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日立台式电镜 TM4000/TM4000PlusⅡ
品牌:日立
型号:TM4000/TM4000PlusⅡ
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纳克微束高分辨场发射扫描电镜 FE-1050系列
品牌:纳克微束
型号:FE-1050系列
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Apreo
- 产地:美国
Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。
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赛默飞(原FEI)Quattro扫描电镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Quattro
- 产地:美国
Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。
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Apreo场发射扫描电子显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Apreo
- 产地:美国
Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。 Apreo 是研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,而不会降低磁性样品性能。传统的高分辨率 SEM 透镜技术分为两类:磁浸没或静电。FEI 首次将两种技术结合到一个仪器中。这样做所产生的成效远远超过任一种镜筒的个体性能。两种技术均使电子束形成细小探针,以提高低电压下的分辨率,并使信号电子进入镜筒。通过将磁透镜和静电透镜组合成一个复合透镜,不但提高了分辨率,还增加了特有的信号过滤选项。静电-磁复合末级透镜在 1 kV 电压下的分辨率为 1.0 nm(无电子束减速或单色器)。
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“Quanta 系列”环境扫描电子显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Quanta 250/450/650
- 产地:美国
Quanta x50系列扫描电子显微镜是FEI公司zuixin一代的、真正的多用途扫描电镜,是的Quanta产品家族的第三代产品。
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美国FEI 扫描电镜Helios 5 CX DualBeam
- 品牌:美国FEI
- 型号: Helios 5 CX
- 产地:美国
Thermo Scientific Helios 5 D ualBeam 产品系列凭借其先进的聚焦离子束和电子束性能、专有软件、自动化和易用性特征,重新定义了样品制备和三维表征的标准。
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赛默飞世尔 基于Vitrobot系统的冷冻电镜样品制备
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Vitrobot
- 产地:美国
可重复的生物样品玻璃态冷冻固定
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赛默飞世尔 DUALBEAM 显微镜 Scios 2 DualBeam
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Scios 2 DualBeam
- 产地:美国
聚焦离子束扫描电子显微镜,用于超高分辨率、高质量样品制备和 3D 表征。
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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 Aquilos 2 Cryo FIB
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Aquilos 2 Cryo FIB
- 产地:美国
具有延长运行时间和增强自动化的冷冻电镜样品制备工具。
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赛默飞世尔 DUALBEAM 显微镜 Helios 5 Hydra DualBeam
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Helios 5 Hydra Du
- 产地:美国
具有多个离子种类、适用于 3D EM 和 TEM 样品制备的等离子聚焦离子束扫描电子显微镜检查。
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赛默飞世尔 DUALBEAM 显微镜 Helios 5 PFIB DualBeam
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Helios 5 PFIB Dua
- 产地:美国
用于 TEM 样品制备(包括 3D 表征、横截面成像和微加工)的等离子体聚焦离子束扫描电子显微镜。
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赛默飞世尔 DUALBEAM 显微镜 Helios 5 DualBeam
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Helios 5 DualBea
- 产地:美国
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征。
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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 Helios 5 EXL DualBeam
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Helios 5 EXL DualBeam
- 产地:美国
用于半导体工业的 FIB-SEM TEM 样品制备,可实现全晶圆分析。
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赛默飞世尔 双束聚焦离子束扫描电镜 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Arctis
- 产地:美国
用于冷冻电子断层扫描的等离子体聚焦离子束薄片制备。
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赛默飞世尔 电子显微镜样品制备设备 基于Vitrobot系统的冷冻电镜样品制备
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Vitrobot
- 产地:美国
可重复的生物样品玻璃态冷冻固定
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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 Aquilos 2 Cryo FIB
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Aquilos 2 Cryo FIB
- 产地:美国
具有延长运行时间和增强自动化的冷冻电镜样品制备工具。
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赛默飞世尔 TEM透射电镜(透射电子显微镜)Tundra Cryo-TEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Tundra Cryo-TEM
- 产地:美国
无论您是一名经验丰富的显微镜学家,还是刚刚起步,Thermo Scientific Tundra低温透射电子显微镜(Cryo-TEM)都是一种专门的结构分析解决方案,旨在以可承受的价格将低温电子显微镜(Cryo-EM)带到您的实验室。简化的数据收集和快速的样品加载/卸载使Tundra Cryo-TEM成为回答您最具挑战性的研究问题的强大工具。使用Tundra Cryo-TEM,您可以在内部以生物相关的分辨率获得结构,或者可靠地制备高质量的样品,以便在Thermo Scientific Krios或Glacios Cryo-TEM上进行进一步分析。
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Verios XHR SEM
- 产地:美国
Verios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在JD半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。
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赛默飞世尔 Prisma E SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Prisma E SEM
- 产地:美国
Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项能够满足各种需求。
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2扫描电镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Volumescope 2
- 产地:美国
在大体积样品上获得ZG质量三个方向分辨率一致三维数据
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Apreo
- 产地:美国
Apreo 复合透镜结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和材料对比度。
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高精度激光扫描显微镜
- 品牌:美国MONSTR Sense
- 型号: NESSIE
- 产地:美国
高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧,组件灵活,可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器,实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广,快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。
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赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Axia ChemiSEM
- 产地:美国
新一体化钨灯丝扫描电镜 Axia ChemiSEM,该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上,快速提供所需微观形貌及实时成分信息,帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据,准确执行故障分析和缺陷检测。
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DUALBEAM FIB-SEM 显微镜 ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 产地:美国
用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。
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赛默飞世尔 nProber IV系统 电气故障分析系统
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: nProber IV
- 产地:美国
用于电气故障隔离和高效TEM工作流程的纳米探测,以提高半导体故障分析能力。
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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: ExSolve Wafer TEM Prep DualB
- 产地:美国
用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。
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赛默飞世尔 DUALBEAM FIB-SEM 显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: ExSolve Wafer TEM Prep DualBea
- 产地:美国
用于自动化、高通量半导体晶片分析的 TEM 分析样品制备工作。
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赛默飞 Phenom™ ProX 台式扫描电子显微镜 SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Phenom™ ProX
- 产地:美国
第六代 Thermo Scientific™ Phenom™ ProX G6 台式 SEM 可填补光学显微镜和落地式 SEM 分析之间的差距,从而扩展研究设施的能力。除了集成式能量色散 X 射线衍射 (EDS) 检测器之外,还提供快速、高分辨率的成像,可实现可靠、易于使用的快速元素分析。快速而易于使用的 Phenom Pro 台式 SEM 可用于减轻落地式 SEM 仪器中常见样品的常规分析负担。仪器配置和样品加载机制可确保快速成像,并在两次实验之间花费最少的时间进行调整。任何经验水平的设施用户均可通过 P
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赛默飞 Phenom XL G2 台式扫描电子显微镜
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Phenom XL G2 台
- 产地:美国
自动化 Phenom XL G2 Desktop SEM 通常可通过 Phenom 编程接口 (PPI) 实现标准访问 ,这是一种通过 Python 脚本控制 Phenom XL G2 Desktop SEM 的强有力方法。如果用户具有需要重复工作来分析颗粒、孔隙、纤维或较大 SEM 图像的 SEM 工作流程 ,仪器就可以自动完成。 长使用寿命 CeB₆ 源 长使用寿命 CeB₆ (cerium hexaboride) 源具有几个优点。首先,它提供的高亮度可以与钨相比,使许多用户可以轻松获得高质量图像。第二,放射源的寿命很长,维护间隔长。 Eucentric 样品架 在许多 SEM 应用中,如果样品可以倾斜和旋转,用户可以更深入地了解样品特性。选配 eucentric 样品架可使 eucentric 倾斜和旋转,使研究和分析更快速、更准确。 元素鉴定 (EID) Phenom XL G2 Desktop SEM 可配备可选能量色散 X 射线光谱 (EDS) 检测器、以通过 X 射线分析获得更多材料见解和元素鉴定。 逐步数据收集 专用软件包 元素鉴定软件包 (EID) 用于控制完全集成的 EDS 检测器。EID 软件中直观的分步过程可帮助用户以有组织和结构化的方式收集所有 X 射线结果。
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赛默飞 Phenom Pharos热场发射扫描电子显微镜能谱一体机SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Phenom Pharos
- 产地:美国
产品特点: 高分辨场发射扫描电镜 • 肖特基场发射电子源 • 分辨率优于 2.5 nm@15 kV 使用最方便的场发射扫描电镜 • 耦合式电子光路设计 • 无需喷金直接观察不导电样品 世界上最快的场发射扫描电镜 • 内置全自动真空锁,15 秒抽真空 • 实时地图导航,全面样品跟踪 场发射扫描电镜能谱一体机 • 原厂集成能谱仪 • B (5)-Am (95) 元素探测 普通放置环境 • 台式设计,完全防震 • 内置磁屏蔽系统 售后无忧 • 高容差、防呆设计 • 电子光路免维护
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赛默飞 Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Axia ChemiSEM
- 产地:美国
真正的实时定量元素分析 Axia ChemiSEM与传统的扫描电镜不同,它的EDS集成在仪器上,并在电镜工作时始终在后台收集成分数据。它使用专利的算法同时处理BSE(背散射电子)和EDS信号,从而可以实时显示样品的形态和定量元素结果。 荷电样品高质量成像 面对荷电样品,常规的做法是镀膜。但这需要额外的设备和操作,且微观形貌可能被破坏。Axia无需安装额外的附件即可实现低真空成像,且分辨率与高真空条件下相同。 标配红外CCD和全彩导航相机 当表征完一个样品,切换到下一个样品时,您需要对样品仓里面的情况了如指掌,这样就可以轻松找到下一个样品的位置,也可以保障电镜极靴的安全。Axia让这些成为标准配置,您无需再额外购买。 一键式体验,更好的自动化功能 对焦、消像散、亮度对比度等都是电镜表征工作最常规但耗时的工作。Axia让这些操作可以一键完成,无论高倍还是低倍。此外,您也无需经常做电子束合轴,因为在Axia上这是自动完成的。 多种应用软件 Axia ChemiSEM兼容多种自动化扩展应用,如标配的Thermo Scientific Maps™ 软件,可实现无人值守的自动拍图和大尺寸图像拼接;Thermo Scientific AutoScript™ 软件配合开放的API接口和丰富的现成脚本库,让您轻松成为电镜达人。 更少动手,更多安全 Axia配备电动伸缩的BSE探头,以及预对中的灯丝,您无需手动完成这些设备或耗材的安装,这使得由于不小心导致的仪器损坏几率降到最低,最高程度保证仪器的安全。
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赛默飞 Prisma E 钨灯丝环境真空扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Prisma E
- 产地:美国
☆方便快捷地加载多种样品和重样品; ☆基于Thermo ScientificTM Nav-CamTM相机和蒙太奇导航功能简化样品导航; ☆便捷性的用户指南和撤消功能; ☆先进的扫描模式和电子束减速确保卓越的图像质量; ☆Thermo ScientificTM ColorSEMTM技术下进行直观的元素分析; ☆专用真空模式,具备强大的样品兼容性; ☆独特的环境扫描模式能够在材料的自然状态下成像; ☆可集成冷/热台进行易于控制的动态实验; ☆广泛选择的探测器和附件,包括扫描透射电 (STEM)、阴极发光、图像拼接等
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赛默飞 Quattro C/S 热场发射环境真空扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Quattro C/S
- 产地:美国
在自然状态下对材料进行预案为研究,具有环境真空模式(ESEM)的*高分辨率场发射扫描电镜; 缩短样品制备时间:低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积; 在各种操作模式下分析导电和不导电样品,同步获取二次电子像和背散射电子像; 优良的分析性能,样品仓可同时安装3三个EDS探测器,其中2个EDS端口分开180°、WDS和共勉EDS/EBSD; 针对不导电样品的分析性能:凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的EDS和EBSD分析; 灵活、准确的优中心样品台,105°倾斜角度范围,可多方位观察样品; 软件直观、简便易用,并配置用户向导及Undo(撤销)功能,操作步骤减少,分析更快速; 创新选项,包括可伸缩RGB阴极荧光(CL)探测器、1100℃高真空热台和AutoScript。
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赛默飞 Verios 5 XHR 扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Verios 5 XHR
- 产地:美国
SmartAlign 技术 使用 SmartAlign 技术时,用户无需对电子束镜筒进行任何对中,这不仅能最大限度地减少维护,还能提高电镜生产率。 创新的电子光学系统 包括 Thermo Scientific 获得专利的 UC+(单色器)电子枪、ConstantPower 透镜和静电扫描,可实现准确稳定的成像。 亚纳米级分辨率 Elstar Schottky 电子源单色器(UC+)FESEM 技术和性能,实现从 1 至 30 keV 的亚纳米级分辨率。 一致的测量结果 Verios 扫描电镜非常适合实验室计量应用,能够在高放大倍数下校准经 NIST 认证的标准品。 低剂量操作和最佳对比度选择 结合了先进的高灵敏度、镜筒内 & 透镜下探测器和信号过滤功能 可实现低剂量操作和最佳衬度选择。 轻松访问射束着陆能量 低至 20 eV 也可实现用于真正的表面表征的极高分辨率。 无人照看的 SEM 运行 借助 AutoScript 4 软件,可选配基于 Python 的应用程序编程界面 (API)。 大腔室 可从两种高精确稳定的压电陶瓷驱动样品台中进行选择。
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赛默飞 Scios 2 DualBeam 双束扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Scios 2 DualBeam
- 产地:美国
快速、便捷的制备 使用 Sidewinder HT 离子柱获得高质量、现场特定的 TEM 和原子探针样品。 超高分辨率成像 使用在最广泛的样品范围(包括磁性和非导电材料)内具有一流性能的 Thermo Scientific NICol 电子色谱柱。 最完整的样品信息 通过各种集成式色谱柱内和透镜下检测器获得清晰、精确和无电荷的对比度。 高质量、多模式亚表面和 3D 信息 使用可选配的 AS&V4 软件,通过精确靶向感兴趣区域来获得高质量、多模式亚表面和 3D 信息。 精确的样品导航 高度灵活的 110 mm 载物台和腔室内 Thermo Scientific Nav-Cam 摄像机允许根据具体应用需求进行定制。 无伪影成像和构成图案 具有专用模式,如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。 优化您的解决方案 灵活的 DualBeam 配置,包括可选配的最高 500 Pa 腔室压力低真空模式,可满足具体的应用要求。
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赛默飞 Helios 5 Laser PFIB双束扫描电子显微镜FIB-SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Helios 5 Laser PFIB
- 产地:美国
【特点与应用】 ☆最快的毫米级横截面材料去除,材料去除率比典型的Ga + FIB要快15,000倍 ☆通过在更短的时间内采集更大的体积来实现统计学相关的表面下和三维数据分析 ☆准确、可重复的切割位置,三束交于样品上同一点 ☆通过提取表面下TEM薄片或块体进行三维分析来实现深层表面下特征快速表征 ☆ 实现对不导电或对离子束敏感等具有挑战性的材料进行高吞吐量处理 ☆实现对空气敏感样品的快速和简单表征,无需在不同仪器之间传送样品来进行成像和获取横截面 ☆Helios 5 PFIB平台的所有功能都非常可靠,包括最高质量的无镓 TEM和APT样品制备以及极高分辨率成像能力
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赛默飞 Volumescope 2 冷场发射扫描电子显微镜SEM
- 品牌:赛默飞世尔
- 型号: Volumescope 2
- 产地:美国
简单易用的技术 通过简单易操作的技术对实验进行控制。可以重复调用工作与系统设置,在采集过程中可以生成多个感兴趣区域。 在采集过程中可视化与导航 在采集期间可以利用Thermo Scientific Amira Live Tracker软件进行可视化和导航,优化/控制结果。进行无人值守的大体积三维数据采集和重构。 保护珍贵样品 对一系列广泛的样品类型在每个采集步骤都有验证过的解决方案;对于容易荷电的样品可使用低真空探测器进行成像。 轻松快速更换显微切片机 轻松快速地更换显微切片机,可以通过使用Thermo Scientific Maps软件实现自动断层扫描。
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[公开招标]预算280万元 中南民族大学采购激光片层扫描显微镜
中南民族大学公开招标激光片层扫描显微镜,项目编号:FZHB-0432403-017
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[公开招标]预算1848万元 江西省土壤肥料与资环所采购稳定同位素比质谱仪
江西省农业科学院土壤肥料与资源环境研究所公开招标稳定同位素比质谱仪、多功能酶标仪,气相色谱三重四极杆质谱联用仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,扫描电子显微镜、X荧光重金属分析仪,自动微生物鉴定分析系统、微波消解仪,四极杆飞行时间液质联用仪,项目编号:JXBJ24121308301
- 扫描电镜/扫描电子显微镜
- 仪器网导购专场为您提供扫描电镜/扫描电子显微镜功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选扫描电镜/扫描电子显微镜的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。