偏振分析仪/偏振态分析仪偏振分析仪/偏振态分析仪是利用液晶可控延迟器法测量偏振的仪器。偏振分析仪/偏振态分析仪具有全面分析光信号偏振属性的功能,这包括偏振态的庞加莱球表示。板上算法和板上校准数据共同确保宽波长范围内的高精度操作。凭借其实时测量能力,偏振分析仪/偏振态分析仪适用于受扰和波动信号分析,以及要求实时反馈偏振信息的控制应用。提供模拟数据输出端口以支持自动制造测试系统中的控制环路。
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美国Hinds Strokes 偏振计
品牌:美国Hinds
型号:Strokes
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美国Hinds Strokes 偏振计
- 品牌:美国Hinds
- 型号: Strokes
- 产地:美国
偏振测量长期以来一直是Hinds仪器的专业技术,在新的交钥匙双PEM研究中, STOKES偏振计系统是为测量光的斯托克斯参量提供高灵敏度的下一步,该系统在光学元件表征、光学系统光束输出特性、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面有着广泛的应用。
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小尺寸宽带偏振态测量仪
- 品牌:美国Hinds
- 型号: PolSNAP
- 产地:美国
PolSNAP是一款紧凑的偏振测量仪,来自Hinds Instruments;公 司,数据采集速率为每秒2000个样本,从而得以每秒快速确 定4个Stokes矢量。光学系统,驱动电子和检测电子都集成在 一起,因此它很容易进入你的光学设置,这样你就可以确定 你的光源或光学的偏振,对激光进行质量控制,或确定你的 光学的偏振保持能力。该偏振测量仪生成所有四个Stokes参 数,并以三种不同的方式图形化地显示它们。重复度降低到 0.06%,精度在1%以内。
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美国Hinds 应力双折射测量系统
- 品牌:美国Hinds
- 型号: 150AT
- 产地:美国
美国Hinds成立于1971年,凭借其ZL的PEM(光弹变调制)技术研发了高稳定的应力双折射测量系统,具有目前世界上最高的精度,可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度). ? 光学器件? 液晶玻璃基板, 液晶滤光片? 激光晶体? DVDs? 光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等? 相机镜头? 太阳能硅片,半导体晶圆
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