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美国布鲁克非接触式三光学轮廓仪(白光干涉仪)
品牌:德国布鲁克
型号:ContourGT-X3
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高精度位移测量仪-激光干涉仪
品牌:上海昊量
型号:PICOSCALE
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卧式激光干涉仪
品牌:苏州慧利
型号:HOOL L6600A
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Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K1
品牌:德国布鲁克
型号:Bruker -ContourGT-K1
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天津拓普 WGS-5干涉衍射测量实验(附MATLAB 源码)
品牌:天津拓普
型号:WGS-5
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布鲁克轮廓仪Dektak XTL
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Dektak XTL
- 产地:德国
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计,具有易用的联锁门,是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力,其高自动化水平可大限度地提高测试通量。增强的软件功能使 Dektak XTL 成为功能强大、容易使用的探针式轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件,通过数百种内置分析工具实现众多的测量位点、3D成像和高度
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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-200
- 产地:德国
·优质的测量与分析功能 ·先进计量设备 ·ZG性能表面计量
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布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-500
- 产地:德国
ContourX-500光学轮廓仪是全面的快速,非接触式3D表面计量自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的自动倾斜光学测头,可以完全编程并自动测试一定角度范围内的表面特征,并能ZDCD地减少跟踪误差。满足计量要求,具有无与伦比Z轴分辨率和准确性,并在更小的占地面积内提供了布鲁克的白光干涉仪落地式型号所有业界公认的优点。借助其新的USI通用扫描模式,本产品可以轻松地针对各种复杂应用场景定制分析方法。这些场景涵盖了从精密加工表面和半导体工艺制程,到眼科和MEMS器件的R&D表征。高级自动化功能专有的自动倾斜
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美国布鲁克非接触式三光学轮廓仪(白光干涉仪)
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourGT-X3
- 产地:美国
应用: 对关键尺寸的测量十分便捷,广泛应用于科研以及半导体行业;LED行业、太阳能行业、触摸屏行业及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS、化合物半导体等),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等准数据。
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Bruker原子力显微
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Bruker
- 产地:德国
Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon
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QC3 高分辨率X射线衍射仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: QC3
- 产地:德国
QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型,专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型 (QC)设备已经有三十余年的历史,并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制
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Jordan Valley多功能X射线衍射/反射仪Delta-X
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Delta-X
- 产地:德国
Jordan Valley公司最新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备,可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。
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GEMINI 自动化生产晶圆键合系统
- 品牌:奥地利EVG
- 型号: GEMINI
- 产地:奥地利
GEMINI Automated Production Wafer Bonding System GEMINI 自动化生产晶圆键合系统 集成的模块化大批量生产系统,用于对准晶圆键合 GEMINI自动化生产晶圆键合系统可实现zui高水平的自动化和过程集成。批量生产的晶圆对晶圆对准和zui大200毫米(300毫米)的晶圆键合工艺都在一个全自动平台上执行。器件制造商受益于产量增加,集成度高以及阳极,硅熔融,热压和共晶键合等多种键合工艺方法。
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EVG 560 自动晶圆键合系统
- 品牌:奥地利EVG
- 型号: EVG 560
- 产地:奥地利
全自动晶圆键合系统,用于大批量生产 EVG560自动化晶圆键合系统zui多可容纳四个键合室,并具有各种键合室配置选项,适用于所有键合工艺和zui大300 mm的晶圆。 EVG560键合机基于相同的键合室设计,并结合了EVG手动键合系统的主要功能以及增强的过程控制和自动化功能,可提供高产量的生产键合。 机器人处理系统会自动加载和卸载处理室。
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探针式表面轮廓仪DektakXT
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: DektakXT
- 产地:德国
布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术
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Bruker布鲁克Dektak XTL 测针轮廓仪系统
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Bruker Dektak XTL
- 产地:德国
全新的Dektak XTL™探针式轮廓仪优异的精确度、可重复性和再现性广泛应用于大尺寸晶片及面板制造业。该系统可容纳多达350mm x 350mm的样品,使得Dektak系统可以实现从200mm到300mm的晶片制造。
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ContourGT-K 白光干涉仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourGT-K 3D
- 产地:德国
ContourGT-K 3D光学显微镜是表面轮廓仪功能和价值的标准。该系统具有各种2D / 3D测量,高分辨率成像和用户友好的界面,该系统以紧凑的封装和紧凑的占地面积提供了无可比拟的计量功能。
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Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-X3/X8
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Bruker -ContourGT-X3/X
- 产地:德国
对关键尺寸的测量十分便捷,广泛应用于科研以及半导体行业;LED行业、太阳能行业、触摸屏行业及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS、化合物半导体等),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等jing准数据。
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Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K1
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Bruker -ContourGT-K1
- 产地:德国
对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半dao体行业以及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精zhun数据
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BRUKER布鲁克ContourX-500 3D光学轮廓仪 用于3D计量的全自动台式
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-500
- 产地:德国
ContourX-500光学轮廓仪是用于快速,非接触式3D表面度量的世界上zui全面的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头,可以完全编程,以在一定角度范围内测量表面特征,同时zui大程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有无与伦比的Z轴分辨率和精度,并在更小的占地面积下提供了布鲁克白光干涉仪(WLI)落地式机型的所有业界公认的优势。
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Bruker布鲁克ContourX-200 3D光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-200 3D
- 产地:德国
ContourX-200光学轮廓仪将先进的特性,可自定义的选项以及易用性 融合,可提供yi 流的快速,准确和可重复的非接触式3D表面度量。具有测量功能的小尺寸系统使用较大的FOV 5 MP数码相机和新型电动XY位移台,可提供毫不妥协的2D / 3D高分辨率测量功能。
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Bruker布鲁克ContourX-100 3D光学轮廓仪
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourX-100 3D
- 产地:德国
ContourX-100光学轮廓仪以zui佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装,可提供无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能,并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量(WLI)创新技术。
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Bruker三维光学显微镜
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Bruker
- 产地:德国
布鲁克作为全球三维表面测量与观察业界的ling dao者,提供从微观如MEMS(微机电系统)到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。
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ContourGT-K 3D光学显微镜(三维光学轮廓仪)
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: ContourGT-K
- 产地:美国
应用: 对关键尺寸的测量十分便捷,广泛应用于科研以及半导体行业;LED行业、太阳能行业、触摸屏行业及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS、化合物半导体等),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等极ng准数据。
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德国APE公司显微镜自相关仪Carpe
- 品牌:德国APE
- 型号: Carpe
- 产地:德国
Carpe是用于显微镜的自相关仪。Carpe测量样品位置和显微镜输入处的脉宽。通过比较这两个点的脉宽,可以计算脉冲展宽效应。这种效应是由显微镜光学系统色散引起的,但很大程度上也取决于入射激光束的脉冲宽度。样品位置的功率检测功能支持系统性和定量的研究,探索激光功率如何影响样品或探针的荧光寿命。
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德国APE公司紧凑型自相关仪Mini TPA,Mini PD
- 品牌:德国APE
- 型号: Mini TPA,Mini PD
- 产地:德国
德国APE公司的Mini 是免调谐自相关测量、紧凑尺寸和高灵敏度的完美结合。Mini 自相关器的占地面积仅为 160 x 220 x 155 毫米,非常适合空间有限的工作环境。Mini TPA 实现免调谐波长匹配,APE 提供一系列可更换的光学组件,范围从 250 nm 的 UV 到 3200nm 的 IR,用于在极宽的波长范围内进行灵敏测量。MiniPD 支持在共线和非共线测量模式之间快速轻松地切换,实现无调谐自相关测量。
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德国APE公司高对比度自相关仪pulseCheck SM Type 2
- 品牌:德国APE
- 型号: pulseCheck SM Type 2
- 产地:德国
高对比度脉冲表征的高动态范围自相关仪 pulseCheck SM Type 2进行的高对比度测量可提供有关主脉冲伴随前脉冲、后脉冲和基座的时间和强度的信息。凭借高达 80 dB 的高对比度,pulseCheck SM Type 2 非常适合表征高强度激光脉冲,例如用于材料加工或在超高强度激光-物质相互作用实验中。
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