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EMPro-PV 型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
品牌:北京赛凡
型号:EMPro-PV
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ES01 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪
品牌:北京赛凡
型号:ES01
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HORIBA 真空紫外椭偏仪 UVISEL 2 VUV
品牌:日本堀场
型号:UVISEL 2 VUV
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Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE
品牌:德国布鲁克
型号:FilmTek 2000 PAR-SE
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-L
- 产品品牌
- 不限
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自动椭圆偏振测厚仪
- 品牌:天津拓普
- 型号: TPY-2型
- 产地:津南区
仪器简介:产品特点: 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。技术参数:规格与主要技术指标: 测量范围:1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量最小值:≤1nm 入射角:20°- 90°精度≤0.05° 度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm 偏振器方位角范围:0°- 180° 外形尺寸:
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椭圆偏振测厚仪
- 品牌:天津拓普
- 型号: TPY-1 型
- 产地:津南区
仪器简介:在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数:规格与主要技术指标: 测量范围:薄膜厚度范围:1nm-300nm; 折射率范围:1-1
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天津拓普 TPY-2自动椭圆偏振测厚仪
- 品牌:天津拓普
- 型号: TPY-2
- 产地:南开区
TPY-2 自动椭圆偏振测厚仪采用消光法自动控制,自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度和灵敏度更高等特点。
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天津拓普 TPY-1椭圆偏振测厚仪
- 品牌:天津拓普
- 型号: TPY-1
- 产地:南开区
TPY-1 椭圆偏振测厚仪采用消光法手动调节,自动测量薄膜厚度和折射率,精度高、灵敏度高、方便测量。
- 椭偏仪/椭圆偏振仪
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