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浪声金属镀层分析仪TrueX COAT
品牌:苏州浪声
型号:TrueX COAT
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XRF镀层测厚仪X-Strata920
品牌:日立
型号:X-Strata920
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浪声 X射线荧光测厚仪 镀层分析仪 晓INSIGHT PCB、晶圆版
品牌:苏州浪声
型号: 晓INSIGHT PCB、晶圆版
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浪声镀层测厚仪 电镀 贵金属
品牌:苏州浪声
型号:ScopeX PILOT
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日立 FT210型X射线荧光测厚仪
品牌:日立
型号:FT210
- 产品品牌
- 不限
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Thwing-Albert厚度精密测厚仪Progage
- 品牌:美国Thwing-Albert
- 型号: Progage
- 产地:美国
电子厚度计型号:Progage符合标准:《GB/T6672塑料薄膜与薄片厚度的测定 机械测量法》、《GB/T451.3纸和纸板厚度的测定法》、ASTM D374, D1777, D645;TAPPI T411;CPPA D.4;BS 3983, 4817;ISO 3034;EN 20534;SCAN P7, P31, P47;DIN 53105, 53353;EDANA 30.4-89 Progage电子测厚仪采用先进的技术,快速精确地测量片状物体的厚度,如
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X射線螢光鍍層測厚儀
- 品牌:牛津仪器
- 型号: CMI900
- 产地:美国
仪器简介:CMI900射光厚,有著非破,非接,多合金量,高生力,高再性等,在品管制到不良品分析有著泛的用。用於子元器件,半,PCB,汽零部件,功能性,件,接器等多行。技术参数:元素 (Ti22) ~ (U92) X射激系 垂直上照式X射光系,50W(4-50kV,0-1.0mA)(可75W) 靶材 靶材:Rh靶;任靶材:W、Mo、Ag等 光片 二次X射光片:3位置程式控制交,多材、多厚度的二次光片任 准直器程式控制交系 最多可同配6格的准直器。形,如4、6、8、12
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美国博曼(Bowman)B系列 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪
- 品牌:美国Bowman
- 型号: B系列
- 产地:美国
B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。B系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦距相机和SDD探测器。
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美国博曼(Bowman)O系列 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪
- 品牌:美国Bowman
- 型号: O系列
- 产地:美国
O系列采用毛细管光学结构,拥有准确的测试性能,同时能实现极小的X射线光斑尺寸。该系列用毛细管结构取代了安装在博曼标准机型中的准直器组件。由于多导毛细管可以传递数百倍的能量信号,可以有效提高到达样品表面的入射X射线强度。O系列配备高分辨率的SDD探测器,在短时间内捕捉并处理大量数据,在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取准确的测量结果(准确性和重复性)。该系列采用80μm毛细管光学结构,同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。O系列的相机具有更大的放大倍数,拥有45x视频放大和5x数码变焦。
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美国博曼X荧光镀层测厚仪
- 品牌:美国Bowman
- 型号: BA-100
- 产地:美国
性能与可操作性的优化 ● 紧凑式设计,改善效率和精度 ● 高分辨半导体固态探测器(Si-PIN),提高稳定性和灵敏度 ● 更短的预热时间,更长寿命的光管 ● 多种规格一次滤波器和准直器 ● 可变焦距适应复杂样品的测量需求 ● 模块化设计,方便维修、维护 简单的设计、强大的分析能力 ● 快速、无损的分析 ● 成份分析多可达25种元素 ● 同时可多分析5层 ● 基于基本参数法的镀层和成份分析方法 ● 仅需一根USB线与电脑连接 ● 快捷的面板控制按钮 ● 占用空间小、轻量化设计 直观的用户界面 ● 大的分析灵活性,减少用户出错机会 ● 基于Net framework框架的Xralizer软件 ● 直观的图标引导用户界面 ● 强大的定性、无标样分析功能 ● 功能强大的标准片库 ● 用于快速分析的可定制快捷键 ● 灵活的数据显示与导出 ● 强大的报告编辑生成器
- X射线测厚仪/荧光测厚仪
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