椭偏仪/椭圆偏振仪椭偏仪/椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。椭偏仪/椭圆偏振仪现在已被广泛应用于材料、物理、化学、生物、医药等领域的研究、开发和制造过程中。可测材料:半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、多层膜物质和石墨烯等等。
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海洋光学 光谱式椭偏仪 SpecEL
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: SpecEL
- 产地:美国
椭圆偏光技术是一种非接触式、非破坏性,以光学技术测量表面薄膜特性的方法。当一束偏振光经过物体表面或界面时,其偏振极化状态会被改变。而椭偏仪就是通过探测样品表面的反射光,来测量此改变(即反射光和入射光的振幅及相位的改变量),以决定表面薄膜的光学常数(n,k 值)及膜厚。SpecEL 光谱式椭偏仪系统组成宽光谱光源,导光器件,起偏器,样品台,检偏器,增强光学元件和微型线阵列CCD 光谱仪,测量软件。
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