比表面分析仪/孔径分析仪比表面分析仪/孔径分析仪用来表征材料样品的比表面和孔径的大小分布。静态容量法比表面及孔径分析仪的工作过程(就吸附过程而言)是在计算机控制下,按照设定的压力值逐步往测试系统中通入氮气,(一般是使用氮气,现在也可以使用氪气、氦气等)样品在液氮温度下吸附氮气的过程。
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磁悬浮吸附、解析分析仪
- 品牌:英国Hiden Analytical
- 型号: XEMIS
- 产地:英国
XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。 产品特点 外部感知技术,把敏感元件置于天平室外部,允许腐蚀性和易燃气体
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