半导体参数测试仪

是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C-f（电容-频率）以及 C–t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。