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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-VM
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-i
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光伏椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-PV
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Film Sense 多波长椭偏仪 FS-1™
品牌:上海品测
型号:FS-1™
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天津拓普 TPY-1椭圆偏振测厚仪
品牌:天津拓普
型号:TPY-1
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: AutoSE
- 产地:法国
全自动化&高集成度&可视化光斑 操作简单,测试快速,为一般操作工人设计 新型的全自动薄膜测量分析工具可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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激光椭偏仪SE 400adv PV
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SE 400adv PV
- 产地:德国
激光椭偏仪SE 400adv PV,是全球化使用的标准仪器,用于测量PV单层防反射涂层的厚度和折射率指数。特别用于表征单晶和多晶硅太阳能电池上的SiNx 防反射单层膜的性能。该仪器用于SiNx涂层和薄钝化层SiO2和Al2O3的质量控制。
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HORIBA智能型多功能椭偏仪 Smart SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。 多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。
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光谱椭偏仪SE 800 PV
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SE 800 PV
- 产地:德国
光谱椭偏仪SE 800 PV是分析结晶和多晶硅太阳能电池防反射膜的理想工具。可以测量单层薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多层叠层膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。
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激光椭偏仪SE 500adv
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SE 500adv
- 产地:德国
激光椭偏仪SE 500adv, 结合椭偏反射CER的SE 500adv 椭偏仪SE 500adv将激光椭偏仪和反射仪结合在一个系统中。这种组合允许零度反射法用于快速薄膜分析,并且允许透明膜以激光椭偏仪的亚埃精度将可测量的厚度范围扩展到25埃米,从而明确地确定厚度。
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德国Sentech激光椭偏仪SE 400adv
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SE 400adv
- 产地:德国
德国Sentech激光椭偏仪SE 400adv, 测量透明薄膜的厚度和折射率指数,具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用激光椭偏仪SE 400adv表征吸收膜特征。
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SENDURO 全自动光谱椭偏仪
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SENDURO
- 产地:德国
SENDURO 全自动光谱椭偏仪包括基于测量的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作:放置样品,自动样品对准,自动测量和分析结果。在全自动模式下使用光谱椭偏仪非常适合于质量控制和研发中的常规应用。
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德国Sentech红外光谱椭偏仪SENDIRA
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SENDIRA
- 产地:德国
SENDIRA红外光谱椭偏仪,振动光谱的特点是傅立叶红外光谱仪FTIR。测量红外分子振动模的吸收谱带,分析长分子链的走向和薄膜的组成。红外光谱椭偏仪适用于测量导电膜的电荷载流子浓度。
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光谱椭偏仪SENpro
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SENpro
- 产地:德国
德国 Sentech 低成本GX益的光谱椭偏仪SENpro,SENpro椭偏仪是椭偏仪应用的智能解决方案。它具有角度计,入射角度步进值5°。操作简单,快速测量和直观的数据分析相结合,以低成本效益高的设计来测量单层和多层膜的厚度和光学常数。
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SENresearch 4.0 拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪
- 品牌:德国Sentech
- 型号: SENresearch 4.0
- 产地:德国
SENresearch 4.0:拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪,在宽的光谱范围从190nm(深紫外)到3,500 nm(近红外)。每一台SENresearch 4.0都是客户特定的椭偏光谱解决方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩阵、各向异性、广义椭偏、散射测量等。使用步进扫描分析器原理实现测量结果。
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: AutoSE
- 产地:法国
全自动化&高集成度&可视化光斑 操作简单,测试快速,为一般操作工人设计 新型的全自动薄膜测量分析工具可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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Film Sense FS-1多波长椭偏仪
- 品牌:美国Film Sense
- 型号: FS-1™
- 产地:美国
Film Sense FS-1多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量,就 可以获得非常精密和准确的数据。
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椭偏仪 QUASAR-E100系列
- 品牌:上海晶诺微
- 型号: QUASAR-E100
- 产地:闵行区
QUASAR-E100是一款桌面式光谱椭偏膜厚仪,它为客户提供更加准确、稳定的厚度和折射率测量,广泛应用于科研、半导体、液晶、太阳能制造等领域,适用于对厚度和折射率测量有更高精度要求的应用场景。产品特点 各种尺寸样品测量可测量如4-12英寸的晶圆及其他各种不规则形状样品 测量精度和稳定性高相对于反射仪,QUASAR-E100可提供更高精度的测量,且可提供极薄膜的测量 多参数测量可测量材料厚度、折射率和消光系数 操作简单且功能丰富用户无需过多培训即可轻
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: UVISEL Plus
- 产地:日本
椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十微米。此外,还可以测试材料的反射率及透过率。
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法国HORIBA UVISEL 2研究级全自动椭偏仪
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: HORIBAUVISEL2
- 产地:法国
技术参数:·光谱范围:190-2100 nm·8种光斑尺寸: 小35 X 85 um·探测器:3个独立探测器,分别优化紫外,可见和近红外·自动样品台尺寸:200mm X 200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm·样品水平度自动调整·自动量角器:变角范围35°- 90°,全自动调整,
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美国Gaertner椭偏仪膜厚测量仪Ellipsometer
- 品牌:美国Gaertner
- 型号: GaertnerEllipsometer
- 产地:美国
Gaertner LSE-2A2W 进口椭偏仪。
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美国AST椭偏仪
- 品牌:美国Angstrom Sun
- 型号: SE200BM/SE300BM/SE450BM
- 产地:美国
美国赛伦科技为AST在ZG地区的授权总销售服务商,赛伦科技在上海,北京分别设有办事处。美国AST (Angstrom Sun Technologies Inc)是世界主要针对科研单位提供:spectroscopic ellipsometer (SE), spectroscopic reflectometer (SR) and Microspectrophotometer (MSP)的知名供应商。客户遍布全球主要科研大学及主要半导体厂商:NISTISMINASAJPLMarshall Space Cente
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美国Gaertner激光型椭偏仪,STOKES Ellipsometer
- 品牌:美国Gaertner
- 型号: Model LSE-2A2W, LSE
- 产地:美国
high speed film thickness system measures routinely in less than a second! Tilt-free, focus free, hands-off operation for similar wafers. Fastest possible instrument for thin film measurement.
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研究级经典型椭偏仪-UVISEL
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: UVISEL
- 产地:法国
仪器简介: 20多年技术积累和发展的结晶,是一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型。即使在透明的基底上也能对超薄膜进行最精确的测量。采用PEM相位调制技术,与机械旋转部件技术相比,能提供更好的稳定性和信噪比。技术参数:可选光谱范围: * UVISEL Extended Range(190nm -2100 nm) * UVISEL NIR (250 nm -2100 nm ) * UVISEL VIS (210 nm -880 nm ) * UVISEL FUV(190 nm -8
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HORIBA JY研究级全自动椭偏仪UVISEL 2
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: UVISEL 2
- 产地:法国
UVISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时,配备革新的可视系统,多达8个尺寸微光斑选项,最小达35×85μm2,适用于所有薄膜材料研究领域。是目前市场上duyi无二的机型。技术参数:光谱范围:190-2100 nm8种光斑尺寸: 最小35 X 85 um探测器:3个独立探测器,分别优化紫外,可见和近红外自动样品台尺寸:200mm X 200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm样品水平度自动调整自动量角器:
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一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Auto SE
- 产地:法国
新型的全自动薄膜测量分析工具,工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。产品特点:完全自动化设计,一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件CCD探测系统,快速全谱输出多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术封闭式样品仓技术参数:光谱范围:450-1000 nm多种微光斑自动选择ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面CCD探测器自动样品台尺寸:200mmX200mmXYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm70度角入射
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研究级经典型椭偏仪 UVISEL
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: UVISEL
- 产地:法国
UVISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时,配备革新的可视系统,多达8个尺寸微光斑选项,最小达35×85μm2,适用于所有薄膜材料研究领域。是目前市场上duyi无二的机型。产品特点:完全自动化设计,自动对焦、校正全新光路、电路设计,测量精度更高,速度更快50KHz高频PEM相调制技术,测量光路中无运动部件双光栅光谱仪系统,杂散光YZ水平高8个尺寸微光斑,ZL可视技术自动平台样品扫描成像技术参数:光谱范围:190-2100
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Film Sense 多波长椭偏仪 FS-1™
- 品牌:上海品测
- 型号: FS-1™
- 产地:嘉定区
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长, LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量,就可以获得准确的数据。还可以测量大多数样品的光学常数和其他薄膜特性。
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研究级全自动椭偏仪UVISEL 2
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: UVISEL 2
- 产地:法国
20多年技术积累和发展的结晶,UVISEL是一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型。即使在透明的基底上也能对超薄膜进行最精确的测量。采用PEM相位调制技术,与机械旋转部件技术相比,能提供更好的稳定性和信噪比。产品特点:50KHz 高频PEM 相调制技术,测量光路中无运动部件具备超薄膜所需的测量精度,超厚膜所需的高光谱分辨率具有毫秒级超快动态采集模式,可用于在线实时监测自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件配置灵活技术参数:可选光谱范围:UVISEL Extended
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研究级经典型椭偏仪 UVISEL
- 品牌:日本堀场
- 型号: UVISEL
- 产地:法国
仪器简介: 20多年技术积累和发展的结晶,是一款高准确性、高灵敏度、高稳定性的经典椭偏机型。即使在透明的基底上也能对超薄膜进行最精确的测量。采用PEM相位调制技术,与机械旋转部件技术相比,能提供更好的稳定性和信噪比。技术参数:可选光谱范围: * UVISEL Extended Range(190nm -2100 nm) * UVISEL NIR (250 nm -2100 nm ) * UVISEL VIS (210 nm -880 nm ) * UVISEL FUV(190 nm -8
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一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
- 品牌:日本堀场
- 型号: Auto SE
- 产地:法国
全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术,无机械转动部件,重复性,信噪比高2. ZG技术成像系技术,所有样品均可成像,对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3. 反射式微光斑,覆盖全谱段,利于非均匀样品图案化样品测试4. 全自动集成度高,安装维护简便5. 一键式
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一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Auto SE
- 产地:法国
创新点◎duyi无二的光斑可视系统(ZL技术):AutoSE集成了duyi无二的MyAutoView光斑可视系统(ZL技术),该系统配备在标准椭圆偏振光谱仪中,允许操作者全程观测样品光斑,以确保各种类型的样品都能在完全正确的位置,以合适的光斑尺寸进行测量。解决了现有测量技术中的“盲测”难题。◎一键式操作,大大提高工作效率。◎共焦微光斑技术:提供8种不同光斑尺寸的自动选择。◎全自动智能诊断及故障处理:大大减轻了设备的维护负担。 仪器简介:新型的全自动薄膜测量分析工具,工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全
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HORIBA JY一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Auto SE
- 产地:法国
新型的全自动薄膜测量分析工具,工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。技术参数:光谱范围:450-1000 nm多种微光斑自动选择ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面CCD探测器自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自动调节; Z轴高度>35mm70度角入射主要特点:完全自动化设计,一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件CCD探测系统,快速全谱输出多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术封闭式样品
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HORIBA JY在线椭偏仪 In-situ series
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: In-situ series
- 产地:法国
仪器介绍:在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。技术参数:可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
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Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus
- 品牌:日本堀场
- 型号: UVISEL Plus
- 产地:法国
基于最新的电子设备,数据处理和高速单色仪,FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集,双单色仪系统可达到0.1-2 nm。 AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点,使得数据采集分析更加简便,易于非专业人员上手操作。
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研究级全自动椭偏仪UVISEL 2
- 品牌:日本堀场
- 型号: UVISEL 2
- 产地:法国
仪器介绍: UVISEL2是一款完全革新的全自动光谱型椭偏仪。继承并发展了经典机型UVISEL的高准确性、高灵敏度和高稳定性等技术特点的同时,配备革新的可视系统,多达8个尺寸微光斑选项,最小达35×85μm2,适用于所有薄膜材料研究领域。是目前市场上duyi无二的机型。 技术参数: 光谱范围:190-2100 nm 8种光斑尺寸: 最小35 X 85 um 探测器:3个独立探测器,分别优化紫外,可见
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智能型多功能椭偏仪Smart SE
- 品牌:日本堀场
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
仪器介绍: 多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。 技术参数: 光谱范围:450-1000nm 多种微光斑自动选择 ZG光斑可视技术,可观测任何样品表面 CCD探测器 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XY
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在线椭偏仪 In-situ series
- 品牌:日本堀场
- 型号: In-situ series
- 产地:法国
仪器介绍: 在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。 技术参数: 可实现快速、实时在线监测样品膜层变化 主要特点: 将激发和探测头引入生产设备,可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
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智能型多功能椭偏仪 Smart SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数: 光谱范围:450-1000nm 多种微光斑自动选择 ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面 CCD探测器 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向 自动调节; Z轴高度>35mm主要特点: 一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件 CCD 探测系统,快速全谱输出 多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术 多角度测量 可实现在线
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在线椭偏仪 In-situ series
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: In-situ series
- 产地:法国
仪器介绍:在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。技术参数:可实现快速、实时在线监测样品膜层变化主要特点:将激发和探测头引入生产设备,可实现: 动态模式:实时监测膜厚变化 光谱模式:监测薄膜的界面和组分
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智能型多功能椭偏仪Smart SE
- 品牌:法国HORIBA JY
- 型号: Smart SE
- 产地:法国
仪器介绍:多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,精确表征和分析的工具。技术参数: 光谱范围:450-1000nm 多种微光斑自动选择 ZL光斑可视技术,可观测任何样品表面 CCD探测器 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向 自动调节; Z轴高度>35mm主要特点: 一键式操作,直接报告输出液晶调制技术,测量光路中无运动部件 CCD 探测系统,快速全谱输出 多个微光斑尺寸选择,ZL可视技术 多角度测量 可实现在线
- 椭偏仪/椭圆偏振仪
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