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107J-1上海长方测量显微镜
品牌:上海长方
型号:107J-1
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15JA-1上海长方测量显微镜
品牌:上海长方
型号:15JA-1
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IMC-1上海长方影像工具显微镜
品牌:上海长方
型号:IMC-1
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JGX-2EA上海长方大型数显工具显微镜
品牌:上海长方
型号:JGX-2EA
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日本NEOARK 小型磁畴观察显微镜
品牌:日本NEOARK
型号:HL-30
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半导体/FPD检查显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: MX61A/MX51
- 产地:日本
产品简介半导体/FPD检查显微镜MX61A是一款专门设计的半导体显微镜,可操作人员以正确的人体工程学姿势进行操作,有利于操作人员在长时间的工作中顺利进行检测。采用了新颖的光学系统(UIS2),特别增强了明视场、暗视场的性能,从而提高了辨别和确认缺陷的能力。MX61L / MX61, 300 mm/200 mm半导体检查显微镜通过各种观察方法 - 明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法,保证了卓越的图像分辨率和鲜明度。MX51工业检查显微镜是一款高性价比的显微镜,适用于各种电
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半导体/FPD检查显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: MX61A/MX51
- 产地:日本
产品简介半导体/FPD检查显微镜MX61A是一款专门设计的半导体显微镜,可操作人员以正确的人体工程学姿势进行操作,有利于操作人员在长时间的工作中顺利进行检测。采用了新颖的光学系统(UIS2),特别增强了明视场、暗视场的性能,从而提高了辨别和确认缺陷的能力。MX61L / MX61, 300 mm/200 mm半导体检查显微镜通过各种观察方法 - 明视场法、暗视场法、微分干涉法(DIC)、荧光法、红外线法和深紫外线法,保证了卓越的图像分辨率和鲜明度。MX51工业检查显微镜是一款高性价比的显微镜,适用于各种电
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奥林巴斯 测量显微镜 STM7
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: STM7
- 产地:日本
奥林巴斯 测量显微镜 STM7奥林巴斯株式会社已成为日本乃至世界精密、光学技术的代表企业之一,事业领域包括YL、生命科学、影像和产业机械。
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STM7奥林巴斯测量显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: STM7
- 产地:日本
通过整合光学显微镜和先进的测量能力实现精确测量多年的显微镜开发经验成就了优异的观察性能STM7奥林巴斯测量显微镜系列采用了当前zuixianjin光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此,观察到的图像具有高分辨率和高对比度,此外,像差也被完全消除,以确保实现对微小细节的高精度测量。明场图像暗场图像微分干涉图像偏光图像花岗岩精雕细琢而成的载物台基座增强了测量的可靠性STM7-LFFEM分析为了进一步保证测量精度,STM7测量显微镜系列采用了一个配备花岗岩基座的高度耐用和防振动的镜架。由于花岗岩的
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LEXT OLS4500纳米检测显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: LEXT OLS4500
- 产地:日本
LEXT OLS4500纳米检测显微镜为您带来zuixin的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。(电动物镜转换器切换倍率和观察方法)有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜,并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法,不会丢失观察对象。此外,该款显微镜可以进行纳米级观测。涵盖了低倍到高倍观察,并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此,先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法,可以容易的发现观察对象。此外,对于光学显微镜难
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LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: LEXT OLS5000
- 产地:日本
LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜配备的两套光学系统(彩色成像光学系统和激光共焦光学系统)让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜有4大关键价值:捕捉任意表面形状。快速获得可靠数据。使用简单 - 只需放置样品并按一下按钮即可。测量具有挑战性的样品。价值1:捕捉任意表面形状。 OLS5000显微镜的先进技术使其能够进行高分辨率的3D样品测量。价值2、快速获得可靠数据该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度,从而缩短您的扫描时间,简化
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OLS5100 3D测量激光显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: OLS5100
- 产地:日本
奥林巴斯新一代3D测量激光显微镜LEXT™ OLS5100。凭借可保证准确度和重复性的智能功能,LEXT™ OLS5100为用户提供用于质量保证和工艺控制的可靠数据的同时,让材料科学实验的流程更快、更高效。 智能工作流程,提升检测效率OLS5100激光显微镜专为失效分析和材料工程研究而生,它将卓越的测量精度和光学性能与智能工具相结合,使显微镜易于使用。在亚微米级精确测量形状和表面粗糙度方面,可以快速有效地利用可信任的数据,简化操作员的工作流程。测量精度 可靠稳定物镜是显微镜最重要的光学部件,利用
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OLYMPUS STM6-LM奥林巴斯电动升降 Z轴自动 工具显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: STM6-LM
- 产地:日本
OLYMPUS STM6-LM奥林巴斯电动升降 Z轴自动 工具显微镜 产品信息 品牌:OLYMPUS 型号:STM6-LM
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奥林巴斯 半导体/FPD检测显微镜 MX63/MX63L
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: MX63/MX63L
- 产地:日本
让您的大尺寸样品检测流程更加顺畅 MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸zuida300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件,获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒适性。在与奥林巴斯Stream图像分析软件结合使用情况下,可以简化从观察到报告生成的整体工作流。
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奥林巴斯 测量显微镜 STM7
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: STM7
- 产地:日本
STM7显微镜具有优良的多用途性,能够以亚微米精度实现对零部件和电气组件的高性能三轴测量。无论待测样品是大的还是小的,测量内容是简单的还是复杂的,测量人员是新手还是专家,奥林巴斯STM7系列就是能满足您需求、为您量身打造的测量显微镜产品。
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奥林巴斯 半导体与平板显示器检测显微镜 AL120
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: AL120
- 产地:日本
AL120晶圆搬送机可对应200mm以下晶圆尺寸的硅、化合物晶圆,可以安全GX搬送薄片晶圆,非常适合于前道到后道工程的晶圆检查。
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MX61L半导体检查显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: MX61L
- 产地:日本
能对应300 mm晶圆和17英寸FPD玻璃基板的电动型号(反射透射兼用)
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MX51半导体检查显微镜
- 品牌:日本奥林巴斯
- 型号: MX51
- 产地:日本
能对应150 mm晶圆/FPD玻璃基板的手动操作型号(反射透射兼用) 对应从明视场观察到荧光观察的多种观察方法。高度的扩展性能可以对应不同的样品,性价比优异。
- 工具显微镜/测量显微镜
- 工具显微镜/测量显微镜,工具显微镜/测量显微镜