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日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
- 品牌:日立
- 型号: HD-2700
- 产地:日本
1.整体的解决方案 样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和zui终分析。 2.多种评价和分析功能可选 可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。
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日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000
- 品牌:日立
- 型号: NX9000
- 产地:日本
-高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等特的分析技术。
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日立透射电镜 HT7820
- 品牌:日立
- 型号: HT7820
- 产地:日本
日立zuixin推出120kV透射电镜HT782机型,该机型继承了标准版HT7800高速CMOS荧光屏相机设计、全数字化、大集成等优点和创新点,仍然采用第二代双隙物镜的设计,设计使用高分辨物镜,标配LaB6灯丝,性能实现突破性提升。此机型分辨率可保证0.144nm(晶格像),广泛应用于生命科学、医学、纳米材料和软材料研究领域。主要特点广泛应用与纳米材料和软材料研究领域。1) 包括高分子聚合物在内的系列软材料,样品组成元素多为轻元素,高的加速电压下很难得到高衬度图像,在低的加速电压(120kV
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日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
- 品牌:日立
- 型号: HD-2700
- 产地:日本
1.整体的解决方案 样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和zui终分析。 2.多种评价和分析功能可选 可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。
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日立球差校正透射电子显微镜 HF5000
- 品牌:日立
- 型号: HF5000
- 产地:日本
HF5000作为一款球差校正冷场发射透射电镜,其分辨率达到了亚埃,可以实现对样品的超细微观结构的观察和分析,适用于金属、陶瓷、半导体、纳米材料等的观察。同时,HF5000特的TEM、STEM、SEM三位一体功能不仅可以实现对材料内部结构的研究,也可以获得材料表面的信息。原子分辨率的二次电子探测器可以弥补TEM和STEM无法观察样品表面的缺陷,同时相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以满足样品表面高分辨形貌和结构观察的需求,与TEM和STEM形成互补。全自动化的球差校正过程又大大简化了球差校正透射电镜的使用难度,提高了观察效率,尤其适合测试平台和科研ZX等用户。
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日立新型高分辨率透射电镜 HT7830
- 品牌:日立
- 型号: HT7830
- 产地:日本
HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。
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日立新一代全数字化透射电子显微镜 HT7800
- 品牌:日立
- 型号: HT7800
- 产地:日本
HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。
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日本日立 HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
- 品牌:日立
- 型号: HD-2700
- 产地:日本
专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。
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日本日立 200kV球差校正透射电镜HF5000
- 品牌:日立
- 型号: HF5000
- 产地:日本
日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;
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日立新型双束系统 NX2000
- 品牌:日立
- 型号: NX2000
- 产地:日本
1.高分辨成像,高衬度成像分辨率:二次电子(3.5nm@1kV),二次离子(4nm@30kV); 2.可实时观察加工过程; 3.全自动TEM样品制备。
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Hitachi HT7800 透射电子显微镜 TEM
- 品牌:日立
- 型号: HT7800
- 产地:日本
以创新的操作性,满足广泛领域的需求。新一代TEM"RuliTEM"诞生。~从生物医学到材料领域~"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列,包含配备高衬度透镜,实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备高分辨率透镜的HT7830。全新操作可应对日常工作。我们将竭诚为您提供合适的TEM解析解决方案。特点日立的双隙物镜设计,支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察凭借在明亮环境中的数字化操作环境和各种自动功能,从初学者到熟练者均可操作通过全新设计的&qu
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Hitachi HF5000 球差场发射透射电子显微镜TEM
- 品牌:日立
- 型号: HF5000
- 产地:日本
200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能,像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。对于包括高端用户在内的广泛用户,我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。特点标配日立生产的照射系统球差校正器(
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Hitachi NX9000 直角型FIB-SEM系统
- 品牌:日立
- 型号: NX9000
- 产地:日本
追求理想的三维结构分析通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。采用理想的镜筒布局,从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。SEM镜筒与FIB镜筒互成直角,形成三维结构分析理想的镜筒布局融合高亮度冷场发射电子枪与高灵敏度检测系统,从磁性材料到生物组织——支持分析各种样品通过选配口碑良好的Micro-sampling®系统*和Triple Beam®系统*,可支持制作高品质TEM及原子探针样品垂直入
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日立120kV透射电镜HT7800
- 品牌:日立
- 型号: 120kVHT7800
- 产地:日本
日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800,属于日立瑠璃系列产品Ruli TEM,操作的一体化和自动化程度都有明显提高。HT7800系列产品有两个型号HT7800和HT7830。 HT7800系列产品的ZD特点是采用日立ZX设计的第二代双隙物镜,很好地继承了日立120kV-TEM的基本理念,兼顾低倍率与宽视野观察、高衬度与高分辨率观察,可在同一仪器上一键切换等。集高衬度和高
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日立透射电子显微镜HT7700
- 品牌:日立
- 型号: HT7700
- 产地:日本
HT7700型透射电子显微镜是一款全新设计的高级显微镜,专门用于生物和纳米材料的观察,具有极高的对比度和高分辨率的成像功能,是一款功能多合一的系统。将TEM操作统一于显示器上,无需直视荧光板,实现了无胶片化,可以在明亮的室内进行观察,以往在荧光板上发暗而难于识别的图像在显示器上也能够实现清晰地显示。标配电镜图像管理软件(EMIP-SP),自动将拍摄的图像注册到图像数据库,便于图像的管理与分类,进行长度测量和图像处理等功能。该设备采用分子泵真空系统,排气系统清洁干净。与之前型号相比,该设备耗电省,且能减少3
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日立透射电镜HT7700 Exalens
- 品牌:日立
- 型号: HT7700 Exalens
- 产地:日本
日立zuixin推出120kV透射电镜HT7700 Exalens,该透射电镜继承了标准版HT7700免荧光屏设计、全数字化、大集成等优点和创新点,仍然保留双隙物镜的设计,设计使用高分辨物镜,标配LaB6灯丝,性能实现突破性提升。此机型分辨率可保证0.144nm(晶格像),成为目前市场上**一款120kV透射电镜中分辨率最高的机型。产品特点:被广泛应用于纳米材料和软材料研究领域,可以满足客户对分辨率的要求1、高分辨物镜可保证0.144nm的分辨率,可满足用户对高分辨图像的要求。2、在较低的加速电压下,仍保
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球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
- 品牌:日立
- 型号: HD-2700
- 产地:日本
产品简介 专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。 最近,该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪,进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时,该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置,可以以后加配球差校正进行升级。
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场发射透射电子显微镜 HF-3300
- 品牌:日立
- 型号: HF-3300
- 产地:日本
产品简介 日立驰名的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术,空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效,高精度样品分析的新途径。 分辨率: 0.1 nm(晶体点阵) 0.19 nm(点对点) 0.13 nm(信息极限) 放大倍数:200倍 至 1,500,000倍 加速电压:300 kV, 200 kV (*), 100 kV (*) (*) 选购附件 解决方案 立扫描透射电镜HF3300在原位
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高分辨环境透射电镜H-9500
- 品牌:日立
- 型号: H-9500
- 产地:日本
产品简介 原子分辨率300 kV透射电子显微镜 在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体,先进材料的研发领域,原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的,不可或缺的工具。 为了满足这种高端需求,日立高新技术公司研发出了 H-9500透射电子显微镜,此款高分辨透射电子显微镜不仅具备实地验证过的各种性能,而且配置了很多满足客户多种需求的独特功能,并采用了zuixin的数字技术,便于用户及时快速获取原子水平的样品结构信息。 用户友好型的操作系统 和Windows®兼容的图形用户界面设计 快速的
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球差校正透射电镜HF5000
- 品牌:日立
- 型号: HF5000
- 产地:日本
产品简介 日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;可配置EDS双探头,固体角最大可达2.0sr;具备TEM、STEM,SEM和电子衍射等多种图像观测模式;镜筒和样品台经过了重新设计,显著提升了仪器的性能和稳定性......HF5000将是材料学、生命科学、半导体制造、石油煤炭等研究领域的可靠助手。 特点: 1、高度自动化球差校正,尽量减少人员介入,适用于繁忙的分
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透射电镜120kV HT7800
- 品牌:日立
- 型号: HT7800
- 产地:日本
产品简介 日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800,属于日立瑠璃系列产品Ruli TEM,操作的一体化和自动化程度都有明显提高。HT7800系列产品有两个型号HT7800和HT7830。 HT7800系列产品的ZDTD是采用日立zuixin设计的第二代双隙物镜,很好地继承了日立120kV-TEM的基本理念,兼顾低倍率与宽视野观察、高衬度与高分辨率观察,可在同一仪器上一键切换等。集高衬度和高分辨两种模式于一体,可同时满足软材料/纳米材料类和生命科学类客户对电镜的需求。
- 透射电镜/透射电子显微镜
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