-
F10-RT 薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F10-RT
-
F40薄膜厚度测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F40
-
德国BMT 964 AQ高浓度臭氧在水中的传感器
品牌:德国BMT
型号:964 AQ
-
德国BMT 932臭氧检测仪
品牌:德国BMT
型号:932
-
Filmetrics F20 光学膜厚测量仪
品牌:美国Filmetrics
型号:F20-UV/F20-UVX/F20/F20-EXR/F20
- 产品品牌
- 不限
-
更多品牌
- >
-
反射式膜厚测量仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号:
- 产地:日本
产品特点: ?非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。?高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。?宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)?薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm)?对应显微镜下的微距测量口径。产品规格: 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100n
-
椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: //
- 产地:日本
产品特点:?椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。?0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。?400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。?可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。?非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格: 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm(可选择350~1000nm)感光元件光电二极管阵列512ch(电子制冷)入射/反射角度范围45~90o电源规格AC1500VA(全自动型)尺寸
-
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: 1
- 产地:日本
产品特点:?400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。?自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。?采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。?搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。?可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格: 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45~90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300~800nm分光
-
膜厚测量仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: -
- 产地:日本
产品特点:?薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析。?高性能的低价光学薄膜测量仪。?藉由反射率光谱分析膜厚。?完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。?无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手。?非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格: 型号FE-300VFE-300UVFE-300NIR对应膜厚标准型薄膜型厚膜型超厚膜型样品尺寸最大8寸晶圆(厚度5mm)膜厚范围100nm~40μm10nm~20μm3μm~30
-
嵌入式膜厚测试仪
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: 01
- 产地:日本
产品特点:?自由搭配的光纤架构,可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。?远端同步控制、高速多点同步测量等。?丰富多样的光学系统套件与应用软件,提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。产品架构: ?半导体晶圆面内分布测量?玻璃基板面内分布测量?即时性量测?输送方向的定点品质管理?对应真空环境之设备?即时性测量?输送方向的全面品质管理
-
膜厚光谱分析仪系统
- 品牌:日本HalfMoon
- 型号: *
- 产地:日本
产品特点:?光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。?可依据安装现场需求评估设计。?可灵活架设于各种环境下的**即时测量系统。测量项目: 分光光谱仪种类测量波长范围MCPD-9800:高动态范围型360~1100nmMCPD-3700:紫外/可视/近红外光型220~1000nmMCPD-7700:高感度型220~1100nm平面显示器模组测量:平面显示器(FPD)模组、液晶显示器(LCD)模
- 白光干涉测厚仪
- 白光干涉测厚仪,白光干涉测厚仪
- 友情链接
- 一六仪器膜厚仪