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Pika IR+ 高光谱成像仪
品牌:美国瑞森
型号:Pika IR+
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Specim发布中波红外高光谱成像仪-FX50
品牌:芬兰SPECIM
型号:FX50
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PhenoTron®-HSI种质资源高光谱成像分析系统
品牌:北京易科泰
型号:PhenoTron®-HSI
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多光谱相机
- 品牌:
- 型号: FS-50
- 产地:丰台区
多通道,高分辨率
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高光谱相机高光谱成像仪
- 品牌:
- 型号: FS-1X
- 产地:丰台区
多通道,分辨率高,便携式,性价比高
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Phasics SID4-HR高分辨波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4-HR
- 产地:法国
Phasics SID4-HR高分辨波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉ZL技术,SID4-HR波前分析仪提供了一个非常高的相位和强度高分辨率(400x300测量点)图。由于它测量发散光束不需要中继镜头,简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途:等离子体密度测量,相位成像显微… SID4-HR 光学器件测量 自适应光学 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4-HR波前传感器具备以下特点: 1.超高分辨率:400x300相位图
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Phasics SID4 NIR波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4 NIR
- 产地:法国
产品介绍Phasics SID4 NIR波前传感器 基于Phasics四波横向剪切干涉ZL技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm,具有超高分辨率(160x120测量点)。确保非常精确的波前测量。结构紧凑,很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。 SID4-HR 光学器件测量 自适应光学 特点: 由于其独特的ZL技术,Phasics的SID4-NIR波前传感器具备以下特点: 1.高分辨率:160x120测量点 2.高数值
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phasics SID4系列 波前分析仪
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4
- 产地:法国
Phasics SID4系列 波前传感器法国Phasics 公司的产品基于其波前测量ZL技术,即4 波横向剪切干涉技术。(4-Wave LateralShearing Interferometry)。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上,这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围WM结合在了一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。 Phasics波前传感器具有如下独特技术优势: ◆高分辨率相位图:可达400x300。 ◆可直接测量高发散光束 ◆消色差,匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需
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法国Phasics SID4系列波前分析仪
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4
- 产地:法国
法国PhasicsSID4系列波前传感器 -----四波横向剪切干涉波前传感器 产品介绍:法国PHASICS 的波前分析仪(上海屹持光电代理)(专li号CN200780005898),基于其波前测量ZL——四波横向剪切干涉技术(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。作为夏克-哈特曼技术的改进型,这种独特的ZL技术将高分辨率和大动态范围很好地结合在一起。能实现全面、简便、快速的测量。 主要应用领域: 1. 激光光束参数测量:相位(2D/3D),M2,束腰位置,直径,
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SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4-SWIR-HR
- 产地:法国
SID4-Swir-HR波前传感器基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点:1.高分辨率:160x128测量点2.高灵敏密度:整个光
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phasics真空环境兼容波前分析仪SID4-V
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4-V
- 产地:法国
Phasics真空环境兼容波前分析仪SID4-V为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量,气流,等离子体密度测量分析,以及光学系统装配的需求。法国Phasics推出了新型高精度波前分析仪SID4-V,是目前市场上一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪,广泛应用于高功率激光测试中。 产品特点: 可适用于>10-6mbar真空环境 高分辨率160×120相位像素 光谱范围从400 nm到1100 nm 可测量发散光束 热和机械真空不改变测试结果 真空循环下无任何性能下降 真空和常压下均可
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phasics SID4波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4
- 产地:法国
phasics SID4波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉ZL技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率(160x120测量点),且使用简便。 SID4-HR 光学器件测量 自适应光学 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4波前传感器具备以下特点: 1.超高分辨率:160x120测量点 2.直接测量发散和准直光束 3.从400到1100nm消色差 4.自校准:振动不敏感和容易对齐 5.紧凑,体积小 应用: SID4波前传感器提供新的可能性应用:
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phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4-Lwir
- 产地:法国
phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的SID4 LWIR工作范围在长波红外8-14μm,结构紧凑,易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。 SID4-Swir 光学器件测量 激光束测试 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4-LWIR波前传感器具备以下特点: 1.高分辨率:160x108测量点 2.高发散光测量:无需转接透镜 3.消色差:8-
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phasics SID4 IR-MCT波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4 IR-MCT
- 产地:法国
phasics SID4 IR-MCT波前传感器SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉ZL技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.2到5.5µµm m)。非常适合微弱光红外光源,如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。 SID4 IR-MCT 光学元件测量 激光测量 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4 IR-MCT波前传感器具备以下特点: 1.高
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Phasics SID4-Dwir波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4-Dwir
- 产地:法国
产品介绍基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术,SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段(3-5,8-14µm)。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率(160×120个测量点)。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量(CO2,OPO激光…)。 SID4-Dwir 光学器件测量 自适应光学 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4-Dwir波前传感器具备以下特点: 1.高分辨率:160x120测量点 2.双波长测量:3-5,8-14µm中远红外 3.消色差:
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Phasics SID4 UV波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4 UV
- 产地:法国
Phasics SID4 UV波前传感器Phasics利用其ZL的四波横向剪切干涉技术,在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率(250x250测量点)和高灵敏度(0.5 nm RMS)。这确保了UV镜头,表面和UV激光束测试的精确性。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。 SID4-UV 光学器件测量 自适应光学 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4 UV波前传感器具备以下特点: 1.超高分辨率:250x250测量点 2.高灵敏度:0.
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Phasics SID4-Swir波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4-Swir
- 产地:法国
Phasics SID4-Swir波前传感器基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度, 确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。 SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点: 1.高
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Phasics SID4-UVHR波前传感器
- 品牌:法国Phasics
- 型号: SID4-UVHR
- 产地:法国
Phasics SID4-UVHR波前传感器Phasics利用其ZL的四波横向剪切干涉技术,在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率(345x275测量点)和在190-400nm范围具有高灵敏度(0.5 nm RMS)。因此,SID4-UVHR是完全适用于光学元件的特性(用于光刻技术、半导体…)和表面检查(透镜和晶片…)。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。 SID4-UVHR 光学器件测量 自适应光学 特点: 由于其独特的ZL技术技术,Phas
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德国APE公司高分辨率光谱仪waveScan
- 品牌:德国APE
- 型号: waveScan
- 产地:德国
高分辨率光谱分析仪waveScan是APE 一款用于超快激光系统的紧凑且经济高效的光谱分析仪,可在高分辨率下进行快速测量。旋转光栅技术可实现高扫描速率,使其成为锁模激光系统的理想实时对准工具。不同的配置,从 200 nm UV 到 6.3 μm 的中红外范围,使 waveScan 成为分析不同激光类型光谱的选择。除了自由空间输入外,waveScan 还提供可互换的光纤输入。无论您需要快速的调整扫描速率还是高分辨率,结合方便的测量控制和数据处理 - waveScan 都是理想的解决方案
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[公开招标]预算442万元 华南农业大学采购热红外高光谱成像系统
华南农业大学公开招标热红外高光谱成像系统,3D打印设备,开源农业机器人开发平台,多通道多光谱激光分析仪,便携式水稻/果树产量分析系统,项目编号:0877-24GZTP4ZC0208
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[公开招标]预算1886万元 南京农业大学采购超高分辨激光共聚焦显微镜
南京农业大学公开招标超高分辨激光共聚焦显微镜,背包激光雷达扫描系统,三维激光扫描系统、种子活力分析仪,微型无人机载高光谱成像仪,机载高光谱相机,项目编号:ZF20240097
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