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红外线油膜测厚仪-钢铁用
品牌:日本仓纺
型号:RX-210膜厚仪
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浪声金属镀层分析仪TrueX COAT
品牌:苏州浪声
型号:TrueX COAT
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XRF镀层测厚仪FT160
品牌:日立
型号:FT160
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日立 手持式镀层测厚仪
品牌:日立
型号:01
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Hitachi X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
品牌:日立
型号:X-Strata920
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FT110系列X射线荧光镀层厚度测量仪
- 品牌:日立
- 型号: FT110系列
- 产地:日本
1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! 1. 通过自动定位功能提高操作性测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。2. 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。3. 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。4. 广域观察系统(选配)可
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XRF镀层测厚仪FT230
- 品牌:日立
- 型号: FT230
- 产地:闵行区
• 快速分析:自动聚焦加快样品装载速度,即使在不同形状和尺寸的 组件之间切换时依然如此。 • 快速设置:智能识别功能 Find My Part™(查找我的样品) 会自动选择 正确的分析程序,并找到正确的分析点。 • 出色的可视性仪器可选配广角相机,在更大面积上显示样品视图。这一功能加上可调节的 发光二极管照明装置,使得精确定位目标区域变得容易。 • 无缝集成:与其他软件系统(如QMS、SCADA、MES和ERP)无缝集成,为内部用户和 外部客户提供简单、可定制的数据导出和报告创建途径。 • 最大正常运行时间:自检诊断可确认仪器的稳定性和健康状况。并可将数据共享至安全的 日立ExTOPE Connect云数据服务,以便后台仪器支持专家给予技术支持。 • 易于使用:新型用户界面专为非XRF专家用户设计。直观而整洁,只需点击鼠标即可进行 正确的分析。 • 功能强大且用途广泛:FT230简化了测试程序,能分析基材上多达四层镀层,也可分析金 属合金和镀液成分。
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日立 EA8000A X射线分析仪异物(锂离子电池品控)
- 品牌:日立
- 型号: EA8000A
- 产地:日本
EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。 EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于一体,可快速检测和识别损害锂离子电池(LiB)性能的金属异物。
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日立 手持式镀层测厚仪
- 品牌:日立
- 型号: 01
- 产地:日本
我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。 具有功能强大,用户界面良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。
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XRF镀层测厚仪FT160
- 品牌:日立
- 型号: FT160
- 产地:日本
FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
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XRF镀层测厚仪FT110A
- 品牌:日立
- 型号: FT110A
- 产地:日本
FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最高标准。
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XRF镀层测厚仪X-Strata920
- 品牌:日立
- 型号: X-Strata920
- 产地:日本
X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。
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日立 FT210型X射线荧光测厚仪
- 品牌:日立
- 型号: FT210
- 产地:日本
FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成先进且易于使用的功能,旨在增强大批量测试需求。
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Hitachi X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
- 品牌:日立
- 型号: X-Strata920
- 产地:日本
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。精确的镀层和珠宝分析X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。X-Str
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X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110
- 品牌:日立
- 型号: STF-110
- 产地:日本
1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法
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X射线荧光镀层厚度测量SFT9500
- 品牌:日立
- 型号: SFT9500
- 产地:日本
X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS、ELV、ZG版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。 1.X射线发生系统采用了聚光导管 由于采用了X射线聚光导管方式,
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镀层测厚仪FT150
- 品牌:日立
- 型号: FT150
- 产地:日本
使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外,以X射线检测结构为ZX,对各类元件进行**优化,从而大幅提高了检测灵敏度,在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,以及对检测点的检查变得更为容易。
- X射线测厚仪/荧光测厚仪
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