椭偏仪/椭圆偏振仪椭偏仪/椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。椭偏仪/椭圆偏振仪现在已被广泛应用于材料、物理、化学、生物、医药等领域的研究、开发和制造过程中。可测材料:半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、多层膜物质和石墨烯等等。
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薄膜厚度测量系统
- 品牌:上海孚光精仪
- 型号: FR-Prob
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这款薄膜厚度测量系统平台是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。这个薄膜厚度测量系统由如下5个模块组成:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪我们提供多种光谱仪类型
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