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Kla纳米压痕仪G200,G200X,iMicro
- 品牌:美国KLA
- 型号: G200,G200X,iMicro
- 产地:美国
Nano Indenter® G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。 该系统是一个完全可升级,可扩展且经过生产验证的平台,全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。 Nano Indenter® G200X系统是纳米级机械测试仪器,兼具JZ、灵活、易于使用等优点。
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G200型纳米压痕仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: G200
- 产地:美国
广受赞誉的高速测试选项可以和所有G200 型纳米压痕仪配合使用, 包括DCMII 和 XP 模块以及样品台; 快速进行面积函数和框架刚度校对; 精确和可重复的结果, 完全符合ISO14577 标准。
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美国KLA原位高温纳米力学测试仪InSEM HT
- 品牌:美国KLA
- 型号: InSEM HT
- 产地:美国
美国KLA InSEM HT原位高温纳米力学测试系统,纳米压痕仪,样品加温可达800 ℃,样品尺寸可达10MM,装样系统与真空环境兼容
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英国MML纳米压痕仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: NanoTest Vantage
- 产地:美国
英国MML(微)纳米材料力学性能综合测试系统 NanoTest Vantage, 可以完成微纳米尺度上材料力学性能测试和表征,用于产品的研究和开发。可以用于混凝土、金属材料和生物材料的纳米压痕、纳米划痕、纳米冲击和疲劳等纳米特性测试,获得与服役相关条件下的硬度、模量、蠕变、屈服、塑性功和弹性功、纳米磨损性能、粘结失效、断裂韧性、冲击性能、接触疲劳强度、以及温度、湿度、液体等环境因数对材料性能的影响。
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布鲁克纳米压痕仪/硬度/杨氏/弹性模量系统
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: TI 980
- 产地:美国
布鲁克的海思创TI 980 TriboIndenter同时具有ZG的性能、灵活性、可信度、实用性和速度。基于海思创几十年的技术创新,它为纳米力学表征带来了更高水平的性能、功能和易用性。TI 980达到了一台优异纳米力学测试仪器所需的所有要求,实现了控制上突出的先进性和GX性,试验上的灵活度与可实现性,测量稳定性,以及系统设计的模块化。
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扫描电镜/FIB原位纳米压痕仪Hysitron PI 88
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Hysitron PI 88
- 产地:美国
扫描电镜/FIB原位纳米压痕仪:布鲁克Hysitron PI 88 PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统,其大特点是系统设计高度模块化,后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。真正实现直接观察条件下的定量纳米力学表征;高级的XYZ方向样品定位,配合可选倾斜和旋转样品台;模块化设计,可搭载全套测试技术,包括800℃热台,划痕,扩展量程的传感器,电学偏压等。轻松搭载定量纳米力学测试深入了解纳米尺度下的力学性能在您实验室已有的熟知仪器上获得力学数据,在您电镜上扩展如下
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美国Rtec微纳米压痕、划痕仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: NMIS
- 产地:美国
压痕和划痕测试仪,配备6容易互换的机械头,高倍率显微镜和成像模块(AFM和3维形貌仪)。请求专家测试,目睹和了解更多信息6种机械头压痕头 - 用于测量硬度,薄膜、超薄涂层和疏松材料的弹性模量。纳米划痕头 - 通常使用的纳米厚度的薄膜和超薄涂层(DLC,ALD,太阳能薄膜(ITO),光学镀膜等)微压痕头 -用来测量硬度,薄膜、涂层和块体材料的杨氏模量微划痕头 - 通常为微米级厚度的涂层(PVD,CVD,涂料,装饰涂料等)宏刮头 - 通常用于厚的涂层和块体材料微米/纳米摩擦学头 - 用于测量
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iNano纳米压痕仪
- 品牌:美国Nanomechanics
- 型号: iNano
- 产地:美国
iNano纳米压痕仪致力于提高纳米测试技术、力和位移的测量,以及材料的力学性能评价。通过测试技术和数据管理系统的研究与开发,设计和制造,为全球客户提供先进的纳米力学实验和数据分析。iNano 能轻松的为客户提供准确的、高精度的、可重复的数据,而价格极为经济实用。iNano设计精巧,占用空间小,能在2小时内为目前几乎所有材料提供精确测试数据。操作便捷iNano旨在为实验室技术人员和研究人员提供一个易于使用的测试设备,应用于他们的材料和产品。从其创新的磁性样品加载系统和行业领xian的软件,iNano使实验和
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电镜原位纳米压痕测试系统INSEM
- 品牌:美国Nanomechanics
- 型号: INSEM
- 产地:美国
INSEM是一套可以接到扫描电镜(SEM)的深度敏感压痕仪,该仪器可以执行定量纳米力学测试并同步获取SEM成像。这两项技术的耦合让研究者可以极其精确定位和整个测试过程的变形进行成像。在纳米力学测量系统的各项基础上,专为在电子显微镜内实现纳米力学测量系统卓越性能而设计,是表征断裂卒发和裂纹扩展,剥离和堆积的理想选择。并且现场可以进行实时观察,不用等到测试结束。这两项高精度技术的结合提供了独特的材料行为机制研究观察方法。主要特点:模块设计灵活性高InSEM为模块化设计,具有高适应性,能够适用于各种应用。InS
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是德科技G200纳米压痕测试系统
- 品牌:美国是德科技
- 型号: G200
- 产地:美国
经过多年的研究与进步,是德纳米压痕仪已经发展成为一种测量精确、用途灵活、界面友好的测试工具,广泛应用于纳米力学测试研究中。配有电磁驱动装置的仪器系统,在力学和位移操作上,可以达到的动态测量范围。Nano Indenter G200是一套完整的纳米力学显微探针系统,其功能包括了纳米压痕、纳米划痕以及纳米力学显微镜等。整个测试流程都是全自动的,这样就提高了测试数据的可靠性和可重复性。?G200主要特性与技术指标?符合 ISO 14577 标准的测量结果具有动态范围的电磁驱动器具有灵活性,以及针对可重复使用或全
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是德科技T150纳米拉伸测试系统
- 品牌:美国是德科技
- 型号: T150
- 产地:美国
Keysight T150 UTM 是一款通用试验机,可为研究人员提供卓越的纳米力学表征方法。zuixianjin的 T150 利用纳米力学驱动传感器头生成拉力(load on sample),并将电磁驱动与精密的电容测量相结合,可在广泛的应变范围内提供卓越的灵敏度。T150 UTM 通过业界最广泛的动态范围和市场上**的分辨率,能够使研究人员了解柔性纤维的动力学性能,并研究生物材料、单根细纤维(聚合物/金属/陶瓷)、蜘蛛丝、静电纺纳米纤维和纺织品的拉伸/压缩性能。优势载荷模块支持大应变下的高精度测量。在
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是德科技G300纳米压痕测试系统
- 品牌:美国是德科技
- 型号: G300
- 产地:美国
Nano Indenter G300配备支持试样直径最大为12英寸的样品台,可对各种不同尺寸晶圆片直接进行力学性能检测,不需要破坏晶圆片就可以获得上面任意位置的力学性能,整个实验过程全自动控制,避免了可能的人为因素的影响,确保每个测试都是合理、一致、精确。优势配有大样品台,最大样品直径可达300毫米全自动控制,避免人为因素影响测试结果应用范围广泛,升级方便利用连续刚度测量技术对压入深度方向的动态力学性能进行精确的表征精确的测量结果,高度的再现性,完全符合IS014577国际标准,GB/T 22458-20
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纳米压痕仪
- 品牌:美国是德科技
- 型号: Nano Indenter G200
- 产地:美国
经过多年的研究与进步,是德纳米压痕仪已经发展成为一种测量精确、用途灵活、界面友好的测试工具,广泛应用于纳米力学测试研究中。配有电磁驱动装置的仪器系统,在力学和位移操作上,可以达到的动态测量范围。Nano Indenter G200是一套完整的纳米力学显微探针系统,其功能包括了纳米压痕、纳米划痕以及纳米力学显微镜等。整个测试流程都是全自动的,这样就提高了测试数据的可靠性和可重复性。G200主要特性与技术指标符合 ISO 14577 标准的测量结果具有动态范围的电磁驱动器具有灵活性,以及针对可重复使用或全新应
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TriboLab机械与性能摩擦测试
- 品牌:
- 型号: TriboLab
- 产地:美国
功能最全的摩擦学系统 自2000年面世以来,布鲁克通用机械性能测试仪(UMT)一直是市场上功能最多、使用最广的摩擦磨损试验机。现在,全新设计的UMT TriboLab,在传统通用性基础上,采用独特的模块化概念,提供了更多的功能和更好的性能。与以前的UMT产品和竞争对手相比,UMT TriboLab提供更快的速度、更大的扭矩、和更好的力测量。另外,它引入了一些强大的新功能,大大提高了工作效率和易用性。杰出的模块化底盘系统集成单一高扭矩电机,可提供全量程的速度和扭矩;可互换下方驱动能可在同一紧凑的平台上运行几
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布鲁克NanoForce纳米机械性能测试系统
- 品牌:
- 型号: NanoForce
- 产地:美国
研究人员不断探索纳米机械的边界,开发新的模型描述材料的近表行为。同样,产品制造商不断寻找改进验证生产工艺和产品材料。这两种情况都需要准确表征纳米性能。布鲁克NanoForce纳米机械性能测试系统提供zuixin的纳米机械性能表征技术,非凡的纳米机械性能测量精度和原子力显微镜成像,为纳米材料研究提供有力的支持。布鲁克NanoForceTM系统标配超低负荷能力、动态测试和原子力显微镜成像,并提供闭环控制以实现实验参数的zuiyou化。NanoForceTM提供真正的纳米机械性能测试能力,远超一般纳米压痕技术,
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KLA高精度台式纳米压痕仪iNano
- 品牌:美国KLA
- 型号: iNano
- 产地:美国
iNano高精度台式纳米压痕仪是一种紧凑,用户友好的纳米机械测量系统,设计用于硬涂层,薄膜和少量材料。该系统旨在进行准确,可重复的纳米级机械测试,包括压痕,硬度,划痕和通用纳米级测试。iNano具有很大的力和位移动态范围,可以施加高达50mN的力来测试薄膜和软材料。模块化选项可满足多种应用,包括材料特性图和高温测试。
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纳米力学测试系统
- 品牌:美国KLA
- 型号: iMicro
- 产地:美国
灵活且用户友好的纳米压痕仪,适用于测量模量、硬度(Oliver-Pharr模型,ISO 14577)、储存模量/损耗模量以及万能力学试验。能够施加高达1N的力,为硬质材料测试提供更高载荷和更大深度。可供选配的不同作动器,用于软质材料、摩擦学研究、横向力测量和其它需要双轴测量力和位移的场景。
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纳米压痕仪 NanoFlip
- 品牌:美国KLA
- 型号: NanoFlip
- 产地:美国
NanoFlip纳米压痕仪可在真空和常压条件下对硬度、模量、屈服强度、刚度和其他纳米力学测试进行高精确度的测量。在扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束(FIB)系统中,NanoFlip在测试(例如柱压缩)方面表现优异,可以将SEM图像与机械测试数据同步。NanoFlip测量迅速,这对于惰性环境(例如手套箱)中测试异质材料很关键。系统所配置的可选套件,例如InForce50电磁驱动器,可以提供定量结果,从而为材料研究提供有价值的解决方案
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纳米压痕仪 iNano®
- 品牌:美国KLA
- 型号: iNano
- 产地:美国
iNano®纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。 该仪器准确、灵活,并且用户友好,可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 该仪器的力荷载和位移测量动态范围很大,因而可以实现从软聚合物到金属材料的精确和可重复测试。 模块化选项适用于各种应用:材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损以及高温测试。 iNano提供了一整套测试扩展选项,包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D/4D属性映射和远程视频选项。
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纳米压痕仪 Nano Indenter® G200X
- 品牌:美国KLA
- 型号: Nano Indenter® G200X
- 产地:美国
NanoIndenter G200X纳米级力学测试平台,简单易用,能够快速准确的提供各种定量的力学测试结果。G200X系统能够轻松表征广泛的材料力学性能,从硬质涂层到超软聚合物样品,并针对不同应用提供综合全面的纳米力学测试升级选件和解决方案。
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iMicro
- 品牌:美国KLA
- 型号: iMicro
- 产地:美国
iMicro纳米压痕仪可轻松测量硬涂层,薄膜和少量材料。该仪器准确、灵活,并且用户友好,可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 可互换的驱动器能够提供大动态范围的力荷载和位移,使研究人员能够对软聚合物到硬质金属和陶瓷等材料做出精确及可重复的测试。模块化选项适用于各种应用:材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损测试以及高温测试。 iMicro拥有一整套测试扩展的选项,包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D / 4D性质分布,以及Gemini 2D力荷载传感器,可以提供摩擦和其他双轴测量。
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美国Rtec纳米压痕仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: NMYH
- 产地:美国
压痕和划痕测试仪,配备6容易互换的机械头,高倍率显微镜和成像模块(AFM和3维形貌仪)。 请求专家测试,目睹和了解更多信息 6种机械头 压痕头 - 用于测量硬度,薄膜、超薄涂层和疏松材料的弹性模量。 纳米划痕头 - 通常使用的纳米厚度的薄膜和超薄涂层(DLC,ALD,太阳能薄膜(ITO),光学镀膜等) 微压痕头 -用来测量硬度,薄膜、涂层和块体材料的杨氏模量 微划痕头 - 通常为微米级厚度的涂层(PVD,CVD,涂料,装饰
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美国科磊(KLA)纳米压痕仪iNano
- 品牌:美国KLA
- 型号: iNano
- 产地:美国
iNano®纳米压痕仪使测量薄膜、涂层和小体积材料变得更简单。准确、灵活、用户友好的仪器可以进行多样的纳米材料力学测试,包括压痕、硬度、划痕和通用的纳米尺度测试。大的力和位移动态测量范围允许对从软聚合物到金属材料进行精确和可重复的测试。 模块选项可以适配各种应用:材料性能分布图、特定频率测试、划痕和磨损测试以及高温测试。iNano纳米压痕仪拥有一整套可扩展的测试选项,包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz 3D/4D性能分布图和远程视频选项。
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纳米压痕
- 品牌:美国KLA
- 型号: G200
- 产地:美国
Nano Indenter® G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。 该系统是一个完全可升级,可扩展且经过生产验证的平台,全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。
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美国KLA白光干涉仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: Profilm 3D
- 产地:美国
Profilm 3D是一款兼白光干涉 (WLI)和高精确度相移干涉 (PSI) 技术的经济型光学轮廓仪,其可以用于多种用途的高精度表面测量。Profilm 3D光学轮廓仪具有以下优点: 价格优势:市场上高性价比的白光干涉轮廓仪,具有价格优势的高精度轮廓仪。 快速测量大面积区域:测量范围为毫米级别,标准配置XY样品台达100mm*100mm,有200mm*200mm可选; 简单易用:只需
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KLA 纳米压痕仪 INSEM HT
- 品牌:美国KLA
- 型号: INSEM HT
- 产地:美国
可在高温下进行各种原位力学的压缩和拉伸实验,与 SEM/FIB/EDS / EBSD 等完美结合! KLA InSEM 系列可以和全球各个SEM和FIB厂商的主流型号联合工作,包括FEI、Jeol、Tescan、Zeiss 等等。 KLA 公司全系列的力学测试产品均采用电磁驱动原理的加载力激发器。对纳米压痕物理模型和最优线性特性的电磁力驱动原理的深刻理解,以及高灵敏度的三片式电容传感器的设计,保证全系列纳米力学产品在整个量程范围内均能得到高精准、高分辨的控制。KLA InSEM 系列:先进的激发器的结构设计,完全实现载荷和位移的分别控制和探测,完美实现纳米压痕检测,包括动态力学测试、软材料测试、及薄膜测试等等。 InForce50 载荷激发器 载荷激发器 • 最大加载载荷: 50mN • 纵向载荷分辨率: 3nN • 压头最大移动范围:45um • 位移噪音背景: <0.01nm • 位移数字分辨率: <0.002nm InForce1000 载荷激发器 载荷激发器 • 最大加载载荷: 1000mN • 纵向载荷分辨率: 6nN • 压头最大移动范围:80um • 噪音背景: <0.1nm • 位移数字分辨率: <0.004nm NanoFlip 的样品台处于“Up”状态时,SEM/FIB 可以方便的观察样品和进行微区定位,当 样品台处于“Down”状态时,SEM/FIB 又可以对整个力学实验过程进行实时观察并进行实 时的视频捕捉
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KLA 纳米压痕仪 NanoFlip
- 品牌:美国KLA
- 型号: NanoFlip
- 产地:美国
可在常温下进行各种原位力学的压缩和拉伸实验,与 SEM/FIB/EDS / EBSD 等完美结合! KLA InSEM 系列可以和全球各个SEM和FIB厂商的主流型号联合工作,包括FEI、Jeol、Tescan、Zeiss 等等。 KLA 公司全系列的力学测试产品均采用电磁驱动原理的加载力激发器。对纳米压痕物理模型和最优线性特性的电磁力驱动原理的深刻理解,以及高灵敏度的三片式电容传感器的设计,保证全系列纳米力学产品在整个量程范围内均能得到高精准、高分辨的控制。KLA InSEM 系列:先进的激发器的结构设计,完全实现载荷和位移的分别控制和探测,完美实现纳米压痕检测,包括动态力学测试、软材料测试、及薄膜测试等等。 InForce50 载荷激发器 载荷激发器 • 最大加载载荷: 50mN • 纵向载荷分辨率: 3nN • 压头最大移动范围:45um • 位移噪音背景: <0.01nm • 位移数字分辨率: <0.002nm InForce1000 载荷激发器 载荷激发器 • 最大加载载荷: 1000mN • 纵向载荷分辨率: 6nN • 压头最大移动范围:80um • 噪音背景: <0.1nm • 位移数字分辨率: <0.004nm NanoFlip 的样品台处于“Up”状态时,SEM/FIB 可以方便的观察样品和进行微区定位,当 样品台处于“Down”状态时,SEM/FIB 又可以对整个力学实验过程进行实时观察并进行实 时的视频捕捉
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KLA 纳米压痕仪 G200X
- 品牌:美国KLA
- 型号: G200X
- 产地:美国
所有的纳米压痕试验都取决于精确的载荷和位移数据,科磊公司最新的第六代G200X型纳米压痕仪采用线性度极好的电磁驱动的载荷装置和相互独立的三片电容位移传感器,从而保证 测量的精确度,独特的设计避免了横向位移的影响。 科磊公司最新的第六代G200X型纳米压痕仪的杰出设计带来很多的便利性,包括方便的测试到整个样品台,精确的样品定位,方便的确定样品位置和测试区域,简便的样品高度调整,以及快速的测试报告输出。模块化的控制器设计为今后的升级和维护带来极大的方便。此外,最新的第六代G200X型纳米压痕仪完全符合各种国际标准,保证了数据的完整性和可比性。客户可以通过每个力学传感器自主设计试验,在任何时候对其进行切换,同时整个设备占地面积小,适合各种实验室环境。
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美国KLA G200纳米压痕仪
- 品牌:美国KLA
- 型号: G200
- 产地:美国
KLA-Tencor 是半导体在线检测设备市场的供应商;KLA-Tencor2018年3月从 Keysight Technologies 公司收购了行业的龙头产品-高精度原位微纳米力学测试系统-Nano Indenter G200和高精度微纳米拉伸系统-UTM T150;该力学设备的工厂是高精度力学测试系统的供应商,1983 年成功制造了首台商用Nano Indenter。该力学设备的工厂是业内拥有超过35年的Nano Indenter生产和研究经验的供应商,成
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美国Nanovea微纳米划痕仪
- 品牌:美国Nanovea
- 型号: CB500
- 产地:美国
产品简介: CB500是美国NANOVEA公司推出的一款低价格微纳米力学综合测试系统,该系统聚纳米压痕仪、纳米划痕仪、微米压痕仪、微米压痕仪四个功能模块于一身,这款仪器采用模块化设计,可在一款仪器下实现纳米与微米/大载荷三个尺度下的压痕,划痕与摩擦磨损测试,进而可得到硬度、弹性模量、蠕变信息、弹塑性、断裂韧度、应力-应变曲线、膜基结合力、划痕硬度、摩擦系数、磨损率等微观力学数据。产品特性: - 模块化设计:可在一台仪器
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薄膜应力量测仪Line Card
- 品牌:
- 型号: Line Card
- 产地:美国
薄膜应力量测仪Line Card点击查看大图点击查看大图行业应用:3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌测量Film Stress薄膜应力量测仪FEOL Electrical Characterization 电学特性Thin wafer metrology 晶圆测量学Film Adhesion漆膜附着力测试Global Film Stress AdhesionLocal and Lattice StressThickness, Topography & GeometryContac
- 纳米压痕仪/纳米划痕仪
- 仪器网导购专场为您提供纳米压痕仪/纳米划痕仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选纳米压痕仪/纳米划痕仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。