白光干涉测厚仪白光干涉测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。白光干涉测厚仪可以用来在线测量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现对板带厚度的自动厚度控制。
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三维白光干涉仪
- 品牌:美国Rtec
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白光干涉测量系统沿着垂直轴向捕获光强数据,通过白光干涉图的形状,局部相位或者两者结合确定表面位置 Vertical Resolution 垂直分辨率 0.1nm 0.1nm Turret 转轮 upto 6 objective turret (manual or automatic) 6镜头转轮(自动或手动) Scan Rang
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美国Rtec三维形貌仪
- 品牌:美国Rtec
- 型号: UP- 3D
- 产地:美国
美国Rtec三维形貌仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦,白光共焦,拉曼光谱仪等,可以把这些设备自由组合在一起,以实现客户的不同需求特点:快速直观的操作较高的计算程序,精确的高测量速度和简便的操作软件,使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜带有6物镜转轮,包括多个物镜:长焦,短焦,不同数值孔径,投射镜头等电子器件先进的控制器,低机械噪声,自校准系统,可选波长,64位并行处理器,标准分辨率达到1
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