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四探针面扫描电阻率 CDE resmap 178
- 品牌:美国瑞斯迈
- 型号: CDEresmap178
- 产地:美国
美国Creative Design Engineering, 简称“CDE”,成立于1995年,位于美国加州硅谷的库比蒂诺 - Cupertino, CDE公司专注于四探针设备的生产和销售,累计销量达1000台以上,遍布世界各大半导体Fab, 太阳能光伏企业,大学及科研机构,“CDE”是四探针领域的领导品牌。
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CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪
- 品牌:美国瑞斯迈
- 型号: CDE resmap 168
- 产地:美国
CDE 四探针电阻率电导率测试仪Resmap168Resmap168型四点探针测试仪是专门为光伏电池生产企业设计的一款产品。提供可靠,准确和重复性好的四点探针测试技术。168型带自动传送功能,从提高了产品的产量,从而降低导电材料产品的成本。提供NIST标准片6片!产品特点:操作简单、快速精确电阻测量范围:1 mΩ/方块 - 5 MΩ/方块典型应用:非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等美国CDEZL技术: 可针对材料(不同材
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CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪
- 品牌:美国瑞斯迈
- 型号: CDE resmap 273
- 产地:美国
Resmap273在178型的技术基础上,ResMap273是半导体行业首款30毫米桌面四点探针仪。273型扩展了ResMap原来一些产品的性能,实现了太阳能对210毫米大型衬底的要求。外形小巧,坚固耐用,准确性和重复性好。提供NIST标准片6片!产品特点:操作简单、快速精确电阻测量范围:1 mΩ/?? - 5 MΩ/??典型应用:非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等美国CDEZL技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离
- 四探针测试仪/四探针系统
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