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日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
- 品牌:日立
- 型号: HD-2700
- 产地:日本
1.整体的解决方案 样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和zui终分析。 2.多种评价和分析功能可选 可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。
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JEM-F200 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
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日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000
- 品牌:日立
- 型号: NX9000
- 产地:日本
-高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等特的分析技术。
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日立透射电镜 HT7820
- 品牌:日立
- 型号: HT7820
- 产地:日本
日立zuixin推出120kV透射电镜HT782机型,该机型继承了标准版HT7800高速CMOS荧光屏相机设计、全数字化、大集成等优点和创新点,仍然采用第二代双隙物镜的设计,设计使用高分辨物镜,标配LaB6灯丝,性能实现突破性提升。此机型分辨率可保证0.144nm(晶格像),广泛应用于生命科学、医学、纳米材料和软材料研究领域。主要特点广泛应用与纳米材料和软材料研究领域。1) 包括高分子聚合物在内的系列软材料,样品组成元素多为轻元素,高的加速电压下很难得到高衬度图像,在低的加速电压(120kV
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日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
- 品牌:日立
- 型号: HD-2700
- 产地:日本
1.整体的解决方案 样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和zui终分析。 2.多种评价和分析功能可选 可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。
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日立球差校正透射电子显微镜 HF5000
- 品牌:日立
- 型号: HF5000
- 产地:日本
HF5000作为一款球差校正冷场发射透射电镜,其分辨率达到了亚埃,可以实现对样品的超细微观结构的观察和分析,适用于金属、陶瓷、半导体、纳米材料等的观察。同时,HF5000特的TEM、STEM、SEM三位一体功能不仅可以实现对材料内部结构的研究,也可以获得材料表面的信息。原子分辨率的二次电子探测器可以弥补TEM和STEM无法观察样品表面的缺陷,同时相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以满足样品表面高分辨形貌和结构观察的需求,与TEM和STEM形成互补。全自动化的球差校正过程又大大简化了球差校正透射电镜的使用难度,提高了观察效率,尤其适合测试平台和科研ZX等用户。
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日立新型高分辨率透射电镜 HT7830
- 品牌:日立
- 型号: HT7830
- 产地:日本
HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。
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日立新一代全数字化透射电子显微镜 HT7800
- 品牌:日立
- 型号: HT7800
- 产地:日本
HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。
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日本日立 HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
- 品牌:日立
- 型号: HD-2700
- 产地:日本
专用扫描透射显微镜HD-2700,配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。
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日本日立 200kV球差校正透射电镜HF5000
- 品牌:日立
- 型号: HF5000
- 产地:日本
日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000,具有高稳定冷场发射电子枪,自动球差校正器,可一键操作实现自动球差校正,HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃;
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日立新型双束系统 NX2000
- 品牌:日立
- 型号: NX2000
- 产地:日本
1.高分辨成像,高衬度成像分辨率:二次电子(3.5nm@1kV),二次离子(4nm@30kV); 2.可实时观察加工过程; 3.全自动TEM样品制备。
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JEOL原子级分辨率透射电子显微镜JEM-ARM200F NEOARM
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM200F NEOARM
- 产地:日本
JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜, 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。
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自动进样场发射透射电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。
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JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2800
- 产地:日本
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5.&nbs
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Hitachi HT7800 透射电子显微镜 TEM
- 品牌:日立
- 型号: HT7800
- 产地:日本
以创新的操作性,满足广泛领域的需求。新一代TEM"RuliTEM"诞生。~从生物医学到材料领域~"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列,包含配备高衬度透镜,实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备高分辨率透镜的HT7830。全新操作可应对日常工作。我们将竭诚为您提供合适的TEM解析解决方案。特点日立的双隙物镜设计,支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察凭借在明亮环境中的数字化操作环境和各种自动功能,从初学者到熟练者均可操作通过全新设计的&qu
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Hitachi HF5000 球差场发射透射电子显微镜TEM
- 品牌:日立
- 型号: HF5000
- 产地:日本
200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能,像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。对于包括高端用户在内的广泛用户,我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。特点标配日立生产的照射系统球差校正器(
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Hitachi NX9000 直角型FIB-SEM系统
- 品牌:日立
- 型号: NX9000
- 产地:日本
追求理想的三维结构分析通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。采用理想的镜筒布局,从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。SEM镜筒与FIB镜筒互成直角,形成三维结构分析理想的镜筒布局融合高亮度冷场发射电子枪与高灵敏度检测系统,从磁性材料到生物组织——支持分析各种样品通过选配口碑良好的Micro-sampling®系统*和Triple Beam®系统*,可支持制作高品质TEM及原子探针样品垂直入
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日立120kV透射电镜HT7800
- 品牌:日立
- 型号: 120kVHT7800
- 产地:日本
日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800,属于日立瑠璃系列产品Ruli TEM,操作的一体化和自动化程度都有明显提高。HT7800系列产品有两个型号HT7800和HT7830。 HT7800系列产品的ZD特点是采用日立ZX设计的第二代双隙物镜,很好地继承了日立120kV-TEM的基本理念,兼顾低倍率与宽视野观察、高衬度与高分辨率观察,可在同一仪器上一键切换等。集高衬度和高
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JEM-F200 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
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JEM-2100Plus 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100Plus
- 产地:日本
JEM-2100Plus电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了zuixin的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。
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JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100Plus
- 产地:日本
仪器简介:JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。JEM-2100Plus搭载 64位 Windows操作界面,操作更简单。并与STEM,EDS,CCD和EELS实现了一体化控制。JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进,非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件,可以轻松实现3D观察。压电陶瓷控制样品台也独步天下。TheJEM-2100Plus采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。技术参数(UHR)
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JEM-F200 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。
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场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100F
- 产地:日本
JEM-2100F应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 JEM-2100Fzuixin设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera实现一体化控制。
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200kV场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2100F
- 产地:日本
仪器简介:JEM-2100F应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。JEM-2100Fzuixin设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。SJEM-2100F可与TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera实现一体化控制。技术参数:1.点分辨率:0.19nm2.线分辨率:0.1
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冷场发射球差校正透射电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM200F(C)
- 产地:日本
日本电子株式会社2010年7月zuixin推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社zuixin开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到zuixin球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State Unive
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JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2800
- 产地:日本
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5. 能谱:可以安装两个超级能谱 6. 洛伦兹模式:标配
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日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ARM200F
- 产地:日本
日本电子JEM-ARM200F 透射电子显微镜 富瑞博国际有限公司代理多家国际知名仪器厂商产品 仪器简介: JEM-ARM200F的电子光学系统标准配备了一体化的球差校正器, 其扫描透射像分辨率(STEM-HAADF)达到了0.08nm,为商用透射电子显微镜分辨率的世界之最。 保证0.08nm的世界Z高STEM (HAADF) 分辨率 ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机
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日立透射电子显微镜HT7700
- 品牌:日立
- 型号: HT7700
- 产地:日本
HT7700型透射电子显微镜是一款全新设计的高级显微镜,专门用于生物和纳米材料的观察,具有极高的对比度和高分辨率的成像功能,是一款功能多合一的系统。将TEM操作统一于显示器上,无需直视荧光板,实现了无胶片化,可以在明亮的室内进行观察,以往在荧光板上发暗而难于识别的图像在显示器上也能够实现清晰地显示。标配电镜图像管理软件(EMIP-SP),自动将拍摄的图像注册到图像数据库,便于图像的管理与分类,进行长度测量和图像处理等功能。该设备采用分子泵真空系统,排气系统清洁干净。与之前型号相比,该设备耗电省,且能减少3
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日立透射电镜HT7700 Exalens
- 品牌:日立
- 型号: HT7700 Exalens
- 产地:日本
日立zuixin推出120kV透射电镜HT7700 Exalens,该透射电镜继承了标准版HT7700免荧光屏设计、全数字化、大集成等优点和创新点,仍然保留双隙物镜的设计,设计使用高分辨物镜,标配LaB6灯丝,性能实现突破性提升。此机型分辨率可保证0.144nm(晶格像),成为目前市场上**一款120kV透射电镜中分辨率最高的机型。产品特点:被广泛应用于纳米材料和软材料研究领域,可以满足客户对分辨率的要求1、高分辨物镜可保证0.144nm的分辨率,可满足用户对高分辨图像的要求。2、在较低的加速电压下,仍保
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冷场发射透射电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-F200
- 产地:日本
2016年1月,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点如下:(1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受;(2)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS;(3)电镜光源:冷场发射光源比其
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JEOL JEM-2800 场发射透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-2800
- 产地:日本
日本电子株式会社(JEOL)推出了一款特殊设计的产品即JEM-2800 场发射透射电子显微镜,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。技术参数: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5放大倍数:高达2,000,000 6. 能谱:可以安装两个超级能谱 7. 洛伦兹模式:标配
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日本电子 JSM-6510扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: 日本电子 JSM-6510
- 产地:日本
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。操作窗口直观的操作界面的设计,简明易懂便于迅速掌握操作。支持多用户单个用户可以根据常用功能设置相应的图标,营造快捷的操作环境。用户登录时,即可加载已注册过的设定。同时显示两幅图像画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。微细结构测量适合于多种测
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日本电子 JSM-7001F扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7001F
- 产地:日本
JSM-7001F热场发射扫描电子显微镜(Thermal Field Emission SEM),是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径,即使在大电流和低电压时,也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径最大为 200mm的样品。 计算机接口是新的Windows? XP系统,操作简单,具有快速简单地切换操作模式的功能键。最多可同时查看包括混合信号的
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日本电子 JSM-7001F扫描电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JSM-7001F
- 产地:日本
JSM-7001F热场发射扫描电子显微镜(Thermal Field Emission SEM),是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径,即使在大电流和低电压时,也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径最大为 200mm的样品。 计算机接口是新的Windows? XP系统,操作简单,具有快速简单地切换操作模式的功能键。最多可同时查看包括混合信号的
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JEM-ACE200F GX分析型电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-ACE200F
- 产地:日本
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单,按照该菜单,操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。
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JEM-1400Flash 透射电子显微镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JEM-1400Flash
- 产地:日本
从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料,JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域,而且用途越来越广。其中,以生物领域为首的高分子材料研究、YL品、病理切片、病毒、由荧光显微镜做过标记的样品等的观察,首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况,再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来,对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切。为了满足这些需求,新款120kV透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超大视野的蒙太奇系统以及与光学显微镜图像的联动功能。
- 透射电镜/透射电子显微镜
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