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ES01-PV 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪(光伏专用)
品牌:北京赛凡
型号:ES01-PV
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ES01 快速摄谱式 自动变角度光谱椭偏仪
品牌:北京赛凡
型号:ES01
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Bruker 椭偏仪 FilmTek 2000M TSV
品牌:德国布鲁克
型号:FilmTek 2000M TSV
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-VM
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光谱椭偏仪
品牌:沈阳科晶
型号:SE-Glass
- 产品品牌
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Film Sense FS-1多波长椭偏仪
- 品牌:美国Film Sense
- 型号: FS-1™
- 产地:美国
Film Sense FS-1多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量,就 可以获得非常精密和准确的数据。
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美国Gaertner椭偏仪膜厚测量仪Ellipsometer
- 品牌:美国Gaertner
- 型号: GaertnerEllipsometer
- 产地:美国
Gaertner LSE-2A2W 进口椭偏仪。
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美国AST椭偏仪
- 品牌:美国Angstrom Sun
- 型号: SE200BM/SE300BM/SE450BM
- 产地:美国
美国赛伦科技为AST在ZG地区的授权总销售服务商,赛伦科技在上海,北京分别设有办事处。美国AST (Angstrom Sun Technologies Inc)是世界主要针对科研单位提供:spectroscopic ellipsometer (SE), spectroscopic reflectometer (SR) and Microspectrophotometer (MSP)的知名供应商。客户遍布全球主要科研大学及主要半导体厂商:NISTISMINASAJPLMarshall Space Cente
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美国Gaertner激光型椭偏仪,STOKES Ellipsometer
- 品牌:美国Gaertner
- 型号: Model LSE-2A2W, LSE
- 产地:美国
high speed film thickness system measures routinely in less than a second! Tilt-free, focus free, hands-off operation for similar wafers. Fastest possible instrument for thin film measurement.
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椭偏仪
- 品牌:
- 型号: SpecEl-2000-VIS
- 产地:美国
SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。波长范围200-900nm。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。 集成的精确测量系统SpecEl由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成,并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜,分辨率0.1nm,测量时间5-15秒,并且折射率测量可达0.005%。 配置说明 波长范围:
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超声波在线壁厚、偏心测量仪
- 品牌:英国NDC
- 型号: Ultrascan 1012
- 产地:美国
UltraScan壁厚和同心度测量系统Beta LaserMike开发的UltraScan系统可以实现产品壁厚和同心度的在线精确测量,同时该系统也可以用于测量产品的直径和椭圆度。采用超声波技术,UltraScan系统能够在生产过程中实现高速、非接触式的测量。根据不同的应用场合,UltraScan测量系统采用固定式和可调节的传感器距离模式测量各种不同产品的直径和壁厚尺寸。上述各种模式都支持多个传感器测量,并且能够测量多层的直径和壁厚尺寸。应用领域:电线、电缆、医疗管、及其他管材、线绳等检测项目:壁厚、偏心、
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海洋光学 光谱式椭偏仪 SpecEL
- 品牌:美国海洋光学
- 型号: SpecEL
- 产地:美国
椭圆偏光技术是一种非接触式、非破坏性,以光学技术测量表面薄膜特性的方法。当一束偏振光经过物体表面或界面时,其偏振极化状态会被改变。而椭偏仪就是通过探测样品表面的反射光,来测量此改变(即反射光和入射光的振幅及相位的改变量),以决定表面薄膜的光学常数(n,k 值)及膜厚。SpecEL 光谱式椭偏仪系统组成宽光谱光源,导光器件,起偏器,样品台,检偏器,增强光学元件和微型线阵列CCD 光谱仪,测量软件。
- 椭偏仪/椭圆偏振仪
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