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Thermo Scientific LInspector测厚仪
品牌:赛默飞世尔
型号:LInspector
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XRF镀层测厚仪FT110A
品牌:日立
型号:FT110A
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浪声 镀层测厚仪 镀层测厚分析仪 晓INSIGHT 通用小零件版
品牌:苏州浪声
型号:晓INSIGHT 通用小零件版
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浪声 X射线荧光测厚仪 镀层分析仪 晓INSIGHT PCB、晶圆版
品牌:苏州浪声
型号: 晓INSIGHT PCB、晶圆版
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Hitachi X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
品牌:日立
型号:X-Strata920
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FT110系列X射线荧光镀层厚度测量仪
- 品牌:日立
- 型号: FT110系列
- 产地:日本
1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! 1. 通过自动定位功能提高操作性测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。2. 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。3. 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。4. 广域观察系统(选配)可
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日立 EA8000A X射线分析仪异物(锂离子电池品控)
- 品牌:日立
- 型号: EA8000A
- 产地:日本
EA8000A X射线分析仪适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。 EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于一体,可快速检测和识别损害锂离子电池(LiB)性能的金属异物。
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红外线油膜测厚仪-钢铁用
- 品牌:日本仓纺
- 型号: RX-210膜厚仪
- 产地:日本
仪器用途简介: 汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量 耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量 铝罐(易拉罐内壁)等有机膜涂布量的测量 彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量 其他金属上有机膜涂布量的测量技术参数: 测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式) 测量范围:0.1~10μm 反复再现性:0.01μm以下 测量面积:518×36mm(椭圆) 尺寸・重量
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日立 手持式镀层测厚仪
- 品牌:日立
- 型号: 01
- 产地:日本
我们的厚度测量仪器提供可靠、简单的操作以及准确的测量。 具有功能强大,用户界面良好,从初级水平到双重技术的可扩展型等系列产品可供选择。
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XRF镀层测厚仪FT160
- 品牌:日立
- 型号: FT160
- 产地:日本
FT160 台式 XRF 分析仪旨在测量当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。准确、快速地测量微小部件的能力有助于提高生产率并避免代价高昂的返工或元件报废。
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XRF镀层测厚仪FT110A
- 品牌:日立
- 型号: FT110A
- 产地:日本
FT110A 是一款台式 XRF 分析仪,旨在应对生产中镀层分析的挑战。强大的 X 射线荧光技术与自动定位功能相结合,有助于提高电镀车间的生产力,同时确保组件符合最高标准。
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XRF镀层测厚仪X-Strata920
- 品牌:日立
- 型号: X-Strata920
- 产地:日本
X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。
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日立 FT210型X射线荧光测厚仪
- 品牌:日立
- 型号: FT210
- 产地:日本
FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成先进且易于使用的功能,旨在增强大批量测试需求。
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Hitachi X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
- 品牌:日立
- 型号: X-Strata920
- 产地:日本
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。精确的镀层和珠宝分析X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪,具有多种选择,可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层,是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。X-Str
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韩国微先锋X射线测厚仪/荧光测厚仪XRF-2000
- 品牌:韩国微先锋
- 型号: XRF-2000
- 产地:韩国
全自动样品台; 多种尺寸的准直器可选,适合各种大小产品的镀层测试; 镭射对焦系统,避免人为肉眼对焦产生测量误差。
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XRF-2000L型电镀层厚度测量仪
- 品牌:韩国微先锋
- 型号: XRF-2000L
- 产地:韩国
XRF-2000L型电镀层厚度测量仪,可测试高度≤30mm的工件。
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X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110
- 品牌:日立
- 型号: STF-110
- 产地:日本
1.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法
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X射线荧光镀层厚度测量SFT9500
- 品牌:日立
- 型号: SFT9500
- 产地:日本
X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS、ELV、ZG版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。 1.X射线发生系统采用了聚光导管 由于采用了X射线聚光导管方式,
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韩国Micro Pioneer XRF-2000PCB型线路板专用测厚仪
- 品牌:韩国微先锋
- 型号: XRF-2000PCB
- 产地:韩国
韩国Micro Pioneer XRF-2000PCB型线路板专用测厚仪,用于线路板生产企业的厚度管控。
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镀层测厚仪FT150
- 品牌:日立
- 型号: FT150
- 产地:日本
使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外,以X射线检测结构为ZX,对各类元件进行**优化,从而大幅提高了检测灵敏度,在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且,对设备进行了重新设计,使得样本室的使用,以及对检测点的检查变得更为容易。
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韩国ISP测厚仪,膜厚仪iEDX-150UT
- 品牌:韩国ISP
- 型号: iEDX-150UT
- 产地:韩国
iEDX-150UT是韩国原装进口设备,采用开放式样品腔。专业用于电镀镀层分析、PCB镀层厚度分析,同时兼容ROHS 无卤 重金属分析。高精度测试标准,高效分析有害元素的成分比例。TFFP软件主界面最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢止斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可在+/-0.02%,贵金属(8-24Karat)分析精度可达+/-0.05kt对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。技术指标:1、多镀层,1-6层;2、超
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电镀厚度测量仪,电镀镀层分析仪iEDX-150T
- 品牌:韩国ISP
- 型号: iEDX-150T-2
- 产地:韩国
iEDX-150T是中韩合资生产的仪器,采用超大样品腔,专业用于金属电镀镀层厚度分析,可同时分析镀层中的合金成分比例。镀层厚度分析软件,RoHS分析软件?采用业界zuixianjin的基本参数法(FP)?RoHS/WEEE/ELV无损检测Cr、Pb、Hg、Cd、Br定量分析,共存元素的定量分析u可同时分析20种元素,频谱比较u减法运算和配给u智能背景滤波器u有多种分析计算数学模型,方便对不同材料,不同样品的分析测量u可制作多条工作曲线,各个曲线u测试条件独立,方便测试应用领域:金属电镀镀层分析领域图谱界面
- X射线测厚仪/荧光测厚仪
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