椭偏仪/椭圆偏振仪椭偏仪/椭圆偏振仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。椭偏仪/椭圆偏振仪现在已被广泛应用于材料、物理、化学、生物、医药等领域的研究、开发和制造过程中。可测材料:半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、多层膜物质和石墨烯等等。
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ES01-PV 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪(光伏专用)
品牌:北京赛凡
型号:ES01-PV
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型号:ES01
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Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV
品牌:德国布鲁克
型号:FilmTek 2000M TSV
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光谱椭偏仪
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上海致东全光谱椭偏仪
- 品牌:上海致东
- 型号: SE-SEMI-XYZ Auto tage
- 产地:浦东新区
上海致东全光谱椭偏仪
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上海致东全光谱椭圆偏光测厚仪
- 品牌:上海致东
- 型号: SR-PV-1400x1200
- 产地:浦东新区
由椭圆仪校正 量测色度坐标 量测时间1-3s ,精确度高 国内自行研发,价格合理 量测膜厚(N.K)值 .量测穿透率(T%).反射率(R%) FFT for very thick layer (up to 50 um)
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上海致东全光谱椭圆偏光测厚仪
- 品牌:上海致东
- 型号: 全光谱椭圆偏光测厚仪
- 产地:浦东新区
上海致东全光谱椭圆偏光测厚仪
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上海致东HIT异质结光学评价专用机
- 品牌:上海致东
- 型号: OLED、TFT-LCD、Touch Panel
- 产地:浦东新区
针对HIT(异质结)太阳能电池片加以客制化定制量测ITO,n+aSi,aSi,膜厚以及(n,k),反射率(R%)以及穿透率(T%),4PP... SR , R% (Spectroscopic Reflectometer) SE (Spectroscopic Ellipsmeter) 4PP ,Ω/cm2(Four Point Probe) ST,T%(Spectroscopic Transmittance)
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上海致东全光谱椭圆偏光测厚仪
- 品牌:上海致东
- 型号: SE
- 产地:浦东新区
**台国人自行开发 波长范围:360nm-950nm 快速量测:<6Sec 全自动量测(Recipe Driver) 精密量测膜厚及折射率(反射率:option) 各种功能的光学常数量测和光谱特性分析 椭偏参数精度:≤±0.01 for Tan(φ);≤±0.01 for Cos (Δ) 可直接量测镀膜在透明基板,而无需在基板背面打毛及染黑(ITO on Glass、SiN on Glass)
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上海致东全光谱椭偏仪
- 品牌:上海致东
- 型号: SE+SR-XYZ Auto Stage
- 产地:浦东新区
上海致东全光谱椭偏仪
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上海致东全光谱椭偏仪
- 品牌:上海致东
- 型号: SE-RD-Z Axis Auto Focus
- 产地:浦东新区
上海致东全光谱椭偏仪
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上海致东全光谱椭偏仪
- 品牌:上海致东
- 型号: SE-SEMI-XYZ Auto tage
- 产地:浦东新区
上海致东全光谱椭偏仪
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全光谱椭圆偏振测厚仪SE950
- 品牌:上海致东
- 型号: SE950
- 产地:浦东新区
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