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JEM-F200 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
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JEOL原子级分辨率透射电子显微镜JEM-ARM200F NEOARM
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM200F NEOARM
- 产地:日本
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜, 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。
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自动进样场发射透射电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。
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JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2800
- 产地:日本
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5.&nbs
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JEM-F200 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
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JEM-2100Plus 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100Plus
- 产地:日本
JEM-2100Plus电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了zuixin的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。
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JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100Plus
- 产地:日本
仪器简介:JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。JEM-2100Plus搭载 64位 Windows操作界面,操作更简单。并与STEM,EDS,CCD和EELS实现了一体化控制。JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进,非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件,可以轻松实现3D观察。压电陶瓷控制样品台也独步天下。TheJEM-2100Plus采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。技术参数(UHR)
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JEM-F200 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
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场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100F
- 产地:日本
JEM-2100F应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 JEM-2100Fzuixin设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera实现一体化控制。
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200kV场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100F
- 产地:日本
仪器简介:JEM-2100F应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。JEM-2100Fzuixin设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。SJEM-2100F可与TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera实现一体化控制。技术参数:1.点分辨率:0.19nm2.线分辨率:0.1
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冷场发射球差校正透射电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM200F(C)
- 产地:日本
日本电子株式会社2010年7月zuixin推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zuixin开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zuixin球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State Unive
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JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2800
- 产地:日本
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5. 能谱:可以安装两个超级能谱 6. 洛伦兹模式:标配
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日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM200F
- 产地:日本
日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜 富瑞博国际有限公司代理多家国际知名仪器厂商产品 仪器简介: JEM-ARM200F的电子光学系统标准配备了一体化的球差校正器, 其扫描透射像分辨率(STEM-HAADF)达到了0.08nm,为商用透射电子显微镜分辨率的世界之最。 保证0.08nm的世界Z高STEM (HAADF) 分辨率 ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机
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冷场发射透射电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
2016年1月,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点如下:(1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受;(2)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS;(3)电镜光源:冷场发射光源比其
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JEOL JEM-2800 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2800
- 产地:日本
日本电子株式会社(JEOL)推出了一款特殊设计的产品即JEM-2800 场发射透射电子显微镜,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。技术参数: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5放大倍数:高达2,000,000 6. 能谱:可以安装两个超级能谱 7. 洛伦兹模式:标配
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日本电子 JSM-6510扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: 日本电子 JSM-6510
- 产地:日本
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。操作窗口直观的操作界面的设计,简明易懂便于迅速掌握操作。支持多用户单个用户可以根据常用功能设置相应的图标,营造快捷的操作环境。用户登录时,即可加载已注册过的设定。同时显示两幅图像画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。微细结构测量适合于多种测
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日本电子 JSM-7001F扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7001F
- 产地:日本
JSM-7001F热场发射扫描电子显微镜(Thermal Field Emission SEM),是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径,即使在大电流和低电压时,也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径最大为 200mm的样品。 计算机接口是新的Windows? XP系统,操作简单,具有快速简单地切换操作模式的功能键。最多可同时查看包括混合信号的
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日本电子 JSM-7001F扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7001F
- 产地:日本
JSM-7001F热场发射扫描电子显微镜(Thermal Field Emission SEM),是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径,即使在大电流和低电压时,也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径最大为 200mm的样品。 计算机接口是新的Windows? XP系统,操作简单,具有快速简单地切换操作模式的功能键。最多可同时查看包括混合信号的
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JEM-ACE200F GX分析型电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ACE200F
- 产地:日本
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单,按照该菜单,操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。
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JEM-1400Flash 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-1400Flash
- 产地:日本
从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料,JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域,而且用途越来越广。其中,以生物领域为首的高分子材料研究、YL品、病理切片、病毒、由荧光显微镜做过标记的样品等的观察,首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况,再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来,对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切。为了满足这些需求,新款120kV透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超大视野的蒙太奇系统以及与光学显微镜图像的联动功能。
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JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-Z200FSC
- 产地:日本
场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的wan美组合,进一步提高了生物样品的衬度。
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JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM200F NEOARM
- 产地:日本
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。
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JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-Z300FSC
- 产地:日本
场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统,能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内zui多可以存储12个样品,可以任意取出和交换一个或数个样品,能灵活地进行测试排序。
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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM300F2
- 产地:日本
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产品,该设备在性能上有了进一步的提高,无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM300F GRAND ARM
- 产地:日本
JEM-ARM300F实现了世界zui高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,zui高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zui高的STEM-HAADF像分辨率。
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JEM-1000 超高压透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-1000
- 产地:日本
由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜极靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即使厚样品也能观察到清晰的图像,这是超高压透射电子显微镜的zuida优点。
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JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-3200FS
- 产地:日本
JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zui高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
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EM-05500TGP TEM断层扫描系统
- 品牌:日本电子
- 型号: EM-05500TGP
- 产地:日本
TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。为使电子断层扫描特有的各种调整能够自动化,TEM断层扫描系统采用了独特算法的软件(Recorder、Composer和Visualizer-Kai)。
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