四探针测试仪/四探针系统四探针测试仪/四探针系统是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。四探针测试仪/四探针系统由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成。四探针测试仪/四探针系统适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
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美国四探针电阻率测试仪/方块电阻测试仪
- 品牌:美国四维
- 型号: 280SI
- 产地:美国
4D公司所提供的探针质保次数是25万次,而实际从客户反馈的信息是寿命达到100万次以上,甚至150万次以上。同时4D还为客户提供探头的探针更换服务,大大降低客户的使用成本。 美国四探针电阻率/方块电阻测试仪,根据测试不同工艺要求有A, B,K, M, N等相关型号探头选择,另外还可提供专门为客户定制的应用特殊要求的探针。
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进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪 280SI
- 品牌:美国四维
- 型号: (4PP)/280SI
- 产地:美国
美国Four Dimensions,Inc, 简称“4D”,成立于1978年,位于美国加州硅谷的Hayward, 4D公司专注于四探针设备和CV仪的生产和销售,累计销量达800台以上,遍布世界各大半导体Fab, 太阳能光伏企业,大学及科研机构。
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进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪
- 品牌:美国四维
- 型号: 280SI
- 产地:美国
美国Four Dimensions,Inc, 简称“4D”,成立于1978年,位于美国加州硅谷的Hayward, 4D公司专注于四探针设备和CV仪的生产和销售,累计销量达800台以上,遍布世界各大半导体Fab, 太阳能光伏企业,大学及科研机构。美国4D公司的四探针/方块电阻/电阻率测试设备:280SI (4D公司最普及型号)测量尺寸:晶圆尺寸:2-8寸(333系列可测量大至12寸晶圆,1100系列可测量大至2160mmX2400mm平板系列) &nbs
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