载模式等2、微动摩擦磨损试验机的加载形式通过伺服机械
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NTS品牌TCF系列非回转型扭力传感器
- 品牌:台湾NTS
- 型号: TCF-0.2Nm~5000Nm
- 产地:
非回转型扭力传感器型号:TCF系列特点◎用于非连续性旋转的扭力检出,对于静止或是慢慢旋转,广泛使用于气动起子、电动起子和汽车零件、机械手臂等的扭力试验。
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MPS-150 Series
- 品牌:美国AGS Plasma
- 型号: MPS-150 Series
- 产地:美国
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等离子刻蚀ICP
- 品牌:美国Trion
- 型号: Minilock-Phantom III ICP
- 产地:美国
Minilock-Phantom III具有预真空室的反应离子刻蚀机可适用于单个基片或带承片盘的基片(3”- 300mm尺寸),为实验室和试制线生产环境提供zuixianjin的刻蚀能力。它也具有多尺寸批处理功能(4x3”; 3x4”; 7x2”)。系统有多达七种工艺气体可以用于刻蚀各种薄膜,如氧化硅、氮化硅、多晶硅、铝、砷化镓、铬、铜、磷化铟和钛。该反应室还可以用于去除光刻胶和有机材料。可选配静电吸盘(E-chuck),以便更有效地在刻蚀工艺中让基片保持冷却。该E-chuck使用氦压力控制器,及在基片背
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semishareSE-6 探针台
- 品牌:深圳森美协尔
- 型号: SH-6
- 产地:深圳
稳定的结构 同轴丝杠传动结构,线性移动 针座平台可快速升降和微调,适合针卡测试 大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计 兼容高倍率金相显微镜,可微调移动 芯片内部线路/电极/PAD测试 高等院校/研究所/公司实验室使用 LD/LED/PD的光强/波长测试 zuida可用于12英寸以内样品测试 材料/器件的IV/CV特性测试
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曲线追踪仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: ENJ2005J-9
- 产地:西安
测试范围 二极管DIODE,晶体管(NPN型/PNP型),J型场效应管J-FET,MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC,可控硅SCR,绝缘栅双极大功率晶体管IGBT,硅触发可控硅STS 达林顿阵列DARLINTON,光电耦合OPTO-COUPLER,继电器RELAY,稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR,光电开关OPTO-SWITCH,光电逻辑OPTO-LOGIC,金属氧化物压变电阻MOV,固态过压保护器SSOVP,压变电阻VARISTOR,双向触发二极管DIAC
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半导体参数分析仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: ENJ2005C-7
- 产地:西安
IV曲线显示/局部放大,程序保护电流/电压,以防损坏,品种繁多的曲线,可编程的数据点对应,增加线性或对数,可编程延迟时间可减少器件发热
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新型半导体晶体管图示系统
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: EN-2005C-5
- 产地:西安
本系统使用方便,只需要通过USB或者RS232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。
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易恩晶体管特性曲线图示仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: EN-2005C-1
- 产地:西安
可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。
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开尔文感应结构的测试插座半导体参数测试仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: EN-2005B-4
- 产地:西安
系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。
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JUNO测试仪 替代品 易恩晶闸管综合测试仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: DBC-226
- 产地:西安
晶闸管综合参数测试系统,是大功率晶闸管测试的重要检测设备,该设备具 有如下特点: 1. 该测试系统是一套综合的测试系统,综合测试参数多,技术难度大。 2. 该测试系统是一套高压大电流的测试设备,对设备的电气性能要求高。 3. 该系统是一套动态和静态参数的集成测试系统,因此该设备的结构设计难度大。 4. 该系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。 5. 该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为 Excel 文件进行处理。 6. 该测试系统是晶闸管出厂检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要测试晶闸管。
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瑞士LEMSYS 替代品 易恩IGBT动态参数测试仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: EN-2020A
- 产地:西安
EN-2020A半导体器件动态参数测试系统,该系统是针对IGBT器件的开关性特性及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的测试。
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美国ITC 替代品 易恩大功率IGBT静态测试仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: EN-3020C
- 产地:西安
EN—3020C测试系统(以下简称系统)是西安易恩电气科技有限公司推出的IGBT静态测试系统,该系统符合国军标GJB128-86和国家标准GB/T 4587-94测试规范。 系统适合工厂、研究所用做IGBT及其模块的筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试,是一款针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统。 系统标准功率源为3500V/200A,电流可扩展至2000A。 系统的自动化程度高,按照操作人员设定的程序自动工作,实现全自动化的智能测试,计算机记录测试结果,测试结果可转化为文本或 EXCEL 格式存储。测试方法灵活,可wan美测试器件以及单个单元和多单元的模块测试。 系统采用品牌工控机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等特点 系统安全稳定,PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁。
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日本岩崎 替代品 易恩晶体管特性曲线图示仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: EN-2005C
- 产地:西安
西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,是一款GX多功能的高端半导体测试设备。
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易恩电气晶体管参数测试仪ENJ2005-C
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: ENJ2005-C
- 产地:西安
●IV曲线显示/局部放大 ●程序保护zuida电流/电压,以防损坏 ●品种繁多的曲线 ●可编程的数据点对应 ●增加线性或对数 ●可编程延迟时间可减少器件发热 ●保存和重新导入入口程序 ●保存和导入之前捕获图象 ●曲线数据直接导入到EXCEL ●曲线程序和数据自动存入EXCEL 测试范围广(19大类、27分类
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易恩电气半导体综合参数测试仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: ENJ2005-B
- 产地:西安
设备扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。 面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
- 半导体参数测试仪
- 仪器网导购专场为您提供半导体参数测试仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选半导体参数测试仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。