离子减薄仪离子减薄仪应属于离子束加工的范畴。其方法是用高能离子束轰击样品表面、高能离子与样品表面原子发生弹性碰撞、样品表面原子能量增大至高于该原子的逸出功时,便飞离样品,这样就使样品表面不断失去原子——减薄。离子减薄过程必须在真空状态下进行,离子减薄技术将在地矿和骨科研究领域得到更广范的应用,从而带动透射显微学在上术领域得到更大的发展。
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徕卡多功能离子减薄仪 Leica EM RES102
- 品牌:徕卡显微系统
- 型号: EM RES102
- 产地:奥地利
Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。Leica EM RES102主要功能为:对无机薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透射电子显微镜观察;对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀,样品表面离子清洗及斜坡切割,便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。您的优势主要技术参数: 具有2把离子枪,离子束能量为0.8keV-10keV,相对位置,可分别±45°倾斜,样品台倾斜角度-
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